生成光模塊溫度查找表的方法及裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種生成光模塊溫度查找表的方法及裝置。該方法包括：調整測試光模塊輸出的光功率及消光比至預先設置的目標值，獲取測試光模塊在溫度點的測試溫度值、測試偏置電流設定寄存器值以及測試調制電流設定寄存器值；對獲取的電流值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間電流歸一化斜率參數；調整待應用光模塊輸出的光功率及消光比至預先設置的目標值，獲取該待應用光模塊在常溫環境下的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值以及調制電流設定寄存器值；結合預先獲取的電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的電流溫度查找表，并將生成的電流溫度查找表寫入該待應用光模塊。應用本發明專利技術，可以提高生成光模塊溫度查找表的效率。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及光通信技術，尤其涉及一種生成光模塊溫度查找表的方法及裝置。
技術介紹
目前的國內市場以及國際市場，高帶寬、高速率和多種業務融合的光纖通信方向已經開始應用；在眾多的解決方案中，光纖到戶(FTTH，FiberTo The Home)的出現被認為是寬帶接入的終極解決方案，國內市場已經大面積應用。光模塊作為光纖通信系統中FTTH的核心部件，光模塊整體性能的穩定直接與光纖通信系統的性能穩定相關，而光模塊發射端的光口性能，即發射的光信號質量，又是影響光纖通信系統性能穩定的重要因素。影響光模塊發射端的光口發射的光信號質量參數中，主要考慮的是眼圖質量，其中，影響眼圖質量的主要因素是平均光功率和消光比，平均光功率和消光比是由光模塊中的激光驅動芯片提供給激光器的偏置電流和調制電流大小決定的，偏置電流越大，平均光功率就越大；當平均光功率固定時，調制電流越大，消光比就越大；在此基礎上，由于激光器是具有溫度特性的器件，還需要考慮器件的溫度特性，對于固定的偏置電流和調制電流來說，當溫度降低時，光功率會變大，消光比會降低；當溫度升高時，光功率會變小，消光比會升高。光模塊在實際應用中，需要保持在工作溫度范圍內，例如，商業級應用的溫度范圍為(T70°C，工業級應用的溫度范圍為-4(T85°C。如果光模塊發射端的光口參數不穩定，例如，光眼圖參數波動較大，都可能導致收端無法識別，進而導致通信中斷。實際應用中，為了穩定光模塊發射端的光口參數，光模塊發射端一般米用閉環控制，通過在光模塊中引入光功率自動功率控制(APC, AutomaticPower Control)環路,用于調節偏置電流控制電路中的激光二極管以及背光二極管，APC環路為發射端的偏置電流控制電路引入一個負反饋量，通過與激光二極管靠近的背光二極管，耦合部分激光二極管所發出來的光功率，產生反饋的背光電流，從而使得APC環路根據該反饋電流與偏置電流，與設定的參考值相比較后，調整輸出至發光二極管的偏置電流，進而穩定平均光功率。理論上，背光二極管是沒有溫度特性的，即只要激光二極管的發光恒定，以及，激光二極管與背光二極管的耦合系數恒定，背光二極管提供給APC環路的反饋電流(偏置電流)是恒定的，但實際應用中，將激光二極管與背光二極管進行封裝的發端光器件，即光發射次模塊(TOSA, Transmitter Optical Subassembly),受溫度影響，當激光二極管發射恒定光功率，如果溫度變化，背光二極管輸出的偏置電流也會發生變化，而偏置電流的變化又會影響激光二極管發射的光功率。這樣，將導致APC環路在環境溫度變化時，光模塊發射的光功率無法穩定在設定值；而如果平均光功率發生變動，消光比也會隨之發生變化，同時，溫度的變化，也將影響對電流進行調制的效果。實際應用中，在APC環路中，需要根據光模塊發射端的溫度，對輸入激光二極管的調制電流進行控制，以使激光二極管發射功率恒定的光信號。因而，現有技術中，在光模塊的軟件中，通過定義一個光模塊溫度查找表，根據包含溫度傳感器的微控制單元(MCU，Micro Control Unit)的實測溫度來補償光模塊中的偏置電流(APCset)值及調制電流(MODset)值，即根據溫度變化調整APCset、MODset,從而補償光功率及消光比，使得光模塊輸出光信號的光功率及消光比穩定。其中，APCset、MODset分別對應一個獨立的光模塊溫度查找表，當MCU監測到溫度改變時，根據MCU監測到的當前溫度，在預先設置的光模塊溫度查找表中查找該當前溫度點對應的APCset、M0Dset值，并將查找到的值分別作為當前的APCset、M0Dset設定值，以控制激光二極管，從而穩定光模塊發端的光信號質量。現有生成光模塊溫度查找表的方法,針對每一光模塊,根據其工作溫度范圍，選取多個工作溫度點，在每一工作溫度點，記錄包含溫度傳感器的MCU監測得到的溫度，調節激光二極管的偏置電流以及調制電流，以使激光二極管發射的光信號的光功率及消光比同時滿足預先設置的數值，并將該工作溫度點對應的監測溫度，以及，該工作溫度點對應的偏置電流以及調制電流設定寄存器值寫入光模塊溫度查找表，根據同樣的方式，得到各工作溫度點對應的偏置電流以及調制電流設定寄存器值，并寫入光模塊溫度查找表。這樣，在該光模塊的后續工作中，根據MCU監測得到的溫度，查找光模塊溫度查找表，獲取相應的偏置電流以及調制電流設定寄存器值，作為激光二極管的控制參數，從而使激光二極管輸出的光功率及消光比恒定，提升光纖通信系統的穩定性。由上述可見，現有生成光模塊溫度查找表的方法，需要對每一光模塊進行工作溫度范圍內的測試，以用來確定后續工作中對應校正點的調制電流以及偏置電流設定值，通常采用高低溫箱或風槍來將光模塊的溫度調節至各工作溫度點，而在從升/降溫到光模塊溫度穩定，都是需要時間的，因而，這種常規生成光模塊溫度查找表的方法，需要針對每一光模塊，所需時間長、生成光模塊溫度查找表的效率低，占用的生產資源多，不利于生產線生廣效率的提聞。
