一種用于微波模塊的連接測試裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術涉及一種用于微波模塊的連接測試裝置，包括連接器金屬測試圍框，于連接器金屬測試圍框內對稱裝置液晶聚合物介質，位于連接器金屬測試圍框的兩端通過緊固件對稱連接金屬測試法蘭，各金屬測試法蘭通過緊固件連接測試接頭。本實用新型專利技術結構簡單、安裝簡單方便，不僅實現微波信號小駐波、低損耗的垂直可靠互連，還能實現小型化微波模塊的3D低頻信號、直流供電的可靠互連，有效的實現了微波信號的垂直可靠互連，以及微波模塊的低成本及小型化。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種用于微波模塊的連接測試裝置，其特征在于：包括連接器金屬測試圍框（5），于所述連接器金屬測試圍框（5）內對稱裝置液晶聚合物介質（6），位于所述連接器金屬測試圍框（5）的兩端通過緊固件（2）對稱連接金屬測試法蘭（4)，各金屬測試法蘭（4）通過緊固件(2)連接測試接頭（1）。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：薛國鋒，徐學林，
申請(專利權)人：無錫華測電子系統有限公司，
類型：實用新型
國別省市：