一種LED性能測試箱制造技術

本實用新型專利技術公開了一種LED性能測試箱，包括箱體和取光裝置，還包括第一電機、第二電機、轉軸、光纖和連接件，箱體上設有通孔，轉軸和光纖穿過通孔，取光裝置設置在箱體內部，設置在箱體外部的第一電機驅動轉軸轉動，連接件固定在轉軸處于箱體內的一端，第二電機固定在連接件上，第二電機驅動取光裝置靠近或遠離轉軸，光纖的第一端與取光裝置連接、且第二端在箱體外。本實用新型專利技術的LED性能測試箱結構簡單、操作簡便、可以在線檢測LED性能參數。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及LED測試領域，具體涉及一種LED性能測試箱。
技術介紹
目前通行的LED可靠性試驗方法是:在同型號、同批次的LED產品中，抽取一定數量的樣品進行試驗，在試驗前以及試驗過程中測量其性能參數，根據相應的壽命算法推算出該型號、該批次的LED壽命。由于LED的理論壽命長達數萬小時，因此需要采用加強應力的強化試驗方法來加速整個試驗過程。為了提高效率及優化試驗結果，通行做法是同時對多個LED樣品進行可靠性試驗。現有LED可靠性試驗系統中通常采樣一個托盤，在該托盤上固定多個LED樣品，再將整個托盤放置在強化試驗箱內，在試驗過程中當需要測量LED樣品的性能參數時，就將托盤上的LED樣品依次拆下，逐個放置于積分球內進行測量，測量完畢后再將LED樣品重新安裝到托盤上，放回強化試驗箱內繼續后續試驗。其存在的問題是:1、在整個試驗過程中，需要反復安裝、拆卸LED樣品，增加了大量的人力和時間成本；2、并且在安裝、拆卸過程中存在造成試驗樣品性能改變的不穩定因素而影響最終測試結果。
技術實現思路
為了解決現有技術問題，本技術提供了一種結構簡單并且性能可靠的LED測試箱。—種LED性能測試箱,包括箱體和取光裝置,還包括第一電機、第二電機、轉軸、光纖和連接件，所述箱體上設有通孔，所述轉軸和光纖穿過所述通孔，所述取光裝置設置在所述箱體內部，設置在所述箱體外部的所述第一電機驅動所述轉軸轉動，所述連接件固定在所述轉軸處于所述箱體內的一端，所述第二電機固定在所述連接件上，所述第二電機驅動所述取光裝置靠近或遠離所述轉軸，所述光纖的第一端與所述取光裝置連接、且第二端在所述箱體外。在更優的方案中，所述轉軸具有軸向的轉軸通孔，所述光纖穿過所述轉軸通孔。在更優的方案中，所述通孔處設有隔離箱體內與箱體外的密封件。在更優的方案中，還包括用于反饋所述第一電機轉動角度的第一旋轉編碼器和用于控制所述第一電機旋轉的第一控制器，所述第一旋轉編碼器的輸出信號端與所述第一控制器電連接。在更優的方案中，還包括用于反饋所述第二電機轉動角度的第二旋轉編碼器和用于控制所述第二電機旋轉的第二控制器，所述第二旋轉編碼器的輸出信號端與所述第二控制器電連接。在更優的方案中，還包括測光儀，所述光纖的第二端與所述測光儀連接。在更優的方案中，還包括LED固定盤，所述LED固定盤具有至少兩個分布有LED固定位的同心圓周，所述圓周的圓心在所述轉軸所處的直線上，以使所述取光裝置轉動時對準各個LED固定位上的LED。在更優的方案中，所述取光裝置可以靠近或遠離所述LED固定盤。本技術的有益效果是:采用較少的取光裝置即可以對多個LED樣品的光進行采集，使得整個LED性能測試箱的結構較為簡單，同時，當需要更換LED固定位之間的間隔不同的LED固定盤時，只需要調整取光裝置運動而對準相應的LED樣品，而不需要其他過多的操作，因而操作較為簡單，對多種LED固定盤適用性好，電機通過轉軸及連接件驅動取光裝置旋轉的情況下，還可以提高整個LED性能測試箱的密封性能；同時可以對多個LED樣品性能參數分時在線檢測，檢測過程中無需反復安裝、拆卸LED試驗樣品，并且不中斷施加于LED試驗樣品的全部應力條件，從而避免因反復安裝、拆卸LED試驗樣品以及應力條件發生改變而引入的測試誤差。附圖說明圖1是本技術一種實施例的LED性能測試箱的局部剖視示意圖；圖2是圖1的局部放大圖；圖3是圖1的LED固定盤的立體示意圖。具體實施方式以下將結合附圖，對本技術的具體實施例作進一步說明。如圖1和2所示，一種實施例的LED性能測試箱，包括箱體1、第一電機11、第二電機3、取光裝置13、轉軸16、連接件17和光纖14，箱體I上設有連通箱體外和箱體的內腔19的通孔12，轉軸16和光纖14穿過通孔12，取光裝置13和第二電機3設置在箱體I的內腔19，第一電機11設置在箱體I的外部，第一電機11驅動轉軸16轉動，伸入內腔19內的轉軸16的一端與連接件17固定，從而第一電機11可以驅動連接件17作圓周運動，第二電機3固定在連接件17上，第二電機3驅動取光裝置13靠近或遠離轉軸16，光纖14的第一端與取光裝置13連接，第二端在箱體I的外部，與測光儀15連接。如圖3所示，內腔19內設有LED固定盤2，固定盤2上存在至少兩個同心的圓周，且圓周的圓心在轉軸16所處的直線上，每個圓周上分布多個LED固定位,如:第一圓周21分布著多個LED固定位211，第二圓周22分布著多個LED固定位221，第一電機11在第一控制器的控制下驅動轉軸16旋轉(如虛線箭頭b方向所示)，進而通過連接件17和第二電機2帶動取光裝置13在第一圓周21上運動，這樣取光裝置13可以逐一對準第一圓周21上的每個LED固定位211，以接收LED固定位211上的LED發出的光(例如取光裝置13的取光透鏡的幾何中心對準LED樣品)；當需要采集第二圓周22上的LED固定位221上的LED發出的光時，第二驅動電機3驅動取光裝置13朝轉軸16運動直至第二圓周22上方,之后，第二驅動電機3停止驅動，第一電機11開始驅動取光裝置13在第二圓周22上方運動，這樣取光裝置13可以逐一對準第二圓周22上的每個LED固定位221，以接收LED固定位221上的LED發出的光；當第二電機3驅動取光裝置沿連接件17轉動的半徑(即第一圓周21和第二圓周22的半徑)所處的直線方向上運動(如虛線箭頭a所示)，相應的結構和控制方法會更為簡單。第一電機11可以通過傳動帶112帶動轉軸16轉動,轉軸16也可以直接與第一電機11的軸固定連接。LED固定盤2可以采用鋁基板，LED可以焊接在相應額LED固定位上。這樣，采用較少的取光裝置13 (比如一個)即可以對多個LED樣品的光進行采集，使得整個LED性能測試箱的結構較為簡單，同時，當需要更換LED固定位211之間的間隔(和/或LED固定位221之間的間隔，和/或第一圓周21與第二圓周22間的間隔)不同的LED固定盤2時，只需要調整取光裝置13運動而對準相應的LED樣品，而不需要其他過多的操作，因而操作較為簡單，對多種LED固定盤適用性好。通孔12處設有隔離內腔19與箱體的外部的密封件18，密封件18可以設置在靠近內腔19的通孔12 —端，在靠近箱體I外部的通孔12 —端也可以設置密封件18，位于箱體I壁中間的通孔12部位也可以設置密封件18。因此只需要采用較小直徑的通孔12，即可以驅動取光裝置13大范圍地旋轉，以采集多個LED樣品的光，從而可以采用較小的密封件18以實現箱體I的內腔19與外部的隔離，否則，如果采用設置在箱體I外的第一電機11帶動取光裝置13作直線運動，為了檢測較多的LED樣品，則需要在箱體I上設置相應較長的開口 12 (即使不采用密封件18，通孔與箱體外的連通程度更小)，由于LED性能測試箱的內腔19通常會采用高溫、低溫、高濕的測試環境，轉軸16的移動使得密封件18很難與內腔19的壁形成緊密的密封效果，密封開口 12極為困難。另外，轉軸16可以具有沿轉軸方向的轉軸通孔161，光纖14穿過轉軸通孔161，一端伸進內腔19與取光裝置13連接，另一端穿出箱體I與測光儀15連接，這樣可以盡量避免轉軸16的轉動而卷繞光纖14。LED性能測試本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種LED性能測試箱，包括箱體和取光裝置，其特征是：還包括第一電機、第二電機、轉軸、光纖和連接件，所述箱體上設有通孔，所述轉軸和光纖穿過所述通孔，所述取光裝置設置在所述箱體內部，設置在所述箱體外部的所述第一電機驅動所述轉軸轉動，所述連接件固定在所述轉軸處于所述箱體內的一端，所述第二電機固定在所述連接件上，所述第二電機驅動所述取光裝置靠近或遠離所述轉軸，所述光纖的第一端與所述取光裝置連接、且第二端在所述箱體外。

