一種靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置與其方法，其靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置包括靜電放電產(chǎn)生器與導(dǎo)電件。導(dǎo)電件鄰近于靜電放電產(chǎn)生器的輸出端并電連接于接地端。當(dāng)靜電放電產(chǎn)生器對(duì)導(dǎo)電件進(jìn)行空氣放電時(shí)，導(dǎo)電件會(huì)因?yàn)樗查g電流而產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)，此測(cè)試電磁場(chǎng)可以用來(lái)測(cè)試待測(cè)組件對(duì)靜電場(chǎng)強(qiáng)的防護(hù)能力。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)是有關(guān)于一種靜電放電測(cè)試裝置，且特別是有關(guān)于一種靜電場(chǎng)干擾(electrostatic field interference)測(cè)試裝置。
技術(shù)介紹
現(xiàn)在的電子裝置，例如行動(dòng)電話、筆記型計(jì)算機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、服務(wù)器等，都愈來(lái)愈精密，其電路集積度也愈來(lái)愈高。因此，電磁兼容性(Electromagnetic Compatibility,簡(jiǎn)稱EMC)的測(cè)試對(duì)產(chǎn)品穩(wěn)定性而言是相當(dāng)重要的工作。電磁兼容的目標(biāo)是在相同環(huán)境下，不同的設(shè)備在電磁現(xiàn)象下都能正常運(yùn)轉(zhuǎn)，而且不會(huì)產(chǎn)生令其它設(shè)備難以忍受的電磁干擾的能力。EMC包括電磁干擾(EMI, Electromagnetic Interference)和電磁耐受性(EMS,Electromagnetic Susceptibility)。EMI為電磁場(chǎng)伴隨著電壓、電流的作用而產(chǎn)生,EMS表示設(shè)備或電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中不受周遭電磁環(huán)境影響的能力。EMC測(cè)試中最重要的包括靜電放電防護(hù)能力，其測(cè)試方式是采用電子槍或靜電產(chǎn)生器做電磁兼容性測(cè)試。一般的靜電槍只擁有產(chǎn)生靜電的功能，供EMC (Electromagneticcompatibility)工程師做產(chǎn)品靜電問(wèn)題的除錯(cuò)工具(debug)。一般的除錯(cuò)測(cè)試流程中，我們會(huì)先針對(duì)螺絲孔的接地面做靜電測(cè)試，如圖1所示，其繪示電子裝置的靜電放電測(cè)試示意圖。筆記型計(jì)算機(jī)內(nèi)部的螺絲孔111、112是容易發(fā)生靜電放電的地方。在測(cè)試時(shí)，EMC工程師可以利用靜電槍對(duì)螺絲孔111、112處做靜電放電(electrostatic discharge,ESD)測(cè)試，然后偵測(cè)筆記型計(jì)算機(jī)是否產(chǎn)生問(wèn)題。由于靜電在板子內(nèi)流動(dòng)的速度非常快，所以只能由測(cè)試結(jié)果中，知悉有幾個(gè)測(cè)試點(diǎn)是有問(wèn)題的以及可能有問(wèn)題的區(qū)域在哪里，例如區(qū)域120。但是區(qū)域120中可能包括很多電子組件與繞線，在實(shí)際操作上很難準(zhǔn)確的判斷出是哪里出現(xiàn)問(wèn)題。只能盲目的測(cè)試以收斂問(wèn)題點(diǎn)，這樣耗費(fèi)相當(dāng)多的時(shí)間。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)提供一種靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，其靜電放電產(chǎn)生器可對(duì)導(dǎo)電件進(jìn)行空氣放電以產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)，此測(cè)試電磁場(chǎng)可以用來(lái)測(cè)試待測(cè)組件的電磁兼容性與靜電放電防護(hù)能力，藉此找尋會(huì)發(fā)生誤動(dòng)作的區(qū)域。本專利技術(shù)提出一種靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，包括靜電放電產(chǎn)生器與導(dǎo)電件。靜電放電產(chǎn)生器具有一輸出端，可以用來(lái)產(chǎn)生靜電放電。導(dǎo)電件由導(dǎo)體形成且電性連接至一接地端。導(dǎo)電件鄰近于輸出端并電性連接至接地端，用以在靜電放電產(chǎn)生器在對(duì)導(dǎo)電件進(jìn)行空氣放電時(shí)產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)。在本專利技術(shù)一實(shí)施例中，上述靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置更包括絕緣件，設(shè)置在待測(cè)組件與導(dǎo)電件之間，用來(lái)避免靜電放電損壞到待測(cè)組件。在本專利技術(shù)一實(shí)施例中，上述靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置更包括測(cè)試平臺(tái)與機(jī)器手臂，用以設(shè)置與移動(dòng)靜電放電產(chǎn)生器與導(dǎo)電件以進(jìn)行待測(cè)組件的測(cè)試。