一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)制造技術(shù)

本實(shí)用新型專利技術(shù)公開(kāi)一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)。該加速度計(jì)包括基體，在基體內(nèi)分別設(shè)置有用于檢測(cè)線X向、Y向和Z向振動(dòng)的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊，每個(gè)模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊，所述的高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊均設(shè)置有自檢晶體片，自檢晶體片連接有自檢導(dǎo)電片；所有的高頻輸出端子和低頻輸出端子分別與六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊連接，六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊和自檢導(dǎo)電片通過(guò)屏蔽電纜引出到基體上的插座。采用該技術(shù)方案的壓電式加速度計(jì)，嵌入自檢晶體片，自我能夠提供振動(dòng)源，達(dá)到模擬實(shí)際工作狀態(tài)的功能，從而檢測(cè)高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊是否能夠正常工作；高低頻分別輸出信號(hào)，使提供的信號(hào)更加準(zhǔn)確。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過(guò)期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)涉及壓電式加速度計(jì)，尤其涉及一種可以同時(shí)提供三維方向的高低頻信號(hào)的帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)。
技術(shù)介紹
傳統(tǒng)的壓電式加速度計(jì)主要存在以下幾個(gè)問(wèn)題傳統(tǒng)三維壓電式加速度計(jì)只能測(cè)試三個(gè)方向的振動(dòng)參數(shù)，不具備同時(shí)從敏感端開(kāi)始分別測(cè)試三維的高頻、低頻信號(hào)；傳統(tǒng)的壓電式加速度計(jì)不具備從敏感端開(kāi)始對(duì)整體功能的自檢，致使安裝在現(xiàn)場(chǎng)的加速度計(jì)是否出現(xiàn)故障無(wú)法檢測(cè)；傳統(tǒng)的壓電式加速度計(jì)內(nèi)部不具備可調(diào)截止頻率的高達(dá)45dB衰減的低通濾波器。隨著振動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域要求的提高，對(duì)振動(dòng)的高頻和低頻信號(hào)分別采用不同靈敏度和頻率范圍的敏感部件進(jìn)行多參數(shù)輸出，同時(shí)能夠隨時(shí)檢測(cè)加速度計(jì)和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的工作狀態(tài)是否正常，正變得日益迫切。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種微型結(jié)構(gòu)，具有自檢功能，同時(shí)提供三維方向高頻、低頻信號(hào)的帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)采用如下技術(shù)方案一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，包括基體，在基體內(nèi)分別設(shè)置有用于檢測(cè)線X向、Y向和Z向振動(dòng)的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊，每個(gè)模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊，所述的高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊均設(shè)置有自檢晶體片和高頻輸出端子和低頻輸出端子，自檢晶體片連接有自檢導(dǎo)電片；所有的高頻輸出端子和低頻輸出端子分別與六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊連接，六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊和自檢導(dǎo)電片通過(guò)屏蔽電纜引出到基體上的插座。在基體內(nèi)分別設(shè)置有用于檢測(cè)線X向、Y向和Z向振動(dòng)的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊，這樣可以提供三維方向的振動(dòng)信號(hào)；每個(gè)模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊，這樣可以同時(shí)提供三個(gè)方向的高頻振動(dòng)信號(hào)和低頻振動(dòng)信號(hào)；X向模塊、Y向模塊和Z向模塊分別設(shè)置有自檢晶體片，自檢晶體片連接有自檢導(dǎo)電片，利用自檢晶體片的逆壓電效應(yīng)，在加載自檢信號(hào)時(shí)實(shí)現(xiàn)其形變，以產(chǎn)生相應(yīng)的振動(dòng)信號(hào)，自我能夠提供振動(dòng)源，達(dá)到模擬實(shí)際工作狀態(tài)的功能，從而檢測(cè)高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊是否能夠正常工作。