三維測距儀制造技術

本發明專利技術公開了一種三維測距儀，包括外殼和支撐外殼的底盤，外殼可在底盤上同軸旋轉運動，底盤設有水平刻度盤，底盤底面中心設有對準器，外殼內置有處理器、測距模塊、輸入模塊、輸出模塊和水準裝置。處理器根據輸入模塊的指令將測距模塊的數據經過處理傳送至輸出模塊。測距模塊包括第一測距裝置、第二測距裝置和第三測距裝置。外殼內還置有第一射線發生器與第二射線發生器。本發明專利技術提供的三維測距儀可以獨立測量待測房建內頂板與墻體的平整度，操作簡單而測量精準，大大減輕了操作者的勞動強度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及光機電一體化領域，具體涉及一種工程測距裝置。
技術介紹
現在的檢查房建的測距儀一般是手握式測距儀，使用方法是以室內地面為基準，測其地面到頂板的垂直距離，或以一個墻面為基準，測其到另一個墻面的水平垂直距離。如果在先選取的基準面不在水平或鉛垂方向，上述所得數據也就存在明顯的誤差。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種三維測距儀，解決上述現有技術中的一個或者多個。本專利技術公開了一種三維測距儀，包括處理器、測距模塊、輸入模塊、輸出模塊和水準裝置，處理器連接輸入模塊、輸出模塊和測距模塊，處理器根據輸入模塊的指令將測距模塊的數據經處理后傳送至輸出模塊，測距模塊包括向上測距的第一測距裝置。本專利技術結合測距裝置與水準裝置，使本專利技術能夠方便地測量鉛垂方向的距離，進而可以方便地測量待檢測房建的頂板距離以及頂板的平整度，裝置簡單，結構合理。在一些實施方式中，還包括容納上述各模塊與裝置的外殼和支撐外殼的底盤，外殼可在底盤上同軸旋轉運動，底盤設有水平刻度盤，底盤底面中心設有對準器；測距模塊還包括第二測距裝置，第二測距裝置測量方向與第一測距裝置測量方向垂直；外殼內還設有可轉動的第一射線發生器，第一射線發生器的轉動平面與第二測距裝置測量方向垂直。本專利技術還提供了一種可以精準地測量建房內墻面平整度的裝置。使用簡單，操作方便。在一些實施方式中，水準裝置為設于外殼的水準氣泡。保證第一測距裝置測距的鉛直方向。在一些實施方式中，對準器為光學對點器。提供了一種精準而易操作的對準方式。在一些實施方式中，夕卜殼內還固定有第二射線發生器,第二射線發生器發光方向與第一測距裝置測量方向垂直。可在調整好裝置的基礎上，輔助工程基準線的測繪。在一些實施方式中，本專利技術的測距模塊還包括第三測距裝置，第三測距裝置測距方向與第二測距裝置測距方向相反。可同時測量建房內兩相對墻面的平整度，進一步減輕了操作人的勞動強度。在一些實施方式中，處理器還包括存儲模塊，儲存來自測距模塊的數據，對本專利技術測繪的過程數據進行儲存。綜上，本專利技術提供的三維測距儀可獨立測量待測房建的頂板平整度和墻面的平整度，還能配合做工程測繪。并且測量方法簡單，操作容易，大大減輕了操作者的勞動強度。附圖說明圖1為本專利技術一實施方式的三維測距儀的結構示意圖2為圖1所示三維測距儀的后視圖；圖3為圖1所示三維測距儀的仰視圖；圖4為本專利技術一實施方式的三維測距儀測量墻面平整度的操作示意圖。具體實施例方式下面結合說明書附圖，對本專利技術進行進一步詳細的說明。如圖1至3所示，本專利技術提供了一種三維測距儀，包括外殼6和支撐外殼6的底盤7，外殼6同軸可轉動連接底盤7，底盤7設有水平刻度盤71，底盤7底面中心設有對準器72。對準器72為光學對點器，此外本專利技術還可以采用垂球對準方式。外殼6內置有處理器、測距模塊、輸入模塊3、輸出模塊4和水準裝置。處理器連接輸入模塊3、輸出模塊4和測距模塊，處理器根據輸入模塊3的指令將測距模塊的數據經過處理傳送至輸出模塊4。輸入模塊3為設于外殼6上的按鍵，輸出模塊4包括設于外殼6上的液晶顯示器。測距模塊包括第一測距裝置21、第二測距裝置22和第三測距裝置23。第一測距裝置21測量方向為向上，第二測距裝置22測量方向與第一測距裝置21測量方向垂直，第三測距裝置23測量方向與第二測距裝置22測量方向相反。外殼6內還置有第一射線發生器81與第二射線發生器82。第一射線發生器81的轉動平面與第二測距裝置22測量方向垂直。第二射線發生器82發光方向與第一測距裝置21測量方向垂直，也與第二測距裝置22測量方向垂直。