本發明專利技術涉及一種BOB系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法，屬于PON技術領域。本發明專利技術的應用于BOB系統的光組件溫度檢測裝置包括計時單元、溫升表存儲單元和溫度檢測控制單元。而本發明專利技術的溫度檢測方法在BOB系統開始運行時，利用計時單元開始計時；溫度檢測控制單元根據系統運行時間信息查找溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得相應的溫升數據；并根據環境溫度和溫升數據確定光組件溫度，保證了溫度檢測的響應速度和準確性。本發明專利技術還涉及基于溫度檢測方法實現BOB系統校準控制的方法。本發明專利技術的BOB系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法，其裝置結構較為簡單，成本低廉，方法應用方式簡便，應用范圍也較為廣泛。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及無源光網絡
，特別涉及電路板集成光組件系統
，具體是指ー種BOB系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法。
技術介紹
在PON (無源光網絡)終端設備的生產過程中，需要對光組件進行校準，以保證光功率滿足系統的要求。由于光組件屬于模擬器件，在不同的溫度下，電氣特性區別較大，所以需要準確地檢測光組件當前的溫度。在BOB系統(電路板集成光組件系統)中，熱量的主要傳播路徑為光組件本體一光組件管腳一PCB —溫度傳感器。其中，光組件管腳至PCB這一路徑的熱阻較大，導致熱量從光組件本體傳到溫度傳感器的時間較長，因此出現現有技術中溫度傳感器不能及時反饋光組件本體溫度的問題。在終端開機的過程中，整個機箱內的溫度會不斷上升，最終相對于某ー環境溫度達到穩定狀態。由于光組件安裝于終端設備中，終端設備的熱量也會通過PCB傳到光組件上，造成光組件溫度隨之上升。如前所述的，對光組件的校準需要在某一已知的溫度下進行。但是由于生產環境的限制，大部分時候無法用溫度計去測試每一臺終端設備中光組件的溫度。并且從終端開機到溫度穩定下來的時間較長，而在這個過程中光組件的溫度也在不斷上升，因此，對BOB系統光組件的生產過程中，對其校準造成了困難。
技術實現思路
本專利技術的目的是克服了上述現有技術中的缺點，提供ー種在BOB系統光組件的生產過程中，能夠通過讀取當前的開機時間，判斷目前的溫升，進而計算出光組件當前的準確溫度值，從而保證溫度檢測響應速度快，溫度檢測準確，且結構較為簡單，成本低廉，應用方式簡便，應用范圍較為廣泛的電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法。為了實現上述的目的，本專利技術的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置具有如下構成所述的裝置包括計時單元、溫升表存儲單元和溫度檢測控制単元。所述的計時單元用以記錄所述的電路板集成光組件系統的運行時間；溫升表存儲單元用以存儲電路板集成光組件系統的運行時間與光組件溫升的對照關系表；溫度檢測控制単元用以根據所述的計時單元獲得的運行時間查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得光組件溫升數據。該應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置還包括溫度傳感器，所述的溫度傳感器靠近所述的光組件設置并連接所述的溫度檢測控制単元。本專利技術還提供ー種利用所述的裝置實現電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測控制方法，該方法包括以下步驟( I)根據用戶操作，所述的電路板集成光組件系統開始運行，所述的計時單元開始計時；(2)所述的溫度檢測控制単元從所述的計時單元獲得系統運行時間信息；(3)所述的溫度檢測控制単元根據所述的系統運行時間信息查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得相應的溫升數據；(4)所述的溫度檢測控制単元根據環境溫度和所述的溫升數據，確定光組件溫度。該實現電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測的控制方法中，所述的裝置還包括溫度傳感器，所述的溫度傳感器靠近所述的光組件設置并連接所述的溫度檢測控制單元，所述的方法還包括以下步驟(5)所述的溫度檢測控制単元從所述的溫度傳感器獲得溫度數據；(6)所述的溫度檢測控制單元將根據所述的步驟(5)獲得的溫度數據和所述的步驟(4 )獲得的光組件溫度的平均值確定為光組件實際溫度。本專利技術還提供一種基于所述的方法實現電路板集成光組件系統校準控制的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟(A)按照上述方法中的步驟(I) (4)檢測光組件溫度；(B)在所述的光組件達到預設的溫度吋，對所述的電路板集成光組件系統進行校準。采用了該專利技術的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置包括計時単元、溫升表存儲單元和溫度檢測控制単元。而本專利技術的溫度檢測方法在電路板集成光組件系統開始運行時，利用計時單元開始計時；溫度檢測控制単元根據系統運行時間信息查找溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得相應的溫升數據；并根據環境溫度和溫升數據確定光組件溫度。從而保證了溫度檢測的響應速度和準確性。本專利技術還涉及基于所述的溫度檢測方法實現電路板集成光組件系統校準控制的方法。本專利技術的電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法，其裝置結構較為簡単，成本低廉，方法應用方式簡便，應用范圍也較為廣泛。附圖說明圖1為本專利技術的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置的結構示意圖。具體實施例方式為了能夠更清楚地理解本專利技術的