技術實現思路
本專利技術的實施例提供了一種生成光模塊溫度查找表的方法，提高生成光模塊溫度查找表的效率。本專利技術的實施例還提供了 一種生成光模塊溫度查找表的裝置，提高生成光模塊溫度查找表的效率。根據本專利技術的一個方面，提供了一種生成光模塊溫度查找表的方法，包括:預先劃分環境溫度為多個溫度點，在每一溫度點，調整測試光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，獲取測試光模塊在溫度點的測試溫度值以及測試偏置電流設定寄存器值；調整測試光模塊輸出的消光比至預先設置的目標消光比，獲取測試光模塊在各溫度點的測試調制電流設定寄存器值；對獲取的測試偏置電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數；對獲取的測試調制電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間調制電流歸一化斜率參數；調整待應用光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，以及，輸出的消光比至預先設置的目標消光比，分別獲取該待應用光模塊在常溫環境下的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值以及調制電流設定寄存器值；根據獲取的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值，結合預先獲取的偏置電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的偏置電流溫度查找表；根據獲取的工作溫度值以及調制電流設定寄存器值，結合預先獲取的調制電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的調制電流溫度查找表，并將生成的偏置電流溫度查找表及調制電流溫度查找表寫入該待應用光模塊。其中，所述對獲取的測試偏置電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數包括:根據劃分的各溫度點，形成相應的溫度區間；獲取預先設置溫度點的測試偏置電流設定寄存器值；獲取每一溫度點區間對應的測試溫度值的差值；獲取每一溫度點區間對應的測試偏置電流設定寄存器值的差值；針對每一溫度點區間，將該溫度點區間的測試偏置電流設定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值，再與預先設置溫度點的測試偏置電流設定寄存器值的倒數相乘，得到該溫度區間偏置電流歸一化斜率參數。其中，獲取所述偏置電流歸一化斜率參數的公式為:本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種生成光模塊溫度查找表的方法，該方法包括：預先劃分環境溫度為多個溫度點，在每一溫度點，調整測試光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，獲取測試光模塊在溫度點的測試溫度值以及測試偏置電流設定寄存器值；調整測試光模塊輸出的消光比至預先設置的目標消光比，獲取測試光模塊在各溫度點的測試調制電流設定寄存器值；對獲取的測試偏置電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數；對獲取的測試調制電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間調制電流歸一化斜率參數；調整待應用光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，以及，輸出的消光比至預先設置的目標消光比，分別獲取該待應用光模塊在常溫環境下的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值以及調制電流設定寄存器值；根據獲取的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值，結合預先獲取的偏置電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的偏置電流溫度查找表；根據獲取的工作溫度值以及調制電流設定寄存器值，結合預先獲取的調制電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的調制電流溫度查找表，并將生成的偏置電流溫度查找表及調制電流溫度查找表寫入該待應用光模塊。...

