一種對數據進行查錯的方法和裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開一種對數據進行查錯的方法和裝置。該方法可包括：對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值；對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。本發明專利技術還提出了對應的裝置。本發明專利技術提出的對數據進行查錯的方法和裝置，利用檢驗值中出錯位的位數判斷輸入數據的出錯情況，并進行糾錯，相比現有的查找ECC糾錯表更節省電路面積。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及到數據校驗
，特別涉及到一種對數據進行查錯的方法和裝置。
技術介紹
ECC(Error Correcting Code,錯誤檢查和糾正)是一種實現數據錯誤檢查和糾正的技術，廣泛使用于數據傳輸。目前常用的糾錯碼查錯或糾錯方法是，根據移動產業處理器接口提供的糾錯解碼表(如表I所示)，采用查找解碼表的方法完成糾錯碼的查錯和糾錯，其過程如附圖說明圖1所示:表I糾錯解碼表權利要求1.一種對數據進行查錯的方法，其特征在于，包括: 對接收到的數據進行錯誤檢查和糾正ECC檢驗，得到檢驗值； 對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數； 根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據計數值判斷接收數據的出錯情況包括: 當計數值為O時，判定所述24位數據正確； 當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現I位錯誤； 當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。4.如權利要求3所述的方 法，其特征在于，在執行所述判定24位數據出現I位錯誤之后,還包括: 對所述24位數據進行I位糾錯。5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對24位數據進行I位糾錯包括: 當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變； 當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。6.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對24位數據進行I位糾錯具體包括: 通過與運算定位所述24位數據的出錯位置； 對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據。7.—種對數據進行查錯的裝置，其特征在于，包括: 檢驗模塊，用于對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值； 計數模塊，用于對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數； 判斷模塊，用于根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。8.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。9.如權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述判斷模塊包括: 第一判定單元，用于當計數值為O時，判定所述24位數據正確； 第二判定單元，用于當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現I位錯誤； 第三判定單元，用于當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于，還包括: 糾錯模塊，用于對所述24位數據進行I位糾錯。11.如權利要求10所述的裝置，其特征在于，所述糾錯模塊包括: 第一糾錯單元，用于當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變； 第二糾錯單元，用于當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。12.如權利要求11所述的裝置，其特征在于，所述第一糾錯單元包括: 第一定位子單元，用于通過與運算定位所述24位數據的前20位的出錯位置；第一校正子單元，用于對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據；所述第二糾錯單元包括:第二定位子單元，用于通過與運算定位所述24位數據的后4位的出錯位置；第二校正子單元，用于對所述出錯位 置的數據進行求反運算，得到正確的數據。全文摘要本專利技術公開一種對數據進行查錯的方法和裝置。該方法可包括對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值；對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。本專利技術還提出了對應的裝置。本專利技術提出的對數據進行查錯的方法和裝置，利用檢驗值中出錯位的位數判斷輸入數據的出錯情況，并進行糾錯，相比現有的查找ECC糾錯表更節省電路面積。文檔編號G06F11/10GK103197984SQ201210006428公開日2013年7月10日 申請日期2012年1月10日 優先權日2012年1月10日專利技術者鄭觀東 申請人:炬力集成電路設計有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種對數據進行查錯的方法，其特征在于，包括：對接收到的數據進行錯誤檢查和糾正ECC檢驗，得到檢驗值；對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭觀東，
申請(專利權)人：炬力集成電路設計有限公司，
類型：發明
國別省市：