本專利技術的水準裝置為設于外殼6的水準氣泡51。另外，底盤7設有微動水準螺旋52和固定水準螺旋53。微動水準螺旋52可調整外殼6在底盤7上的轉動角度，當轉動角度到達合適的方位時，可旋緊固定水準螺旋53固定轉動方位。本專利技術提供的三維測距儀的處理器包括存儲模塊，可對測繪的過程數據進行儲存。本專利技術提供的三維測距儀可配合可伸縮三腳架在基準線(工程上一般采用500mm線或者IOOOmm線為基準線)的幫助下檢測待測房建的頂板平整度，其操作包括以下步驟I)將待測房建內墻體上標注基準線；2)選擇待測房建內某處架好三維測距儀與可伸縮三腳架，并調節水準裝置使得三維測距儀至水平方向；3)打開第二射線發生器82，調節可伸縮三腳架的伸縮桿至第二射線發生器82發射的激光射線在墻體上的光點與基準線持平；4)啟動第一測距裝置21，并在輸出模塊4上讀出數據；5)更換測量點，多次測量。上述測量方式，相比現有的測量操作方法更加簡單精準。減小了操作者的勞動強度。需要指出，上述過程中第二射線發生器82是精確保證該裝置以基準線為基準進行上述測量的步驟，如果不需要以基準線進行測量，或者具有其他方法能夠保證以基準線為基準，則可以省略第二射線發生器82的相關步驟。如圖4所示，本專利技術提供的三維測距儀還可配合可伸縮三腳架在基準線與地面十字線的幫助下測量墻面的平整度，其操作過程如下I)將待測房建內墻體上標注基準線與地面十字線；2)啟動光學對點器，在光學對點器發射的光點對準地面十字線其中一條線的位置上架好三維測距儀與可伸縮三腳架，并調節水準裝置使得三維測距儀至水平方向；3)啟動第一射線發生器81，調節三維測距儀外殼6與底盤7的轉動位置，使第一射線發生器81旋動過程中在地面所成的光點都落在上述地面十字線的一條線上；4)啟動第二測距裝置22和第三測距裝置23，并在輸出模塊4上讀出數據；5)更換測量點，多次測量。本專利技術提供的三維測距儀首先建立包含以地面十字線中其中一條線的基準平面，然后以上述基準測量兩側墻面的平整度。操作簡單而精準。此外本專利技術提供的三維測距儀，還具有輔助基準線的繪制。操作只需要將上述三維測距儀在合適位置組裝并調整水平，然后啟動第二射線發生器82到合適高度，旋轉外殼6即可移動光點輔助繪測。此外，本專利技術的對準器72也可以是測距裝置，可使得本專利技術兼具鉛垂方向向下的測距功能，能夠在沒有基準線的情況下，完成本專利技術上述的各種功能；具備基準線的情況下，可參照檢測待測房建頂板平整度的方法測量地面的平整度。以上表述僅為本專利技術的優選方式，應當指出，對本領域的普通技術人員來說，在不脫離本專利技術創造構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些也應視為本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
三維測距儀，其特征在于，包括：處理器、測距模塊、輸入模塊（3）、輸出模塊（4）和水準裝置，所述處理器連接所述輸入模塊（3）、輸出模塊（4）和測距模塊，所述處理器根據所述輸入模塊（3）的指令將所述測距模塊的數據經處理后傳送至所述輸出模塊（4），所述測距模塊包括向上測距的第一測距裝置（21）。

【技術特征摘要】
1.三維測距儀，其特征在于，包括:處理器、測距模塊、輸入模塊(3)、輸出模塊(4)和水準裝置，所述處理器連接所述輸入模塊(3)、輸出模塊(4)和測距模塊，所述處理器根據所述輸入模塊(3)的指令將所述測距模塊的數據經處理后傳送至所述輸出模塊(4)，所述測距模塊包括向上測距的第一測距裝置(21)。2.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，還包括容納上述各模塊與裝置的外殼(6)和支撐所述外殼(6)的底盤(7)，所述外殼(6)同軸可轉動連接所述底盤(7)，所述底盤(7)設有水平刻度盤(71)，所述底盤(7)底面中心設有對準器(72);所述測距模塊還包括第二測距裝置(22)，所述第二測距裝置(22)測量方向與所述第一測距裝置(21)測量方向垂直；所述外殼(6)內還設有可轉動的第一射線發生器(...

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳健，
申請(專利權)人：陳健，
類型：發明
國別省市：