本發明專利技術公開一種非晶帶材厚度的測量方法及裝置。包括：帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器，所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷；所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化；所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度。測量環境良好，干擾較少，從而為客戶提供非晶帶材準確的厚度信息。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及非晶帶材領域，尤其涉及一種非晶帶材厚度的測量方法及裝置。
技術介紹
非晶合金帶材采用的是冷卻速度大約106°C /秒的超急冷凝固技術，從鋼液到薄帶成品的一次成型制備而成的。與傳統的金屬磁性材料相比，由于非晶合金原子排列無序，沒有晶體的各向異性，且電阻率高，因此具有高的導磁率和低的鐵損，是優良的軟磁材料，代替硅鋼、坡莫合金和鐵氧體等作為變壓器鐵芯、互感器等，可大大提高變壓器效率、縮小體積、降低能耗。由于非晶合金制造過程節能，同時其磁性能優良，并能夠降低變壓器使用過程中的損耗，因此被稱為二十一世紀綠色材料、電子材料。目前多采用X射線法和激光法對非晶帶材進行在線測厚，它們具有相同的優點，既能夠實現對帶材厚度實時檢測，從而對生產過程起到指導作用，但它們各自也存在很多缺陷。X射線法的缺陷主要包括x射線測厚儀體積龐大、不易維護、使用時需要經常校準且射線發射管易老化、輻射污染強等；在線測厚時由于剛噴制出的帶材表面熱量未完全散去，導致測量所得厚度值誤差較大。激光法測厚則對測量環境要求相對較高，如溫度、空氣中粉塵度等，而非晶帶材生產過程中高溫、粉塵多的惡劣環境會影響測量結果的準確性。要想準確把握生產出的非晶帶材的厚度，從而為客戶提供準確的帶材信息，提高市場競爭力，則需要克服上述現有技術存在的弊端，探索出一種能夠準確測量非晶帶材厚度的方法，保證所得結果準確率高、誤差小。
技術實現思路
本專利技術的目的是克服以上現有技術存在的缺陷，實現對帶材厚度的準確測量，測量精度高、誤差小。為此，在第一方面，本專利技術提供一種非晶帶材厚度的準確測量方法，所述方法采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產的分卷環節，在接近導輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測微位移傳感器探頭到導輥表面的距離變化，根據檢測得到的傳感器探頭到導輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。為此，在第二方面，本專利技術提供一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述裝置包括帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器，所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷；所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化；所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度；優選地，測量裝置包括上位機，所述上位機接收來自PLC控制器的結果，直觀的顯示帶材的厚度結果及變化曲線。優選地，所述帶材分卷裝置包括放卷機、收卷機及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個導輥，主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷。優選地，所述電磁式微位移傳感器安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個導輥的正上方，精準捕捉物體的微小位移變化。優選地，所述上位機還具有存儲數據、自動生成厚度檢測報告的功能。根據本專利技術實施例可精確地表征帶材的厚度，測量環境良好，干擾較少。附圖說明圖1是根據本專利技術實施例的一種非晶帶材厚度的測量方法的邏輯框圖。圖2是根據本專利技術實施例的一種非晶帶材厚度的測量裝置的結構示意圖。具體實施例方式下面通過附圖和實施例，對本專利技術的技術方案做進一步的詳細描述。為了準確測量非晶帶材的厚度，本專利技術采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產的分卷環節，在例如接近導輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測微位移傳感器探頭到導輥表面的距離變化，及時反饋給PLC進行信號轉換、數據處理，傳送給上位機，在上位機上即可精確的表征帶材的厚度，測量環境良好，干擾較少。圖2是根據本專利技術實施例的一種非晶帶材厚度的測量裝置的結構示意圖。如圖2所示，該實施例的一種非晶帶材厚度的準確測量裝置，包括帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器及上位機，所述帶材分卷裝置包括放卷機、收卷機及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個導輥。所述分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷，即大卷分卷成卷徑相同的小卷；過渡輥系主要起減震、提高平穩性的作用，減小從放卷機軸傳遞出的帶材的抖動、顛簸。所述電磁式微位移傳感器可以采用目前世界上較先進的電磁傳感器，分辨率可達O.02um,測量精度達O. 5um，能夠精準捕捉物體的微小位移變化，測量精度高，將其安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個導輥的正上方。所述PLC控制器為實現本測量裝置的信號采集處理、分析計算等功能。所述上位機接收來自PLC控制器的結果，現場操作人員能夠通過上位機直觀的看到帶材的厚度結果及變化曲線。在非晶帶材分卷裝置中，將電磁式微位移傳感器I固定在過渡輥系第二個導輥4的正上方，電磁式微位移傳感器I米集電磁式微位移傳感器探頭至第二個導棍4表面之間的距離信號。在無帶材通過導輥時，PLC采集距離信號，經過信號的轉換處理，換算成第一位移信號SI ;同理，當有帶材通過導輥時，得到的距離信號換算成第二位移信號S2，PLC將第一位移信號SI和第二位移信號S2進行運算處理，得到帶材厚度AS = S1-S2，將計算結果傳輸至上位機，現場操作人員即可通過上位機直觀的得到帶材的厚度及變化曲線。同時上位機還可存儲數據結果，以便后續進行查找或追溯；出具檢測出的厚度報告，為客戶提供準確、直觀的帶材厚度信息。應當理解，根據本專利技術的一種非晶帶材厚度的準確測量裝置，可以包括采樣模塊和運算模塊，上位機可以包括顯示器，用于顯示數據和變化曲線。以上所述的具體實施方式，對本專利技術的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，所應理解的是，以上所述僅為本專利技術的具體實施方式而已，并不用于限定本專利技術的保護范圍，凡在本專利技術的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種非晶帶材厚度的測量方法，所述方法：采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產的分卷環節，在接近導輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測傳感器探頭到導輥表面的距離變化，根據檢測得到的傳感器探頭到導輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。
【技術特征摘要】
1.一種非晶帶材厚度的測量方法，所述方法:采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產的分卷環節，在接近導輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測傳感器探頭到導輥表面的距離變化，根據檢測得到的傳感器探頭到導輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。2.一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述裝置包括:帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器， 所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷； 所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化； 所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度。3.根據權利要求2所述的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李曉雨，王玲，姜寧，李晨，王安慶，
申請(專利權)人：青島云路新能源科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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