一種非晶、納米晶合金錠中夾雜物的檢測方法技術

本發(fā)明專利技術涉及一種非晶、納米晶合金錠中夾雜物的檢測方法。該方法包括：將合金液澆鑄到高20mm、Φ10mm模具中，澆鑄成合金錠；用砂輪機將合金錠的端面的氧化層去掉，然后依次用200、400、800、1000目水砂紙將合金錠的端面磨光；用拋光機將磨好的合金錠進行拋光；用倒置式顯微鏡觀察拋光后的合金錠，確定夾雜物類別；用帶有刻度的顯微鏡目鏡測量夾雜物的尺寸，并根據尺寸范圍計算單位面積內夾雜物的個數。本發(fā)明專利技術通過采用倒置式顯微鏡，使試樣觀察面水平至于顯微鏡上，彌補了試樣在制備過程中產生角度傾斜，并且成像視場寬廣，提高了非晶金屬夾雜物檢測的準確度。本發(fā)明專利技術還具有操作簡單，工藝成熟、適用范圍廣等優(yōu)點。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及非金屬夾雜物測量
，尤其涉及。
技術介紹
非晶帶材是由非晶合金液經過激冷形成的厚度在30 μ m以下的薄帶，因此在非晶母合金冶煉過程中，要準確檢測其夾雜物以便于精確控制非金屬夾雜物的含量。在冶煉過程中，少量爐渣、耐火材料及冶煉中反應產物可能進入合金液中，形成非金屬夾雜物。由于非晶帶材的厚度薄，鋼液中一旦形成夾雜物便會影響其物理性能，特別是降低其柔韌性，嚴重時，無法澆鑄成型。非晶、納米晶鋼錠中非金屬夾雜物含量雖然微小，但它對鋼的性能影響極大，所以必須對它進行檢測和研究。傳統的非金屬夾雜物的測量方法有兩種，一種是用毛玻璃投影法，一種是用顯微鏡目鏡直接觀察，這兩種檢測方法的缺點在于分析夾雜物類型和數量時操作十分繁瑣，需要與標準圖譜對照，由于視覺原因造成的誤差較大，測量準確度低。非晶、納米晶合金的冶煉純度要求較高，夾雜物顆粒較小，傳統的檢測鑄鋼中夾雜物的方法并不適用。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術的缺點，提供一種操作簡單，工藝成熟且測量準確度高的非晶、納米晶合金錠中非金屬夾雜物的檢測方法。為實現上述目的，本專利技術提供了。該方法包括:在冶煉過程完成后，將合金液澆鑄入模具中，澆鑄成合金錠；用砂輪機將合金錠的端面的氧化層去掉，然后將合金錠的端面磨光；用拋光機將磨好的合金錠進行拋光；用倒置式顯微鏡觀察拋光后的合金錠，確定夾雜物類別，用帶有刻度的顯微鏡目鏡測量夾雜物的尺寸，并根據尺寸范圍分類，計算單位面積內夾雜物的個數。優(yōu)選地,燒鑄模具尺寸為20_、Φ 10_。優(yōu)選地，合金錠端面磨光為依次用200、400、800、1000目水砂紙將合金錠的端面磨光。優(yōu)選地，所述拋光機將磨好的合金錠進行拋光，用于除去水砂紙細磨時所留下的細微磨痕，避免夾雜物的剝落、變形或拋光面的污染，以使觀測面干凈和夾雜物的形態(tài)不受影響。優(yōu)選地，所述拋光機將磨好的合金錠進行拋光采用金剛石拋光劑進行拋磨。優(yōu)選地，所述拋光機的轉速控制在1000 1400r/min,拋光時間控制在I 3min。優(yōu)選地，所述用帶有刻度的顯微鏡目鏡測量夾雜物的尺寸包括測量球形或環(huán)狀的夾雜物的直徑或測量多邊形夾雜物的最大尺寸。本專利技術通過采用倒置式顯微鏡，使試樣觀察面水平至于顯微鏡上，彌補了試樣在制備過程中產生角度傾斜，并且成像視場寬廣，提高了非晶金屬夾雜物檢測的準確度。本專利技術還具有操作簡單，工藝成熟、適用范圍廣等優(yōu)點。附圖說明圖1是非晶、納米晶合金錠中夾雜物的檢測的方法流程圖；圖2是非晶合金錠中的夾雜物示意圖；以及圖3是納米晶合金錠中的夾雜物示意圖。具體實施例方式下面通過附圖和實施例，對本專利技術的技術方案做進一步的詳細描述。圖1是根據本專利技術實施例的快速檢測非晶帶材磁性能的方法流程圖。在步驟101，在冶煉過程完成后，將非晶、納米晶合金液澆鑄到高20mm、Φ IOmm模具中，燒鑄成合金錠。在步驟102，根據步驟101中選取的測量樣品，用砂輪機將合金錠的端面的氧化層去掉，然后依次用200、400、800、1000目水砂紙將合金錠的端面磨光。