所述的高頻檢測(cè)模塊包括套接有絕緣套的螺桿，在螺桿的一端設(shè)置有螺母、質(zhì)量塊、自檢晶體片、高頻晶體片和高頻輸出端子，所述的低頻檢測(cè)模塊包括套接有絕緣套的螺桿，螺桿一端設(shè)置有螺母、質(zhì)量塊、自檢晶體片、低頻晶體片和低頻輸出端子，所述的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊外側(cè)設(shè)置有內(nèi)蓋和底座構(gòu)成的屏蔽盒體，螺桿另一端的安裝在底座上。X向模塊、Y向模塊和Z向模塊通過(guò)螺桿固定在屏蔽盒體的底座上，隔離設(shè)計(jì)，X向模塊、Y向模塊和Z向模塊分別獨(dú)立于屏蔽盒體，獨(dú)立于基體；使屏蔽盒體形成一個(gè)有效的屏蔽體，提聞抗干擾性能。所述X向模塊的兩個(gè)螺桿同軸設(shè)置，Y向模塊的兩個(gè)螺桿同軸設(shè)置，X向模塊和Y向模塊設(shè)置在同一屏蔽盒體內(nèi)，X向模塊和Y向模塊的螺桿垂直設(shè)置。所述Z向模塊的兩個(gè)螺桿設(shè)置為一體。高頻晶體片和低頻晶體片利用壓電晶體片的正壓電效應(yīng)，將其敏感軸與其極化軸保持一致，在感受該方向的振動(dòng)時(shí)，高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊之間隔離，并根據(jù)測(cè)試量來(lái)確定其數(shù)量和靈敏度，以感受不同方向、不同頻率的振動(dòng)信號(hào)，并將該信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。所述的屏蔽盒體通過(guò)螺環(huán)固定在基體內(nèi)，在屏蔽盒體的底部與基體之間設(shè)置有隔離片。隔離片進(jìn)一步保證了 X向模塊、Y向模塊和Z向模塊得到更好的屏蔽，提高抗干擾性倉(cāng)泛。所述的六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊包括X向高頻信號(hào)處理模塊、Y向高頻信號(hào)處理模塊、Z向高頻信號(hào)處理模塊、X向低頻信號(hào)處理模塊、Y向低頻信號(hào)處理模塊和Z向低頻信號(hào)處理模塊。所述X向高頻信號(hào)處理模塊、Y向高頻信號(hào)處理模塊、Z向高頻信號(hào)處理模塊、X向低頻信號(hào)處理模塊、Y向低頻信號(hào)處理模塊和Z向低頻信號(hào)處理模塊均包括阻抗變換電路、高通電路、放大電路、可調(diào)高階低通濾波電路、偏置調(diào)整電路。由獨(dú)立的阻抗變換電路、高通電路、放大電路、可調(diào)高階低通濾波電路、偏置調(diào)整電路，抗變換電路將高阻的高頻輸出端子和低頻輸出端子輸出的電荷信號(hào)轉(zhuǎn)換成低阻的電壓信號(hào)，設(shè)置高通電路以濾波低頻的無(wú)用信號(hào)，并將信號(hào)調(diào)理到相應(yīng)的幅度；可調(diào)的可調(diào)高階低通濾波電路可將無(wú)用的高頻信號(hào)衰減到最小程度，以保證信號(hào)的質(zhì)量；偏置調(diào)整電路可將輸出信號(hào)調(diào)整到后續(xù)的測(cè)試系統(tǒng)中。與
技術(shù)介紹
相比，本技術(shù)帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，嵌入自檢晶體片，自我能夠提供振動(dòng)源，達(dá)到模擬實(shí)際工作狀態(tài)的功能，從而檢測(cè)高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊是否能夠正常工作；高低頻分別輸出信號(hào)，可以根據(jù)實(shí)際信號(hào)的頻率成分，分別處理信號(hào)，使信號(hào)輸出的信噪比做到很高，使提供的信號(hào)更加準(zhǔn)確；X向模塊、Y向模塊和Z向模塊通過(guò)螺桿固定在屏蔽盒的底座上，隔離設(shè)計(jì)，使X向模塊、Y向模塊和Z向模塊分別獨(dú)立于屏蔽盒體，獨(dú)立于基體；使屏蔽盒體形成一個(gè)有效的屏蔽體，提高抗干擾性能；集成三維反向、高低頻六參數(shù)測(cè)量并帶自檢、信號(hào)處理，使整個(gè)產(chǎn)品的功能得到高度集成化，微型化；不僅功能強(qiáng)大、成本也得到有效控制、使用極為方便，并為在線檢測(cè)與判斷提供了有力的依據(jù)。附圖說(shuō)明圖1為本技術(shù)的外部結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本技術(shù)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為圖2的側(cè)視圖。圖4本技術(shù)的原理框圖。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式，進(jìn)一步闡明本技術(shù)，應(yīng)理解這些實(shí)施方式僅用于說(shuō)明本技術(shù)而不用于限制本技術(shù)的范圍，在閱讀了本技術(shù)之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員對(duì)本技術(shù)的各種等價(jià)形式的修改均落于本申請(qǐng)所附權(quán)利要求所限定的范圍。本技術(shù)公開(kāi)了一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)。