技術實現思路
，特舉以下實施例詳細說明。請參閱圖1所示，為本專利技術的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置的結構示意圖。在一種實施方式中，該應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置包括計時單元、溫升表存儲單元和溫度檢測控制単元。其中，計時單元用以記錄所述的電路板集成光組件系統的運行時間；溫升表存儲單元用以存儲電路板集成光組件系統的運行時間與光組件溫升的對照關系表；溫度檢測控制単元用以根據所述的計時單元獲得的運行時間查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得光組件溫升數據。利用該實施方式所述的裝置實現電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測控制方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟( I)根據用戶操作，所述的電路板集成光組件系統開始運行，所述的計時單元開始計時；(2)所述的溫度檢測控制単元從所述的計時單元獲得系統運行時間信息；(3)所述的溫度檢測控制単元根據所述的系統運行時間信息查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得相應的溫升數據；(4)所述的溫度檢測控制単元根據環境溫度和所述的溫升數據，確定光組件溫度。基于該方法實現電路板集成光組件系統校準控制的方法，其特征在于，所述的校準控制的方法包括以下步驟(A)按照上述的方法中的步驟(I) (4)檢測光組件溫度；(B)在所述的光組件達到預設的溫度吋，對所述的電路板集成光組件系統進行校準。在優選的實施方式中，所述的裝置還包括溫度傳感器，所述的溫度傳感器靠近所述的光組件設置并連接所述的溫度檢測控制単元。利用該優選的實施方式所述的裝置實現電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測控制方法還包括以下步驟(5)所述的溫度檢測控制単元從所述的溫度傳感器獲得溫度數據；(6)所述的溫度檢測控制單元將根據所述的步驟(5)獲得的溫度數據和所述的步驟(4 )獲得的光組件溫度的平均值確定為光組件實際溫度。在本專利技術的應用中，對于相同的光網絡終端，相同的機箱結構，整個開機過程也是相同的。在研發階段，通過測試開機時間和光組件的溫度變化，得到ー個溫升的數據表。在生產過程中，通過讀取當前的開機時間，就能從溫度表中查找到目前的溫升，進而計算出光組件當前的準確溫度值。采用了該專利技術的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置包括計時単元、溫升表存儲單元和溫度檢測控制単元。而本專利技術的溫度檢測方法在電路板集成光組件系統開始運行時，利用計時單元開始計時；溫度檢測控制単元根據系統運行時間信息查找溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得相應的溫升數據；并根據環境溫度和溫升數據確定光組件溫度。從而保證了溫度檢測的響應速度和準確性。本專利技術還涉及基于所述的溫度檢測方法實現電路板集成光組件系統校準控制的方法。本專利技術的電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置、方法及系統校準方法，其裝置結構較為簡單，成本低廉，方法應用方式簡便，應用范本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置，其特征在于，所述的裝置包括：計時單元，用以記錄所述的電路板集成光組件系統的運行時間；溫升表存儲單元，用以存儲電路板集成光組件系統的運行時間與光組件溫升的對照關系表；溫度檢測控制單元，用以根據所述的計時單元獲得的運行時間查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得光組件溫升數據。
【技術特征摘要】
1.一種應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置，其特征在于，所述的裝置包括 計時單元，用以記錄所述的電路板集成光組件系統的運行時間； 溫升表存儲單元，用以存儲電路板集成光組件系統的運行時間與光組件溫升的對照關系表; 溫度檢測控制單元，用以根據所述的計時單元獲得的運行時間查找所述的溫升表存儲單元存儲的對照關系表，獲得光組件溫升數據。2.根據權利要求1所述的應用于電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測裝置，其特征在于，所述的裝置還包括 溫度傳感器，所述的溫度傳感器靠近所述的光組件設置并連接所述的溫度檢測控制單J Li ο3.一種利用權利要求1所述的裝置實現電路板集成光組件系統的光組件溫度檢測控制方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟 (1)根據用戶操作，所述的電路板集成光組件系統開始運行，所述的計時單元開始計時； (2)所述的溫度檢測控制單元從所述的計時單元獲得系統運行時間信息； (3)所述的溫度檢測控制單元...
【專利技術屬性】
技術研發人員：喻捷，張杰，
申請(專利權)人：上海市共進通信技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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