綜上所述，本專利技術(shù)利用靜電放電產(chǎn)生器與導(dǎo)電件在待測(cè)組件上方產(chǎn)生測(cè)試用的電磁場(chǎng)，其可仿真靜電場(chǎng)強(qiáng)對(duì)待測(cè)組件的影響。因此，本專利技術(shù)的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置可以用來(lái)分析待測(cè)組件的電磁兼容性以及快速找出誤動(dòng)作的區(qū)域。為讓本專利技術(shù)的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下。附圖說(shuō)明圖1為電子裝置的靜電放電測(cè)試示意圖。圖2A為本專利技術(shù)第一實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置示意圖。圖2B為本專利技術(shù)第一實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置的組件位置示意圖。圖3A為本專利技術(shù)第二實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置示意圖。圖3B為本專利技術(shù)第三實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置示意圖。圖4為本專利技術(shù)第四實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置示意圖。圖5為本專利技術(shù)第五實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試方法流程圖。其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下:111、112:螺絲孔120:區(qū)域200:靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置210:靜電放電產(chǎn)生器211:槍體212:輸出端220:導(dǎo)電件224:導(dǎo)線230:絕緣件231、232:測(cè)試區(qū)域240:待測(cè)組件GND:接地端300,301:靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置330:絕緣件350:調(diào)整臂400:靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置410:測(cè)試平臺(tái)420:機(jī)器手臂S510 S550:步驟具體實(shí)施例方式在下文中，將藉由圖式說(shuō)明本專利技術(shù)的實(shí)施例來(lái)詳細(xì)描述本專利技術(shù)，而圖式中的相同參考數(shù)字可用以表示類似的組件。(第一實(shí)施例)圖2A繪示本專利技術(shù)第一實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾(electrostatic fieldinterference)測(cè)試裝置不意圖。靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置200包括靜電放電產(chǎn)生器210、導(dǎo)電件220與絕緣件230，其中靜電放電產(chǎn)生器210具有輸出端212，可用來(lái)輸出高壓脈沖以產(chǎn)生靜電放電現(xiàn)象。靜電放電產(chǎn)生器210例如是靜電槍，其槍口為輸出端212，其槍體211可供使用者握持。導(dǎo)電件220由導(dǎo)體形成且經(jīng)由導(dǎo)線224電性連接至接地端GND，其例如是金屬平板、金屬板或金屬薄片(如鋁箔)，但本實(shí)施例不限制導(dǎo)電件220的結(jié)構(gòu)形狀或材質(zhì)。導(dǎo)電件220的位置鄰近于輸出端212，使靜電放電產(chǎn)生器210在產(chǎn)生瞬間高壓(靜電放電)時(shí),對(duì)導(dǎo)電件220進(jìn)行空氣放電以產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)。測(cè)試電磁場(chǎng)是因?yàn)樗查g放電的電流在導(dǎo)電件220上流動(dòng)所產(chǎn)生。此一測(cè)試電磁場(chǎng)可以用來(lái)模擬靜電放電發(fā)生時(shí)所產(chǎn)生的靜電場(chǎng)，以及測(cè)試待測(cè)組件240對(duì)靜電場(chǎng)強(qiáng)的防護(hù)能力。在測(cè)試時(shí)，使用者可以在待測(cè)組件240上方進(jìn)行空氣放電動(dòng)作以產(chǎn)生測(cè)試電磁場(chǎng)，然后經(jīng)由檢測(cè)待測(cè)組件240是否發(fā)生誤動(dòng)作來(lái)檢測(cè)待測(cè)組件240產(chǎn)生誤動(dòng)作的區(qū)域，以進(jìn)一步進(jìn)行靜電問(wèn)題的分析。絕緣件230例如是塑料墊，其設(shè)置在導(dǎo)電件220相對(duì)于輸出端212的另一側(cè)，也就是說(shuō)，絕緣件230會(huì)設(shè)置在導(dǎo)電件220與待測(cè)組件240之間，且其尺寸會(huì)大于導(dǎo)電件220的尺寸。絕緣件230可以防止靜電放電產(chǎn)生器210所產(chǎn)生的靜電流直接進(jìn)入待測(cè)組件240而造成損傷。