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本發(fā)明公開了一種干涉圓跡SAR高程估計(jì)方法，包括：步驟1，粗估計(jì)出場景DEM；步驟2，在粗估計(jì)出的場景DEM的基礎(chǔ)上，對(duì)InSAR平臺(tái)主、副天線分別獨(dú)立進(jìn)行BP成像，其中采用分子孔徑的方式對(duì)主副天線獲取的圓跡SAR數(shù)據(jù)進(jìn)行BP成像，每n度為...該專利屬于中國科學(xué)院電子學(xué)研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國科學(xué)院電子學(xué)研究所授權(quán)不得商用。