【技術特征摘要】
1.一種生成光模塊溫度查找表的方法，該方法包括: 預先劃分環境溫度為多個溫度點，在每一溫度點，調整測試光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，獲取測試光模塊在溫度點的測試溫度值以及測試偏置電流設定寄存器值； 調整測試光模塊輸出的消光比至預先設置的目標消光比，獲取測試光模塊在各溫度點的測試調制電流設定寄存器值； 對獲取的測試偏置電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數；對獲取的測試調制電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間調制電流歸一化斜率參數； 調整待應用光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，以及，輸出的消光比至預先設置的目標消光比，分別獲取該待應用光模塊在常溫環境下的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值以及調制電流設定寄存器值； 根據獲取的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值，結合預先獲取的偏置電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的偏置電流溫度查找表；根據獲取的工作溫度值以及調制電流設定寄存器值，結合預先獲取的調制電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的調制電流溫度查找表，并將生成的偏置電流溫度查找表及調制電流溫度查找表寫入該待應用光模塊。2.如權利要求1所述的方法，其中，所述對獲取的測試偏置電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數包括: 根據劃分的各溫度點，形成相應的溫度區間； 獲取預先設置溫度點的測試偏置電流設定寄存器值； 獲取每一溫度點區間對應的測試溫度值的差值； 獲取每一溫度點區間對應的測試偏置電流設定寄存器值的差值； 針對每一溫度點區間，將該溫度點區間的測試偏置電流設定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值，再與預先設置溫度點的測試偏置電流設定寄存器值的倒數相乘，得到該溫度區間偏置電流歸一化斜率參數。3.如權利要求1所述的方法，其中，獲取所述偏置電流歸一化斜率參數的公式為:1-L ih,4.如權利要求1所述的方法，其中，所述對獲取的測試調制電流設定寄存器值進行歸一化處理，獲取各溫度點形成的溫度區間調制電流歸一化斜率參數包括: 根據劃分的各溫度點，形成相應的溫度區間；獲取預先設置溫度點的測試調制電流設定寄存器值； 獲取每一溫度點區間對應的測試溫度值的差值； 獲取每一溫度點區間對應的測試調制電流設定寄存器值的差值； 針對每一溫度點區間，將該溫度點區間的測試調制電流設定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值，再與預先設置溫度點的測試調制電流設定寄存器值的倒數相乘，得到該溫度區間調制電流歸一化斜率參數。5.如權利要求1所述的方法，其中，獲取所述調制電流歸一化斜率參數的公式為:6.如權利要求1至5任一項所述的方法，其中，獲取各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數以及調制電流歸一化斜率參數后，所述方法進一步包括: 構建溫度點與偏置電流歸一化斜率參數的映射關系，以及，構建溫度點與調制電流歸一化斜率參數的映射關系。7.如權利要求6所述的方法，其中，所述根據獲取的工作溫度值、偏置電流設定寄存器值，結合預先獲取的偏置電流歸一化斜率參數，生成該待應用光模塊的偏置電流溫度查找表包括: 查詢預先獲取的各溫度點形成的溫度區間偏置電流歸一化斜率參數，獲取該工作溫度值對應的偏置電流歸一化斜率值； 根據該斜率值以及偏置電流設定寄存器值，計算該溫度點區間內其它溫度點的偏置電流設定寄存器值； 根據該溫度點區間上下限溫度點對應的偏置電流設定寄存器值以及預先獲取的相鄰溫度點區間的偏置電流歸一化斜率參數，計算相鄰溫度點區間內各溫度點的偏置電流設定寄存器值，直至計算得到該待應用光模塊的各溫度區間的偏置電流設定寄存器值，生成偏置電流溫度查找表。8.—種生成光模塊溫度查找表的裝置，其特征在于，該裝置包括:測試偏置電流獲取模塊、測試調制電流獲取模塊、歸一化處理模塊、應用光模塊電流獲取模塊以及溫度查找表生成模塊，其中， 測試偏置電流獲取模塊，用于預先劃分環境溫度為多個溫度點，在每一溫度點，調整測試光模塊輸出的光功率至預先設置的目標光功率，獲取...

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳彪，
申請(專利權)人：青島海信寬帶多媒體技術有限公司，
類型：發明
國別省市：