收回重建內存空間方法技術

一種收回重建內存空間方法，用于收回回收晶粒(inked?die)中可使用的內存空間，以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存，其包括步驟有掃描在晶粒(或稱存儲單元)中的區(qū)塊區(qū)域(block)、頁面區(qū)域(page)與晶胞區(qū)域的至少其中之一，并借由將測試數據寫入、讀取與比較所選擇的各區(qū)域中，用以對選擇的各區(qū)域進行正常的與不正常的標記，而借由循環(huán)式的執(zhí)行前述的步驟，用以達到對該晶粒進行完整的掃描與測試，并再借由配置與搜集前述標記為正常的各區(qū)域，以重建具有標準化或非標準化的該存儲容量的該內存，且供應不管任何一種控制器或主機進行對于該存儲容量的存取(access)。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種，特別涉及自回收晶粒(inked die)中收回可使用的內存空間并且能重建具有標準化或非標準化的該存儲容量的該內存以供使用的。
技術介紹
現有技術中，由于全世界的網絡走入一個新的云端應用模式，故在個人公司的商業(yè)應用數據上，是將所有的數據全部導入至云端的服務器上。此外，再加上光纖、W1-FI及移動通信的普及，讓全世界消耗閃存的速度每年呈現倍數的復合成長。再者，因為云端的服務器是使用高階的SSD以提高效能。隨著大量應用的需求，該SSD的容量也快速地增長，且又加上智能手機和平板電腦以爆量的快速成長，使得閃存也大量使用在這些消費電子裝置上。然而，該閃存的制作過程中，是借由在晶圓上形成多個晶粒，并將這些晶粒經切割后，用于提供上述的應用。但，由于制程的關系這些晶粒良品率無法達到百分之百，例如在圖1中，是對于一晶圓上的這些晶粒進行測試，而測試的這些晶粒中，屬于可使用的晶粒約有656顆，而不良的晶粒約有106，其良品率大概僅有85%左右，換句話說，不良率高達15%。該不良的晶粒(也稱為缺陷晶粒)會遭受到淘汰舍棄。但就實際而言，這些不良的晶粒中并非完全無法使用，參考圖2為良好的晶粒，而圖3為不良的晶粒(如陰影線部分所示)。然而，在圖3中，以晶胞的角度而言，尚有許多晶胞并未損壞，其可視為非缺陷的部分，這部分是仍然可以使用的。若遭到舍棄，則是浪費了資源。故有需要通過本專利技術所提供的方法，用以解決現有技術的缺失。
技術實現思路
本專利技術的主要目的在于提供一種，其可自回收晶粒(inkeddie)中收回可使用的內存空間以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存。本專利技術的另一目的是根據前述所提供的方法，可借由對晶粒中不管是區(qū)塊區(qū)域(block)、頁面區(qū)域(page)與晶胞區(qū)域(cell)的至少其中之一進行讀取、寫入與比較，而用以獲得正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的密度分布，以供重新配置而重建該內存。本專利技術的又一目的是根據前述所提供的方法，可提供最終產品端(end ofproduct)再判斷該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一是否為正常的，而再進一步配置與搜集標記正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，用以達成動態(tài)地形成具有標準化或非標準化該存儲容量的該內存。為達上述目的及其它目的，本專利技術提供一種，其用于收回回收晶粒(inked die)中可使用的內存空間，以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存，其包括步驟(a)提供具有區(qū)塊區(qū)域(block)、頁面區(qū)域(page)與晶胞區(qū)域(cell)的晶粒(die) ；(b)掃描該晶粒的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，并寫入一測試數據至該晶粒所對應的各區(qū)域中，以使該晶粒借由執(zhí)行寫入、讀取與比較該測試數據而產生測試結果，該測試結果用于標記正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域；(C)將該測試結果寫入備用區(qū)域(spare areas)中，以顯示在該晶粒中正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一的密度分布；(d)判斷該晶粒中所有的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一是否已完全地進行掃描與測試，以選擇性地重復執(zhí)行前述的步驟；以及(f)配置與搜集標記正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，以重建具有標準化或非標準化的該存儲容量的該內存。與現有技術相比，本專利技術的可用以收回在晶圓(wafer)中具有缺陷的多個晶粒(die)，使得可不管是借由區(qū)塊區(qū)域(block)、頁面區(qū)域(page)與晶胞區(qū)域(cell)的任一模式對該晶粒進行掃描與測試，均能搜尋出正常的區(qū)域(表示可用于進行數據的讀取、寫入與比較等作動)，并借由在掃瞄與測試之后所形成的該測試結果，進一步根據算法對該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域進行全面性的重新配置，其中正常的各區(qū)域重新使用，而不正常的各區(qū)域則遭到刪除以避免誤使用。再者，借由重新配的各區(qū)域，并非完全是以2為冪次方的標準化存儲容量(例如2GB、4GB、8GB或256GB等容量)，其有可能為任意的存儲容量(例如3. 5GB.800MB或460GB等容量)。換句話說，本專利技術是最大化地收回具有正常的各區(qū)域的存儲單元(memory unit)，并且經由重新配置而可重新獲得特別是非標準化存儲容量的內存，并且可提供主機或控制單元執(zhí)行如同傳統內存對數據進行讀取、寫入、比較與抹除等的作動。 附圖說明圖1為現有技術中用于測試晶圓上多個晶粒的測試程序；圖2為說明圖1中良好晶粒的方塊不意圖；圖3為說明圖1中缺陷晶粒的方塊示意圖；圖4為本專利技術一實施例的的方法流程圖。主要組)符號說明S41 S46方法步驟具體實施例方式為充分了解本專利技術的目的、特征及功效，現借由下述具體的實施例，并配合所附的圖式，對本專利技術做一詳細說明如下參考圖4，為本專利技術一實施例的的方法流程圖。