用于分光光度計的正弦機構制造技術

本發明專利技術提供一種用于分光光度計的正弦機構，包括：電動機(10)；支架(2)；設置在支架(2)上，由電動機(10)驅動的絲桿(3)；設置在支架(2)上，并與絲桿(3)平行的導桿(6)；滑塊(4)，滑塊(4)具有第一通孔以及套接構件(11)，在第一通孔的內周面上設有內螺紋，滑塊(4)以內螺紋與絲桿(3)上的外螺紋相嚙合的狀態裝配于絲桿(3)上，套接構件(11)四周閉合地套接于導桿(6)上且使得滑塊(4)僅能夠沿著導桿(6)的軸向運動。通過套接構件(11)與導桿(6)之間的精密配合，限制了由絲桿(3)與滑塊(4)之間的微小間隙而引起的滑塊(4)的左右或者上下的晃動，從而能夠提高分光光度計的波長重復度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種用于分光光度計的正弦機構，特別是涉及一種帶有防止滑塊晃動的機械裝置的正弦機構。
技術介紹
原子吸收分光光度計作為對環境、金屬半導體、石油化學高分子材料進行分析檢驗的儀器，被廣泛應用于醫學、生物學和藥學等領域中。在現有的分光光度計產品中，通常使用正弦機構將滑塊的直線運動經由與載置光柵的轉臺相連接的擺桿轉換為光柵的轉動。圖1和圖2分別為現有的用于分光光度計的正弦機構的主視剖面圖和左視剖面圖。如圖1以及圖2所示現有的用于分光光度計的正弦機構的具體結構為，包括電動機10 ;支架2 ;絲桿3，該絲桿3的兩端通過軸承I和7被可旋轉地裝配在支架2上，且能夠被電動機10驅動而旋轉；兩端被固定裝配于支架2上、且與絲桿3平行設置的導桿6 ;以及滑塊4。在該滑塊4的圖1的上下方向的大致中間的位置設有沿圖1的左右方向的第一通孔，在該第一通孔的內周面上設有內螺紋，滑塊4通過該內螺紋和絲桿3上的外螺紋的嚙合而裝配在絲桿3上?；瑝K4的下部開有在圖1的左右方向上貫通滑塊4、且連通第一通孔的下部圓周面和滑塊4的下側端面的狹縫13，在滑塊4的下部沿圖1的垂直于紙面的方向設有貫通滑塊4的螺紋孔，在該螺紋孔內旋合有螺釘5，通過調節螺釘5的松緊程度可以改變所述狹縫13的縫寬，進而能夠調節第一通孔的內螺紋與絲桿3的外螺紋之間的間隙從而確保較高精度的螺紋配合。在滑塊4的上側端面上設有貫通滑塊4左右(圖1中的左右方向)的凹槽12，導桿6穿設于該凹槽12內，當電動機10驅動絲桿3旋轉時引導滑塊4沿導桿6左右移動。在所述凹槽12的左右方向(圖1中的左右方向)的大致中央位置，沿圖1的垂直于紙面的方向設有一圓孔，其一端與凹槽12導通，另一端封閉，在該圓孔內裝配有一彈簧8，彈簧8的一端抵接在圓孔的封閉端，其另一端經由鋼珠9按壓在導桿6上。通過這樣的結構可以消除滑塊4的凹槽12與導桿6之間的沿圖1的垂直于紙面的方向的間隙，達到限制滑塊4在圖1的垂直于紙面的方向上的運動的目的。另外，未圖示的擺桿的一端通過拉簧始終抵接于滑塊4的左右任意一側的側壁上，擺桿的另一端連接于載置有光柵的轉臺上(未圖示)，當滑塊4在電動機的驅動下左右移動時，擺桿隨之擺動進而帶動轉臺轉動，從而將滑塊4的直線運動轉換為光柵的轉動。
技術實現思路
專利技術要解決的課題在用于分光光度計的正弦機構中，滑塊和絲桿為螺紋配合，要求有較高的重復精度(即在電動機正向轉動一角度再反向轉動相同角度后，要求滑塊回復到原先的位置)。然而，為了讓滑塊能夠隨著絲桿的旋轉而左右移動，螺紋之間在螺紋傳動軸向需要有一定的間隙，而這樣的間隙會使得滑塊沿導桿的運動不平穩。雖然在上述現有的正弦機構中通過鋼珠和彈簧的壓迫能夠限制滑塊繞絲桿軸線的轉動，但是滑塊仍可能由于滑塊的內螺紋與絲桿的外螺紋之間的間隙的存在而左右或者上下搖晃，從而引起誤差，造成重復精度的下降。本專利技術是為了解決上述的問題而研發的，其目的在于提供一種帶有防止滑塊晃動的機械裝置、能夠消除滑塊的左右或者上下晃動的用于分光光度計的正弦機構。解決課題的手段為了實現上述目的，本專利技術所涉及的用于分光光度計的正弦機構，包括電動機；支架；設置在所述支架上，由所述電動機驅動的絲桿；設置在所述支架上，并與所述絲桿平行的導桿；滑塊，所述滑塊具有第一通孔以及套接構件，在第一通孔的內周面上設有內螺紋，所述滑塊以所述內螺紋與所述絲桿上的外螺紋相嚙合的狀態裝配于所述絲桿上，所述套接構件四周閉合地套接于所述導桿上且使得所述滑塊僅能夠沿著所述導桿的軸向運動。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，在所述套接構件內設有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在所述導桿上。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，在所述套接構件內設有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的四列滾珠，所述四列滾珠抵壓在所述導桿上。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，所述套接構件為一直線軸承。