如圖1、圖2和圖3所示，一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，包括基體100，在基體100內(nèi)設(shè)置有兩個(gè)屏蔽盒體1，給屏蔽盒體包括內(nèi)蓋11和底座12，內(nèi)蓋與底座之間通過(guò)卡接配合，底座12通過(guò)螺栓5安裝在基體內(nèi)，在底座與基體之間安裝有隔離片6，在其中一個(gè)屏蔽盒體內(nèi)安裝有用于檢測(cè)線X向和Y向振動(dòng)的X向模塊101和Y向模塊102，另一個(gè)屏蔽盒體內(nèi)安裝有用于檢測(cè)線Z向的Z向模塊103 ；X向模塊、Y向模塊和Z向模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊2和低頻檢測(cè)模塊3，高頻檢測(cè)模塊2和低頻檢測(cè)模塊3之間利用底座12間隔設(shè)置；所述的高頻檢測(cè)模塊2包括套接有絕緣套27的螺桿21，在螺桿的一端設(shè)置有螺母22、質(zhì)量塊23、自檢晶體片24、高頻晶體片25和高頻輸出端子26，螺桿的另一端安裝在底座12內(nèi)，在螺母的作用下依次將質(zhì)量塊23、自檢晶體片24、高頻晶體片25和高頻輸出端子26安裝在底座上，所述的低頻檢測(cè)模塊3包括套接有絕緣套37的螺桿31，螺桿一端設(shè)置有螺母32、質(zhì)量塊33、自檢晶體片34、低頻晶體片35和低頻輸出端子36，螺桿的另一端安裝在底座12內(nèi)，在螺母的作用下依次將質(zhì)量塊33、自檢晶體片34、低頻晶體片35和低頻輸出端子36安裝在底座上，自檢晶體片24、34連接有自檢導(dǎo)電片4 ；所有的高頻輸出端子26和低頻輸出端子36分別連接在六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊上，六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊和自檢導(dǎo)電片通過(guò)屏蔽電纜引出到基體上的插座104 ；X向模塊的高頻檢測(cè)模塊2和低頻檢測(cè)模塊3的兩個(gè)螺桿同軸安裝在底座12上，Y向模塊的高頻檢測(cè)模塊2和低頻檢測(cè)模塊3兩個(gè)螺桿同軸設(shè)置，X向模塊和Y向模塊的螺桿垂直設(shè)置，所述Z向模塊的兩個(gè)螺桿設(shè)置為一體；所述的六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊包括X向高頻信號(hào)處理模本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，包括基體，其特征在于：在基體內(nèi)分別設(shè)置有用于檢測(cè)線X向、Y向和Z向振動(dòng)的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊，每個(gè)模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊，所述的高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊均設(shè)置有自檢晶體片和高頻輸出端子和低頻輸出端子，自檢晶體片連接有自檢導(dǎo)電片；所有的高頻輸出端子和低頻輸出端子分別與六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊連接，六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊和自檢導(dǎo)電片通過(guò)屏蔽電纜引出到基體上的插座。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，包括基體，其特征在于在基體內(nèi)分別設(shè)置有用于檢測(cè)線X向、Y向和Z向振動(dòng)的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊，每個(gè)模塊均設(shè)置有高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊，所述的高頻檢測(cè)模塊和低頻檢測(cè)模塊均設(shè)置有自檢晶體片和高頻輸出端子和低頻輸出端子，自檢晶體片連接有自檢導(dǎo)電片；所有的高頻輸出端子和低頻輸出端子分別與六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊連接，六路獨(dú)立信號(hào)調(diào)理模塊和自檢導(dǎo)電片通過(guò)屏蔽電纜引出到基體上的插座。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，其特征在于所述的高頻檢測(cè)模塊包括套接有絕緣套的螺桿，在螺桿的一端設(shè)置有螺母、質(zhì)量塊、自檢晶體片、高頻晶體片和高頻輸出端子，所述的低頻檢測(cè)模塊包括套接有絕緣套的螺桿，螺桿一端設(shè)置有螺母、質(zhì)量塊、自檢晶體片、低頻晶體片和低頻輸出端子，所述的X向模塊、Y向模塊和Z向模塊外側(cè)設(shè)置有內(nèi)蓋和底座構(gòu)成的屏蔽盒體，螺桿另一端的安裝在底座上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的帶自檢功能的三維六參數(shù)壓電式加速度計(jì)，其特征在于所述X向模塊...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳啟山，戴虹，王良明，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：揚(yáng)州英邁克測(cè)控技術(shù)有限公司，
類型：實(shí)用新型
國(guó)別省市：