在圖4中，該是用于收回回收晶粒中可使用的內存空間，用以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存。其中，該回收晶粒包括(a)內存晶粒并未被發(fā)現為缺陷晶粒，但該晶粒僅具有局部的功能與包括一些可用的晶胞(cell) ;(b)內存晶粒因開路或短路的關系并無任何的回應；(C)正常內存晶粒中包括一般的缺陷以及全部或局部有用的存儲晶胞；以及⑷在進行內存晶粒中功能測試的過程中，因誤判原內存晶粒為缺陷。其中，該內存可為或非門閃存(NOR Flash)、與非門閃存(NAND FLASH)或動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)。再者，標準化的存儲容量的定義為傳統上以2為冪次方的方式來界定該內存的該存儲容量，例如2GB、4GB、8GB、16GB、32GB或64GB等容量；而非標準化的存儲容量的定義即是非以2為冪次方的方式來界定該內存的該存儲容量，例如3. 5GB.800MB或460GB等容量。該起始于步驟S41，提供具有區(qū)塊區(qū)域(block)、頁面區(qū)域(page)與晶胞區(qū)域(cell)的晶粒(die)。一般而言，該晶粒是以多個型態(tài)形成在晶圓(wafer)上，其中這些晶粒又根據所規(guī)劃的內存區(qū)域，可分為區(qū)塊區(qū)域、頁面區(qū)域與晶胞區(qū)域，而該晶胞區(qū)域為每一這些晶粒中最小的儲存單位，可用以儲存位0、1的數據。再者，該頁面區(qū)域是由多個晶胞區(qū)域所組成的集合，而該頁面區(qū)域的集合又可形成該區(qū)塊區(qū)域，最終多個該區(qū)塊區(qū)域形成該晶粒，該晶粒也可稱為存儲單元(memory unit)。接著步驟S42，掃描該晶粒的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，并寫入一測試數據至該晶粒所對應的各區(qū)域中，以使該晶粒借由執(zhí)行寫入、讀取與比較該測試數據而產生測試結果，該測試結果用于標記正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域。在此步驟中，可選擇對該晶粒的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域進行掃描，也就是可掃描最小儲存位的該晶胞區(qū)域或更進一步掃描儲存有字符數據的該區(qū)塊區(qū)域。再者，借由在所選擇的各區(qū)域中寫入、讀取與比較該測試數據，用以測試各區(qū)域是否為正常的狀態(tài)，也就是說該區(qū)域可進行正常的數據寫入、讀取與比較動作。換句話說，借由本步驟的測試，可獲得該晶粒中關于正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域的分布。此外，借由標記的方式，用以標記該正常與不正常的分布情況。此外，在本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種收回重建內存空間方法，其用于收回回收晶粒中可使用的內存空間，以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存，其特征在于，包括：提供具有區(qū)塊區(qū)域、頁面區(qū)域與晶胞區(qū)域的晶粒；掃描該晶粒的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，并寫入一測試數據至該晶粒所對應的各區(qū)域中，以使該晶粒借由執(zhí)行寫入、讀取與比較該測試數據而產生測試結果，該測試結果用于標記正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域；將該測試結果寫入備用區(qū)域中，以顯示在該晶粒中正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一的密度分布；判斷該晶粒中所有的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一是否已完全地進行掃描與測試，以選擇性地重復執(zhí)行前述的步驟；以及配置與搜集標記正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，以重建具有標準化或非標準化的該存儲容量的該內存。

【技術特征摘要】
1.一種收回重建內存空間方法，其用于收回回收晶粒中可使用的內存空間，以形成具有標準化或非標準化存儲容量的內存，其特征在于，包括 提供具有區(qū)塊區(qū)域、頁面區(qū)域與晶胞區(qū)域的晶粒； 掃描該晶粒的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，并寫入一測試數據至該晶粒所對應的各區(qū)域中，以使該晶粒借由執(zhí)行寫入、讀取與比較該測試數據而產生測試結果，該測試結果用于標記正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域或該晶胞區(qū)域； 將該測試結果寫入備用區(qū)域中，以顯示在該晶粒中正常的與不正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一的密度分布； 判斷該晶粒中所有的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一是否已完全地進行掃描與測試，以選擇性地重復執(zhí)行前述的步驟；以及 配置與搜集標記正常的該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一，以重建具有標準化或非標準化的該存儲容量的該內存。2.如權利要求3所述的收回重建內存空間方法，其特征在于，在該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域的至少其中之一上標記不正常，則表示該區(qū)塊區(qū)域、該頁面區(qū)域與該晶胞區(qū)域為壞區(qū)塊區(qū)域、壞頁面區(qū)域或壞晶胞區(qū)域，而無法執(zhí)行該測試數據的寫入、讀取與比較。3.如權利要求2所述的收回重建內存空間方法，其特征在于，在寫入該測試數據至該晶粒所對應的各區(qū)域之后，判斷該測試數據是否可寫入各區(qū)域中，并自各區(qū)域中讀取已寫入的該測試數據，以供比對前后...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：儲永強，
申請(專利權)人：綠智慧流科技公司，
類型：發(fā)明
國別省市：