在本實(shí)施例中，待測(cè)組件240例如為計(jì)算機(jī)主機(jī)板或服務(wù)器主機(jī)板，但本實(shí)施例不限制于此。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2B，其繪示本專利技術(shù)第一實(shí)施例的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置的組件位置示意圖。由圖2B可知，其導(dǎo)電件220位于靜電放電產(chǎn)生器210與絕緣件230之間，但并未與靜電放電產(chǎn)生器210或絕緣件230直接接觸。絕緣件230位于導(dǎo)電件220與待測(cè)組件240之間，其中導(dǎo)電件220與待測(cè)組件240之間的距離例如為1.5公分，但本實(shí)施例不限制于此。值得注意的是，靜電放電產(chǎn)生器210、導(dǎo)電件220與絕緣件230可以由各別獨(dú)立的組件實(shí)現(xiàn)，也可以是利用機(jī)械結(jié)構(gòu)將其整合在同一結(jié)構(gòu)上，例如將導(dǎo)電件220與絕緣件230連接至靜電放電產(chǎn)生器210的本體上。導(dǎo)電件220與絕緣件230可以利用可調(diào)整或可伸縮的機(jī)械結(jié)構(gòu)(例如調(diào)整臂)連接至靜電放電產(chǎn)生器210，以方便使用者調(diào)整與固定其位置。參照?qǐng)D2A,導(dǎo)電件220可以利用連接線，例如通用序列總線(UniversalSerialBus,簡(jiǎn)稱USB)連接線或高清晰度多媒體接口(High DefinitionMultimedia Interface,簡(jiǎn)稱HDMI)連接線來(lái)實(shí)現(xiàn)。以USB為例，USB連接線一端的USB接頭做為導(dǎo)電件220使用，另一端的USB接頭則連接至接地端GND。值得注意的是，導(dǎo)電件220的接地端GND可以與靜電放電產(chǎn)生器210共享，但本實(shí)施例不限制于此。在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，絕緣件230可以置放在待測(cè)組件240之上，以避免待測(cè)組件240受到靜電放電的損害本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，包括：一靜電放電產(chǎn)生器，具有一輸出端；以及一導(dǎo)電件，該導(dǎo)電件由導(dǎo)體形成且電連接至一接地端；其中該導(dǎo)電件鄰近于該輸出端，用以在該靜電放電產(chǎn)生器對(duì)該導(dǎo)電件進(jìn)行空氣放電時(shí)產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)。
【技術(shù)特征摘要】
2011.10.28 TW 1001393431.一種靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，包括: 一靜電放電產(chǎn)生器，具有一輸出端；以及 一導(dǎo)電件，該導(dǎo)電件由導(dǎo)體形成且電連接至一接地端； 其中該導(dǎo)電件鄰近于該輸出端，用以在該靜電放電產(chǎn)生器對(duì)該導(dǎo)電件進(jìn)行空氣放電時(shí)產(chǎn)生一測(cè)試電磁場(chǎng)。2.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，其中該靜電放電產(chǎn)生器為一靜電槍，其具有一槍體與該輸出端。3.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，更包括: 一導(dǎo)線，連接于該導(dǎo)電件與該接地端。4.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，更包括: 一調(diào)整臂，連接該導(dǎo)電件與該靜電放電產(chǎn)生器，用以調(diào)整并固定該導(dǎo)電件的位置。5.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，更包括: 一絕緣件，設(shè)置在該導(dǎo)電件相對(duì)于該輸出端的另一側(cè)，其中該絕緣件的尺寸大于該導(dǎo)電件的尺寸。6.按權(quán)利要求5所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，其中該絕緣件劃分為復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域。7.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，其中該導(dǎo)電件包括一金屬板。8.按權(quán)利要求1所述的靜電場(chǎng)干擾測(cè)試裝置，更包括: 一測(cè)試平臺(tái)，用以置放一待測(cè)組件；以及 一機(jī)器手臂，設(shè)置在該測(cè)試平臺(tái)上，用以連接該靜電放電產(chǎn)生器與該導(dǎo)電件；以及 一絕緣件，設(shè)置在該測(cè)試平臺(tái)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：鍾文超，鄭欽隆，魏嘉亨，熊岳鵬，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：緯創(chuàng)資通股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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