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    側投式測試模組的光強治具制造技術

    技術編號:8607002 閱讀:196 留言:0更新日期:2013-04-19 07:49
    本實用新型專利技術涉及側投式測試模組的光強治具,包括:底座、分布在該底座上的測試模組固定塊,其中,測試模組固定塊用于固定測試模組,其特征在于,所述底座上于所述測試模組的側端設置有平面鏡固定塊,該平面鏡固定塊上固定有平面鏡且該平面鏡對應于所述測試模組的側端。藉助上述結構,當所述測試模組的側端射出光線,經平面鏡的反射,側投偏光入CCD的感應范圍內,以進行LED的光強,電流,電壓等的檢測,徹底解決模組過長、豎放空間高度過高、重心不穩等影響CCD檢測質量的問題,大大提高工作效率和檢測LED光強的準確性。(*該技術在2022年保護過期,可自由使用*)

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及LED模組性能測試,特別是一種側投式測試模組的光強治具
    技術介紹
    目前,LED的光強、電流、電壓等性能指標一般都是通過CXD測試機臺來檢測,CXD測試機臺將LED發出的光學信號轉換為數字信號,從而來判斷該LED模組是否符合標準。在實際檢測中為了使CCD能感應到光強,則需要根據模組上LED出射光線的方向來安置模組,一般將LED出射光線方向豎直向上對準CXD感應頭。但是,有些測試模組的長度比一般常用的模組長度長很多,長度接近400厘米,若按照上述的方式安裝,則會占據大部分的空間高度,并使測試模組的重心過高,不穩定,給LED的光強檢測帶來了很大的不便,最終導致模組光強檢測質量無法保證,工作效率低下等問題。
    技術實現思路
    本技術為了克服模組長度過長,占據空間高度過高,重心不穩的技術問題,提供一種新型結構的側投式測試模組的光強治具。本技術是這樣實現的一種側投式測試模組的光強治具,包括底座、分布在該底座上的測試模組固定塊,其中,測試模組固定塊用于固定測試模組,其特征在于,所述底座上于所述測試模組的側端設置有平面鏡固定塊,該平面鏡固定塊上固定有平面鏡且該平面鏡對應于所述測試模組的側端。藉助上述結構,當所述測試模組的側端射出光線,經平面鏡的反射,側投偏光入CCD的感應范圍內,以進行LED的光強,電流,電壓等的檢測,縮短CCD測試頭的安裝高度,徹底解決模組過長、豎放空間高度過高、重心不穩等影響CCD檢測質量的問題,大大提高工作效率和檢測LED光強的準確性。附圖說明圖1為技術的結構示意圖。圖2為技術的使用示意圖。圖3為技術的偏光原理詳圖。圖中序號1、底座2、測試模組固定塊3、測試模組4、平面鏡固定塊 5、平面鏡6、CCD的感應范圍7、定位孔。具體實施方式以下結合附圖對本技術的結構 進行說明。參見圖1和2,圖中所示的是一種側投式測試模組的光強治具,其結構包括底座1、分布在該底座I上的測試模組固定塊2,其中,測試模組3側放置在測試模組固定塊2上,所述底座I上于所述測試模組3的側端設置有平面鏡固定塊4,該平面鏡固定塊4上固定有平面鏡5且該平面鏡5對應于所述測試模組3的側端。請再參見圖3,圖3所示的是本光強治具的光學原理圖。當所述測試模組3的側端射出光線,按照原有技術,由于測試模組過長,該光線是無法被檢測到的。但是,如使用本光強治具,光線會經平面鏡5反射入CCD的感應范圍6內。為了穩定本光強治具的重心,所述底座I上設有用于固定底座I的定位孔7。具體的使用方法如下首先,通過定位孔將底座固定在CCD測試機臺上,然后通過測試模組固定塊將測試模組側放于治具上,固定其位置。第二,按照LED出射光線的方向,可以估計出,平面鏡與水平方向成45度并將平面鏡固定于平面鏡固定塊上。但是由于模組很長,兩側的LED的出射光線可能還不在CCD的感應范圍內,所以對兩側的平面鏡的角度進一步調整,使其達到適合的角度,將兩側光線會聚進入CCD的感應范圍。由于CCD的感應頭距離底座約有I米,其感應范圍投射到底座上一般在直徑約為300厘米的圓內,所以要滿足側投偏光入CCD范圍內是很容易實現的。第三,結合CCD測試機臺,對側投式模組的光強,電流,電壓等進行測試。測試完成后可以不用再調整治具,重復性地進行下一個模組的檢測。本技術可以很有效地解決了測試模組長度過長不便于安置,安置不穩,空間高度過高等問題。使工作人員在測試模組光強,電壓,電流時的效率大大提高,并使CCD能很準確的捕捉光強,作出準確的數據和圖像,降低了判斷失誤率,為測試工作帶來了很多方便。本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    側投式測試模組的光強治具,包括:底座(1)、分布在該底座(1)上的測試模組固定塊(2),其中,測試模組固定塊(2)用于固定測試模組(3),其特征在于,所述底座(1)上于所述測試模組(3)的側端設置有平面鏡固定塊(4),該平面鏡固定塊(4)上固定有平面鏡(5)且該平面鏡(5)對應于所述測試模組(3)的側端,當所述測試模組(3)的側端射出光線,經平面鏡(5)的反射,側投偏光入CCD的感應范圍(6)內。

    【技術特征摘要】
    1.側投式測試模組的光強治具,包括底座(I)、分布在該底座(I)上的測試模組固定塊(2),其中,測試模組固定塊(2)用于固定測試模組(3),其特征在于,所述底座(I)上于所述測試模組(3)的側端設置有平面鏡固定塊(4),該平面鏡固定塊(4)上固定有平面鏡(5)...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:張百溫,
    申請(專利權)人:麗清汽車科技上海有限公司,
    類型:實用新型
    國別省市:

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