一種回轉體轉動時的角位移監(jiān)測控制方法技術

一種回轉體轉動時的角位移監(jiān)測控制方法，回轉體(4)上分別粘貼磁柵刻度條(3)、控制磁條(2)，磁柵刻度條分別標記長刻度線、短刻度線，長刻度傳感器(1)監(jiān)測長刻度線，短刻度傳感器(6)監(jiān)測短刻度線，磁條傳感器(5)監(jiān)測控制磁條，反饋信號線與中央處理器(7)聯接后再與監(jiān)測屏(8)聯接，監(jiān)測屏即時顯示回轉體轉動前的角度和分度以及轉動后的角度和分度，回轉體轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏上顯示，而回轉體轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏上顯示，磁條傳感器通過中央處理器控制回轉體的轉動角位移量，并將轉動角位移量進行顯示，控制方法新穎獨特，保證了回轉體的轉動角位移量。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術屬于角位移監(jiān)測
，尤其是。
技術介紹
有些大型回轉體在其轉動時的角位移控制要求很高，比如天文望遠鏡的角位移轉動角度要求在1°區(qū)間細分到“分”，這就需要對大型回轉體實施角位移的監(jiān)測和控制，雖然對大型回轉體的角位移監(jiān)測和控制方式很多，但或多或少總會存在這樣或那樣的問題。
技術實現思路
為實時監(jiān)測和控制回轉體的角位移狀況，本專利技術提供了，該方法可以實時監(jiān)測和控制回轉體的角位移量，具有監(jiān)測控制方法新穎獨特之特點。為實現上述專利技術目的，本專利技術采用如下技術方案: ，在回轉體的外徑端面分別粘貼有一圈磁柵刻度條以及控制磁條，磁柵刻度條不與控制磁條相接觸，磁柵刻度條按360°角度劃分且每1°線處均標記有長刻度線，每1°區(qū)間內按百進制分度劃分且每五分線處均標記有短刻度線，本專利技術的特征是: 對應圈磁柵刻度條處分別配置有用于所述長刻度線監(jiān)測的長刻度傳感器以及用于所述短刻度線監(jiān)測的短刻度傳感器，在短刻度傳感器處配置有用于回轉體轉動控制的磁條傳感器，磁條傳感器對應于控制磁條，分別將長刻度傳感器、短刻度傳感器以及磁條傳感器的反饋信號線聯接在中央處理器的輸入端，中央處理器的輸出端與監(jiān)測屏聯接，監(jiān)測屏上能夠分別即時顯示回轉體轉動前的所述角度以及所述分度，監(jiān)測屏上還能夠分別即時顯示回轉體轉動后的所述角度以及所述分度，回轉體轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏上顯示，而回轉體轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏上顯示，磁條傳感器通過中央處理器控制回轉體的轉動角位移量，并將所述轉動角位移量通過監(jiān)測屏進行顯示。由于采用如上所述技術方案，本專利技術產生如下積極效果: 1、本專利技術可以實時監(jiān)測和控制回轉體的角位移量，具有監(jiān)測控制方法新穎獨特之特點。2、磁條傳感器與長刻度傳感器、短刻度傳感器具有反饋信號互補作用，為實現回轉體的精確角位移提供了監(jiān)測控制依據。附圖說明圖1是本專利技術的角位移監(jiān)測控制方法示意簡圖。圖1中:1-長刻度傳感器；2_控制磁條；3_磁柵刻度條；4-回轉體；5_磁條傳感器；6_短刻度傳感器；7_中央處理器；8_監(jiān)測屏。具體實施例方式本專利技術是，可以實時監(jiān)測和控制回轉體的角位移量，具有監(jiān)測控制方法新穎獨特之特點。本文所述回轉體可以具體到天文望遠鏡，或是大型轉臺軸承，或是精密機床的分畔舟坐/又JUL寸O結合圖1，在回轉體4的外徑端面分別粘貼有一圈磁柵刻度條3以及控制磁條2，磁柵刻度條3不與控制磁條2相接觸，磁柵刻度條3按360°角度劃分且每1°線處均標記有長刻度線，每1°區(qū)間內按百進制分度劃分且每五分線處均標記有短刻度線，同時磁柵刻度條3和控制磁條2均具有磁性。本專利技術的特征是: 對應圈磁柵刻度條3處分別配置有用于所述長刻度線監(jiān)測的長刻度傳感器I以及用于所述短刻度線監(jiān)測的短刻度傳感器6，長刻度傳感器I與短刻度傳感器6具有反饋信號互補作用，長刻度傳感器I和短刻度傳感器6距回轉體4的間距可以根據實際情況隨時進行調整并固定，在短刻度傳感器6處配置有用于回轉體4轉動控制的磁條傳感器5，磁條傳感器5對應于控制磁條。分別將長刻度傳感器1、短刻度傳感器6以及磁條傳感器5的反饋信號線聯接在中央處理器7的輸入端，中央處理器7的輸出端與監(jiān)測屏8聯接，監(jiān)測屏8上能夠分別即時顯示回轉體4轉動前的所述角度以及所述分度，監(jiān)測屏8上還能夠分別即時顯示回轉體4轉動后的所述角度以及所述分度，回轉體4轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏8上顯示，而回轉體4轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏8上顯示，磁條傳感器5通過中央處理器7控制回轉體4的轉動角位移量，并將所述轉動角位移量通過監(jiān)測屏8進行顯示，保證了回轉體4的轉動角位移量。