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，所述套接構件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm 以下。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，所述套接構件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm 以下。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，在所述第二通孔內還設有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm 以下。根據本專利技術的用于分光光度計的正弦機構，其中，在所述第二通孔內還設有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm 以下。專利技術的效果根據本專利技術，由于正弦機構帶有防止滑塊晃動的機械裝置，能夠消除滑塊的左右或者上下晃動，從而能夠提高分光光度計在波長掃描時的波長重復度。另外，在使用直線軸承的技術方案中，由于滾珠以極小的摩擦阻力滾動，使用載荷小，滑塊能夠高精度地平穩運動。附圖說明圖1是現有的用于分光光度計的正弦機構的主視剖面圖。圖2是現有的用于分光光度計的正弦機構的左視剖面圖。圖3是本專利技術涉及的用于分光光度計的正弦機構的一實施例的主視剖面圖。圖4是本專利技術涉及的用于分光光度計的正弦機構的一實施例的左視剖面圖。符號說明1，7…軸承、2…支架、3…絲桿、4…滑塊、5…螺釘、6…導桿、8…彈簧、9…鋼珠、10…電動機、11…套接構件、12…凹槽、13…狹縫具體實施例方式以下，通過圖3和圖4對本專利技術所涉及的用于分光光度計的正弦機構的實施形態進行說明。在圖3和圖4中使用與圖1和圖2中相同的標號來表示相同或相似的部件。圖3和圖4表示了本專利技術的一實施形態。該實施形態與上述的現有技術相比，主要區別為在滑塊4上用套接構件11取代了凹槽12，其他結構與現有技術大致相同，在此略去詳細說明。如圖3和圖4所示，套接構件11四周閉合地套接在導桿6上，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。另外，如圖3和圖4所示，在套接構件11內設有沿與導桿6的軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在導桿6上。當電動機10驅動絲桿3旋轉使得滑塊4左右移動時，滾珠在導桿6的外周面上以極小的摩擦阻力滾動，對滑塊4進行導向。如此，至少三列滾珠在垂直于導桿6軸向的圓周方向上等分分布，分別與導桿6進行線接觸，并在垂直于導桿6軸向的三個以上的方向上抵壓導桿6，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。在此， 所謂的等分分布是指大致上的等分分布，并不要求相鄰兩列滾珠相對于導桿6軸線的夾角嚴格相等，只要各列滾珠相對均勻地分布在導桿6的圓周方向上，能夠達到限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動的目的即可。另外，在本實施例中各列滾珠呈直列分布，然而本專利技術并不限定于此，各列滾珠也可以呈其他的形式均勻分布，例如，各列滾珠可以在套接構件11內呈相互平行的螺旋線狀分本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于分光光度計的正弦機構，其特征在于，包括：電動機；支架；設置在所述支架上，由所述電動機驅動的絲桿；設置在所述支架上，并與所述絲桿平行的導桿；滑塊，所述滑塊具有第一通孔以及套接構件，在所述第一通孔的內周面上設有內螺紋，所述滑塊以所述內螺紋與所述絲桿上的外螺紋相嚙合的狀態裝配于所述絲桿上，所述套接構件四周閉合地套接于所述導桿上且使得所述滑塊僅能夠沿著所述導桿的軸向運動。

【技術特征摘要】
1.一種用于分光光度計的正弦機構，其特征在于，包括 電動機； 支架； 設置在所述支架上，由所述電動機驅動的絲桿； 設置在所述支架上，并與所述絲桿平行的導桿； 滑塊，所述滑塊具有第一通孔以及套接構件，在所述第一通孔的內周面上設有內螺紋，所述滑塊以所述內螺紋與所述絲桿上的外螺紋相嚙合的狀態裝配于所述絲桿上，所述套接構件四周閉合地套接于所述導桿上且使得所述滑塊僅能夠沿著所述導桿的軸向運動。2.如權利要求1所述的正弦機構，其特征在于，在所述套接構件內設有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在所述導桿上。3.如權利要求1所述的正弦機構，其特征在于，在所述套接構件內設有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的四列滾珠，所述四列滾珠抵壓在所...

【專利技術屬性】
技術研發人員：査曉，
申請(專利權)人：株式會社島津制作所，
類型：發明
國別省市：