一種激光器組件測試工裝制造技術

一種激光器組件測試工裝屬于測試工裝技術領域，尤其涉及一種激光器組件測試工裝。本實用新型專利技術提供一種測試效率高、測試項目全面的激光器組件測試工裝。本實用新型專利技術包括單片機、光模塊、光接口、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口，其結構要點單片機端口分別與光模塊端口、DA轉換電路端口、AD轉換電路端口、上位機通信接口相連，光模塊端口與光接口相連，激光器組件控制接口分別與DA轉換電路端口、AD轉換電路端口相連；所述單片機向DA轉換電路發(fā)出輸出值控制信號，單片機向光模塊發(fā)出發(fā)光功率控制信號。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本技術屬于測試工裝
，尤其涉及一種激光器組件測試工裝。
技術介紹
激光器組件包括激光器和激光探測器。目前，激光器組件測試方法是使用光功率計對激光器進行光功率測試，有光功率產(chǎn)生即為合格；對激光探測器進行電壓、電流檢測。上述測試過程均通過人工連線、調(diào)節(jié)、讀數(shù)，測試效率低、測試項目少。
技術實現(xiàn)思路
本技術就是針對上述問題，提供一種測試效率高、測試項目全面的激光器組件測試工裝。為實現(xiàn)上述目的，本技術采用如下技術方案，本技術包括單片機、光模塊、光接口、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口，其結構要點單片機端口分別與光模塊端口、DA轉換電路端口、AD轉換電路端口、上位機通信接口相連，光模塊端口與光接口相連，激光器組件控制接口分別與DA轉換電路端口、AD轉換電路端口相連。所述單片機向DA轉換電路發(fā)出輸出值控制信號，單片機向光模塊發(fā)出發(fā)光功率控制信號。所述光模塊接收發(fā)光功率控制信號向待測激光探測器發(fā)出激光測試信號，并通過光接口接收待測激光器發(fā)出的光信號，再將待測激光器發(fā)出的光信號的功率發(fā)送給單片機。所述DA轉換電路接收輸出值控制信號并通過激光器組件控制接口控制激光器發(fā)光功率。所述AD轉換電路接收待測激光探測器和待測激光器的反饋測試信號，并發(fā)送給單片機。作為一種優(yōu)選方案，本技術還包括電源(power)模塊，電源模塊輸入端口與單片機輸出端口相連，電源模塊輸出端口與激光器組件控制接口相連；單片機控制電源模塊給激光器供電。作為另一種優(yōu)選方案，本技術所述激光器組件控制接口包括運算調(diào)節(jié)電路、電流控制電路、激光器接口和激光探測器接口，所述DA轉換電路、運算調(diào)節(jié)電路、電流控制電路、激光器接口、運算調(diào)節(jié)電路依次相連，AD轉換電路端口分別與電流控制電路端口、激光器接口和激光探測器接口相連。作為另一種優(yōu)選方案，本技術所述激光探測器接口為兩個。其次，本技術還包括EEPROM，EEPROM端口與單片機端口相連。另外，本技術所述單片機采用ATMEGA 128A單片機。本技術有益效果。本技術通過單片機、光模塊、光接口、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口的配合使用，測量過程自動化控制程度高，因此測試效率高、測試項目全面。以下結合附圖和具體實施方式對本技術做進一步說明。本技術保護范圍不僅局限于以下內(nèi)容的表述。附圖說明圖1是本實用電路原理框圖。圖2是本技術結構示意圖。圖中，I為激光探測器接口、2為激光器接口、3為光接口、4為光模塊。具體實施方式如圖所示，本技術包括單片機、光模塊4、光接口 3、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口，單片機端口分別與光模塊4端口、DA轉換電路端口、AD轉換電路端口、上位機通信接口相連，光模塊4端口與光接口 3相連，激光器組件控制接口分別與DA轉換電路端口、AD轉換電路端口相連。所述單片機向DA轉換電路發(fā)出輸出值控制信號，單片機向光模塊4發(fā)出發(fā)光功率控制信號。所述光模塊4接收發(fā)光功率控制信號向待測激光探測器發(fā)出激光測試信號，并通過光接口 3接收待測激光器發(fā)出的光信號并將待測激光器發(fā)出的光信號的功率發(fā)送給單片機。所述DA轉換電路接收輸出值控制信號并通過激光器組件控制接口控制激光器發(fā)光功率。所述AD轉換電路接收待測激光探測器和待測激光器的反饋測試信號，并發(fā)送給單片機。本技術還包括電源模塊，電源模塊輸入端口與單片機輸出端口相連，電源模塊輸出端口與激光器組件控制接口相連；單片機控制電源模塊給激光器供電。