【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及電池測試領(lǐng)域，具體來說是電池測試設(shè)備大功率恒流設(shè)備。
技術(shù)介紹
電池測試中的恒流裝置大多數(shù)是由晶體管并聯(lián)構(gòu)成的，隨著電流的增大晶體管的并聯(lián)數(shù)量增加。一般晶體管選用BJT(雙極型的晶體管)，利用BJT并聯(lián)作為恒流裝置，驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)麻煩，但是多路并聯(lián)不容易產(chǎn)生震蕩。現(xiàn)市場的電池測試設(shè)備中的恒流裝置大部分采用的是BJT —路驅(qū)動(dòng)，控制多個(gè)并聯(lián)的BJT組成大功率的恒流裝置，這種設(shè)計(jì)對(duì)BJT個(gè)體的參數(shù)要求比較嚴(yán)格，要求型號(hào)和批次必須一致，如果同一路驅(qū)動(dòng)并聯(lián)的BJT個(gè)體損壞一般需要全部更換同一批次的個(gè)體，造成維修成本高。如果設(shè)計(jì)成個(gè)體驅(qū)動(dòng)獨(dú)立，由于此晶體管為電流控制型,驅(qū)動(dòng)成本大。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)解決的技術(shù)問題是，提供一種穩(wěn)定的電池測試設(shè)備大功率恒流裝置，其結(jié)構(gòu)簡單、使用壽命有效延長。為了解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)提供的技術(shù)方案是一種電池測試設(shè)備大功率恒流裝置，包括MCU控制模塊、DA輸出模塊和MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊，它們互相電連接；優(yōu)選的，所述MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊包括兩個(gè)以上并聯(lián)的MOSFET恒流電路；優(yōu)選的，所述電連接是通過導(dǎo)線連接；優(yōu)選的，所述電連接是通過印刷電路板連接。和現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)產(chǎn)生的技術(shù)效果是，結(jié)構(gòu)簡單，成本低；單個(gè)MOSFET個(gè)體的損壞不需要更換其同一驅(qū)動(dòng)并聯(lián)的其他個(gè)體；延長工作壽命。附圖說明圖1是本技術(shù)所述電池測試設(shè)備大功率恒流裝置的電路原理示意圖。圖中，1. MCU控制模塊；2. DA輸出模塊；3. MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本技術(shù)做詳細(xì)說明。如圖1所示，本實(shí)施例中，所述電池測試設(shè)備大功率恒流裝置包括MCU...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種電池測試設(shè)備大功率恒流裝置，其特征在于：包括MCU控制模塊、DA輸出模塊和MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊，它們互相電連接。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種電池測試設(shè)備大功率恒流裝置，其特征在于包括MCU控制模塊、DA輸出模塊和MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊，它們互相電連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電池測試設(shè)備大功率恒流裝置，其特征在于所述MOSFET驅(qū)動(dòng)模塊包括兩個(gè)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張建國，杜學(xué)平，
申請(專利權(quán))人：青島美凱麟科技有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：
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