在步驟103，將磨好的試樣在拋光機的拋光布上進行拋光，拋光時使用金剛石拋光劑進行拋磨，使磨面成為無劃痕的光滑鏡面。拋光操作目的在于去除細磨時所留下的細微磨痕，最主要是要避免夾雜物的剝落、變形或拋光表面被污染，以使觀察面盡可能干凈及夾雜物的形態(tài)不受影響，使磨面成為無劃痕的光滑鏡面。在一個專利技術實施例中，拋光機的轉速控制在1000 1400r/min,拋光時間控制在I 3min。在步驟104，利用倒置式金相顯微鏡無遺漏地觀察整個拋光面，在一個專利技術實施例中，非晶、納米晶鋼錠中的夾雜物有以下兩類:C類(硅酸鹽類)，一般為尺寸較大(直徑> 8 μ m)的單個呈黑色或深灰色球狀、或者淺灰色的多邊形夾雜物。D類(球狀氧化物類)，一般為尺寸較小(直徑< 8 μ m)的單個呈黑色或深灰色球狀或者環(huán)形夾雜物。在步驟105，利用帶有刻度的顯微鏡目前測量夾雜物的尺寸，然后根據尺寸范圍計算每100平方毫米夾雜物的個數。在一個專利技術實施例中，球形或環(huán)狀的夾雜物測量其直徑，多邊形的夾雜物測量其最大尺寸。具體例子說明如下:例1:將非晶合金在冶煉過程之后取樣澆注成20mm、Φ IOmm的鋼錠，用砂輪機將端面的氧化皮處理掉，然后依次用200、400、800、1000目水砂紙將端面磨光。將磨好的試樣在拋光機的拋光布上進行拋光，拋光時使用金剛石拋光劑進行拋磨，使磨面成為無劃痕的光滑鏡面。拋光機的轉速為1400r/min，拋光時間2分鐘。經過觀測，用倒置式顯微鏡對整個拋光面觀察，如圖2所示，整個觀測過程中檢測到2個夾雜物，尺寸在8 μ m以上的I個，尺寸8μπι以內的I個。測試結果為每100平方毫米2.55個夾雜物。例2:將納米晶合金在冶煉過程之后取樣澆注成20mm、Φ IOmm的鋼錠，用砂輪機將端面的氧化皮處理掉，然后依次用200、400、800、1000目水砂紙將端面磨光。將磨好的試樣在拋光機的拋光布上進行拋光，拋光時使用金剛石拋光劑進行拋磨，使磨面成為無劃痕的光滑鏡面；拋光機的轉速為1400r/min，拋光時間2分鐘。經過觀測，用倒置式顯微鏡對整個拋光面觀察，如圖3所示，整個觀測過程中檢測到2個夾雜物，尺寸在8 μ m以上的O個，尺寸8 μ m以內的2個。測試結果為每100平方毫米2.55個夾雜物。以上所述的具體實施方式，對本專利技術的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，所應理解的是，以上所述僅為本專利技術的具體實施方式而已，并不用于限定本專利技術的保護范圍，凡在本專利技術的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種非晶、納米晶合金錠中夾雜物的檢測方法，包括：在冶煉過程完成后，將合金液澆鑄入模具中，澆鑄成合金錠；用砂輪機將合金錠的端面的氧化層去掉，然后將合金錠的端面磨光；用拋光機將磨好的合金錠進行拋光；用倒置式顯微鏡觀察拋光后的合金錠，確定夾雜物類別；用帶有刻度的顯微鏡目鏡測量夾雜物的尺寸，并根據尺寸范圍計算每100平方毫米夾雜物的個數。

【技術特征摘要】
1.一種非晶、納米晶合金錠中夾雜物的檢測方法，包括: 在冶煉過程完成后，將合金液燒鑄入|吳具中，燒鑄成合金徒; 用砂輪機將合金錠的端面的氧化層去掉，然后將合金錠的端面磨光； 用拋光機將磨好的合金錠進行拋光； 用倒置式顯微鏡觀察拋光后的合金錠，確定夾雜物類別； 用帶有刻度的顯微鏡目鏡測量夾雜物的尺寸，并根據尺寸范圍計算每100平方毫米夾雜物的個數。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述澆鑄模具優(yōu)選尺寸為高20mm、ΦIOmm03.根據權利要求1所述的...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：李曉雨，任翠霞，王靜，
申請(專利權)人：青島云路新能源科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：