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本發明公開了一種基于高深寬比納米陣列探測微振動的方法，屬于微振檢測領域。該方法是：激光器經過光束整形后，從側面入射到高深寬比納米陣列，在另一側形成明暗相間的衍射條紋；當高深寬比柱陣列感受到外界振動時，會發生同步搖晃振動，導致衍射條紋隨之發生...
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