中央處理器7的程序可以根據本專利技術的監(jiān)測控制方法而設定，這對本領域普通技術人員而目并不是一件難事。所述轉動角位移量是根據回轉體4的要求而設定的，因此顯示屏8上所顯示的所述轉動角位移量是否準確，可以通過所述角度之差以及所述分度之差來進行判斷，從這一點來說，磁條傳感器5與長刻度傳感器1、短刻度傳感器6也是具有反饋信號互補作用的，為實現回轉體4的精確角位移提供了監(jiān)測控制依據。權利要求1.，在回轉體(4)的外徑端面分別粘貼有一圈磁柵刻度條(3)以及控制磁條(2)，磁柵刻度條(3)不與控制磁條相接觸，磁柵刻度條(3)按360°角度劃分且每1°線處均標記有長刻度線，每1°區(qū)間內按百進制分度劃分且每五分線處均標記有短刻度線，其特征是:對應圈磁柵刻度條(3)處分別配置有用于所述長刻度線監(jiān)測的長刻度傳感器(I)以及用于所述短刻度線監(jiān)測的短刻度傳感器￠)，在短刻度傳感器(6)處配置有用于回轉體(4)轉動控制的磁條傳感器(5)，磁條傳感器(5)對應于控制磁條(2)，分別將長刻度傳感器(I)、短刻度傳感器￠)以及磁條傳感器(5)的反饋信號線聯接在中央處理器(7)的輸入端，中央處理器(7)的輸出端與監(jiān)測屏(8)聯接，監(jiān)測屏(8)上能夠分別即時顯示回轉體(4)轉動前的所述角度以及所述分度，監(jiān)測屏(8)上還能夠分別即時顯示回轉體(4)轉動后的所述角度以及所述分度，回轉體(4)轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏(8)上顯示，而回轉體(4)轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏(4)上顯示，磁條傳感器(5)通過中央處理器(7)控制回轉體(4)的轉動 角位移量，并將所述轉動角位移量通過監(jiān)測屏(8)進行顯示。全文摘要，回轉體(4)上分別粘貼磁柵刻度條(3)、控制磁條(2)，磁柵刻度條分別標記長刻度線、短刻度線，長刻度傳感器(1)監(jiān)測長刻度線，短刻度傳感器(6)監(jiān)測短刻度線，磁條傳感器(5)監(jiān)測控制磁條，反饋信號線與中央處理器(7)聯接后再與監(jiān)測屏(8)聯接，監(jiān)測屏即時顯示回轉體轉動前的角度和分度以及轉動后的角度和分度，回轉體轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏上顯示，而回轉體轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏上顯示，磁條傳感器通過中央處理器控制回轉體的轉動角位移量，并將轉動角位移量進行顯示，控制方法新穎獨特，保證了回轉體的轉動角位移量。文檔編號G05D3/12GK103197687SQ20131007967公開日2013年7月10日 申請日期2013年3月13日 優(yōu)先權日2013年3月13日專利技術者范雨晴, 李國斌, 姜韶峰, 馬瑩 申請人:洛陽軸研科技股份有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種回轉體轉動時的角位移監(jiān)測控制方法，在回轉體(4)的外徑端面分別粘貼有一圈磁柵刻度條(3)以及控制磁條(2)，磁柵刻度條(3)不與控制磁條相接觸，磁柵刻度條(3)按360°角度劃分且每1°線處均標記有長刻度線，每1°區(qū)間內按百進制分度劃分且每五分線處均標記有短刻度線，其特征是：對應圈磁柵刻度條(3)處分別配置有用于所述長刻度線監(jiān)測的長刻度傳感器(1)以及用于所述短刻度線監(jiān)測的短刻度傳感器(6)，在短刻度傳感器(6)處配置有用于回轉體(4)轉動控制的磁條傳感器(5)，磁條傳感器(5)對應于控制磁條(2)，分別將長刻度傳感器(1)、短刻度傳感器(6)以及磁條傳感器(5)的反饋信號線聯接在中央處理器(7)的輸入端，中央處理器(7)的輸出端與監(jiān)測屏(8)聯接，監(jiān)測屏(8)上能夠分別即時顯示回轉體(4)轉動前的所述角度以及所述分度，監(jiān)測屏(8)上還能夠分別即時顯示回轉體(4)轉動后的所述角度以及所述分度，回轉體(4)轉動前的所述角度與轉動后的所述角度之差能在監(jiān)測屏(8)上顯示，而回轉體(4)轉動前的所述分度與轉動后的所述分度之差也能在監(jiān)測屏(4)上顯示，磁條傳感器(5)通過中央處理器(7)控制回轉體(4)的轉動角位移量，并將所述轉動角位移量通過監(jiān)測屏(8)進行顯示。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：范雨晴，李國斌，姜韶峰，馬瑩，
申請(專利權)人：洛陽軸研科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：