所述激光器組件控制接口包括運算調(diào)節(jié)電路、電流控制電路、激光器接口 2和激光探測器接口 1，所述DA轉換電路、運算調(diào)節(jié)電路、電流控制電路、激光器接口 2、運算調(diào)節(jié)電路依次相連，AD轉換電路端口分別與電流控制電路端口、激光器接口 2和激光探測器接口 I相連。所述激光探測器接口 I為兩個。可同時測試兩個激光探測器，進一步提高測試效率。本技術還包括EEPROM，EEPROM端口與單片機端口相連。所述單片機采用ATMEGA 128A單片機。以下結合附圖和具體實施方式對采用本技術測試激光器組件的過程做以說明。1、系統(tǒng)加電后通過激光器接口 2連接好激光器控制端口，通過光接口 3連接好激光器的光輸出端口，通過激光探測器接口 I連接好激光探測器端口 ；上位機通過上位機通信接口控制單片機開始測試，此時單片機控制電源模塊給激光器供電。2、單片機調(diào)整DA轉換電路輸出值使激光器發(fā)光，DA轉換電路輸出值遞增；同時通過光模塊4查詢激光器的發(fā)光功率，直到發(fā)光功率為-1OdBm,此時停止DA轉換電路遞增，鎖住DA轉換電路輸出值；單片機通過AD轉換電路讀取相應的激光器測試值并反饋到上位機。3、測得激光器的電流值結果加20mA后，使DA轉換電路輸出值繼續(xù)遞增，使得激光器的電流值結果與測得的電流值加20mA后相等，此時停止DA轉換電路遞增，鎖住DA轉換電路輸出值；單片機通過AD轉換電路讀取相應的激光器測試值并反饋到上位機。4、單片機控制光模塊4使光模塊4的發(fā)光功率為OdBm，此時單片機通過AD轉換電路讀取相應的激光探測器測試值，并反饋到上位機軟件進行顯示。5、測試完成后，通過上位機點擊停止測試后，此時單片機控制電源模塊禁止給激光器供電，測試結束。以上臨時數(shù)據(jù)及測試設置項均存在EEPROM中。可以理解的是，以上關于本技術的具體描述，僅用于說明本技術而并非受限于本技術實施例所描述的技術方案，本領域的普通技術人員應當理解，仍然可以對本技術進行修改或等同替換，以達到相同的技術效果；只要滿足使用需要，都在本技術的保護范圍之內(nèi)。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種激光器組件測試工裝，包括單片機、光模塊（4）、光接口（3）、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口，其特征在于單片機端口分別與光模塊（4）端口、DA轉換電路端口、AD轉換電路端口、上位機通信接口相連，光模塊（4）端口與光接口（3）相連，激光器組件控制接口分別與DA轉換電路端口、AD轉換電路端口相連；所述單片機向DA轉換電路發(fā)出輸出值控制信號，單片機向光模塊（4）發(fā)出發(fā)光功率控制信號；所述光模塊（4）接收發(fā)光功率控制信號向待測激光探測器發(fā)出激光測試信號，并通過光接口（3）接收待測激光器發(fā)出的光信號并將待測激光器發(fā)出的光信號的功率發(fā)送給單片機；所述DA轉換電路接收輸出值控制信號并通過激光器組件控制接口控制激光器發(fā)光功率；所述AD轉換電路接收待測激光探測器和待測激光器的反饋測試信號，并發(fā)送給單片機。

【技術特征摘要】
1.一種激光器組件測試工裝，包括單片機、光模塊(4)、光接口(3)、DA轉換電路、AD轉換電路、激光器組件控制接口和上位機通信接口，其特征在于單片機端口分別與光模塊(4)端口、DA轉換電路端口、AD轉換電路端口、上位機通信接口相連，光模塊(4)端口與光接口(3)相連，激光器組件控制接口分別與DA轉換電路端口、AD轉換電路端口相連； 所述單片機向DA轉換電路發(fā)出輸出值控制信號，單片機向光模塊(4)發(fā)出發(fā)光功率控制信號； 所述光模塊(4)接收發(fā)光功率控制信號向待測激光探測器發(fā)出激光測試信號，并通過光接口(3)接收待測激光器發(fā)出的光信號并將待測激光器發(fā)出的光信號的功率發(fā)送給單片機； 所述DA轉換電路接收輸出值控制信號并通過激光器組件控制接口控制激光器發(fā)光功率； 所述AD轉換電路接收待測激光探測器和待測激光器的反饋測試信號，并發(fā)送給單片機。2.根據(jù)權利要求1所述一種激...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：杜方，胡穎，鄧立志，佟慶松，
申請(專利權)人：奧維通信股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：