【技術特征摘要】
1.一種LED性能測試箱,包括箱體和取光裝置,其特征是:還包括第一電機、第二電機、轉軸、光纖和連接件，所述箱體上設有通孔，所述轉軸和光纖穿過所述通孔，所述取光裝置設置在所述箱體內部，設置在所述箱體外部的所述第一電機驅動所述轉軸轉動，所述連接件固定在所述轉軸處于所述箱體內的一端，所述第二電機固定在所述連接件上，所述第二電機驅動所述取光裝置靠近或遠離所述轉軸，所述光纖的第一端與所述取光裝置連接、且第二端在所述箱體外。2.按權利要求1所述的LED性能測試箱，其特征是:所述轉軸具有軸向的轉軸通孔，所述光纖穿過所述轉軸通孔。3.按權利要求1所述的LED性能測試箱，其特征是:所述通孔處設有隔離箱體內與箱體外的密封件。4.按權利要求3所述的LED性能測試箱，其特征是:還包括用于反饋所述第一電機轉動角度的第一旋轉編碼器和...

【專利技術屬性】
技術研發人員：胡益民，劉巖，敬剛，張志甜，楊永剛，張超，朱惠忠，劉文斌，李永光，湯皎寧，曹廣忠，高文杰，袁文龍，梁榮，陸兆隆，
申請(專利權)人：深圳清華大學研究院，
類型：實用新型
國別省市：