使用S?參數的增強的任意波形發生器波形校準制造技術

本發明專利技術的實施例提供了利用S?參數來校準任意波形發生器的增強的方法以及根據這些方法校準的任意波形發生器。提供所述方法用于校準任意波形發生器的單個、非交錯信道，校準多個交錯信道，以及校準交錯的和非交錯的多對信道，以生成差分信號。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及測試和測量儀器，并且更具體地，本專利技術涉及任意波形發生器的校準。
技術介紹
任意波形發生器(AWG)是用來生成具有實際上任何波形的模擬信號的測試和測量儀器。操作中，用戶將期望的模擬信號逐點地限定為ー系列的數字值。AWG然后使用精度數字模擬轉換器來“播放”數字值以提供模擬信號。諸如可從Oregon的Beaverton的Tektronix公司獲得的AWG7000任意波形發生器系列之類的AWG用于寬帶信號發生應用、高速串行數據的接收器壓力測試、以及需要復雜信號創建的其他應用。由于各種原因，由AWG產生的信號的測量頻率特性有時候不同于其輸入波形數據的頻率特性。已經提出了校準技術以校正AWG的輸出響應，然而，這些技術中沒有一種被證明是完全令人滿意的。因此，存在對于增強的校準AWG的方法的需要。
技術實現思路
本專利技術的實施例提供了利用S-參數來校準任意波形發生器的增強的方法，以及根據這些方法校準的任意波形發生器。提供這些方法用于校準任意波形發生器的單個、非交錯信道，校準多個交錯信道，以及校準交錯和非交錯兩者的多對信道，以生成差分信號。本專利技術的目的、優點和其他新穎的特征將在結合所附權利要求和附圖來閱讀吋，從下面的詳細描述中顯而易見。附圖說明圖1描繪了根據本專利技術的第一實施例的任意波形發生器的簡化的高級框圖。圖2描繪了對應于圖1的第一信號流圖形。圖3描繪了對應于圖1的第二信號流圖形。圖4描繪了對應于圖1的方法。圖5描繪了根據本專利技術的第二實施例的任意波形發生器的簡化的高級框圖。圖6描繪了對應于圖5的第一信號流圖形。圖7描繪了對應于圖5的第二信號流圖形。圖8描繪了對應于圖5的方法。具體實施例方式1.對反射波的考慮專利技術人已經認識到，AWG似乎具有不完美的輸出響應，因為現有的AWG校準技術沒有考慮AWG與測量儀器之間的反射波在校準期間的交互作用、或者AWG與被測試裝置(DUT)之間的反射波在使用期間的交互作用。因此，本專利技術的實施例提供了校準AWG的信道的方法以及根據這些方法校準的任意波形發生器，所述方法和任意波形發生器不僅考慮了信道的輸出響應，而且還考慮了 AWG與測量儀器之間的反射波在校準期間的交互作用、以及AWG與DUT之間的反射波在使用期間的交互作用。圖1描繪了根據本專利技術的實施例的具有單個、非交錯信道的AWG100。在工作中，處理器105接收描述期望的輸出模擬信號的波形數據。該波形數據可以從存儲器、存儲裝置等接收。處理器105可以實現為在通用微處理器、專用特定應用集成電路(ASIC)、場效應可編程門陣列(FPGA)等上運行的軟件。處理器105將校正濾波器g應用于波形數據，以校正信道的輸出響應。可以通過將校正濾波器g與波形數據在時域中卷積、或者通過將校正濾波器g與波形數據在頻域中相乘在一起來將校正濾波器g應用于波形數據。使用數字到模擬轉換器(DAC) 110將處理過的波形數據轉化成模擬信號。模擬信號被模擬輸出電路115濾波，模擬輸出電路115可以包括放大器、衰減器、開關、重構濾波器等。被濾波的模擬信號然后被應用于DUT120。“單個、非交錯信道”指的是從DAC 110通過模擬輸出電路115的信號路徑。在一些實施例(未不出)中，DAC 110提供差分輸出。在該情況中,兩個輸出 可以被認為是ー對信道或單個差分信道。在一些實施例中，校正濾波器g被如下地計算現在參照圖2，利用諸如采樣示波器之類的校準測量儀器來測量信道的輸出響應(幅度和相位)。利用諸如時域反射儀(TDR)或網絡分析儀之類的校準測量儀器來測量源匹配或反射系數。它們一起形成源S21s和S22s的S-參數。為了在后面的分析中清楚起見，這些被分別寫成T和rs。 ty=C U Gl方程⑴Slls和S12s等于0，因為DAC的輸入本質上是數字的，而非模擬的，且因此沒有應用于其輸入的數字數據被反射回，并且沒有應用于其輸出的模擬信號能夠穿過到達其輸入。為了完成分析，DUT輸入反射系數(rL)必須是已知的。然后，響應方程可以寫成b2 = asg1 +a2 T s方程⑵a2 = b2 T L方程⑶將方程(3)替換到方程⑵中，產生b2 = asg1 +b2 T L T s方程(4)重排方程⑷以對b2進行求解，則產生h =方程(5)將方程(5)替換到方程(3)中，產生方程(6)A.校準校準測量儀器限定為正確地測量來自匹配的50歐姆源的入射波的相位和幅度的儀器。其輸入并非必然匹配，并且具有輸入反射系數r\。類似地，校準的AWG限定為產生進入到匹配的50歐姆負載內的精確波形并且具有輸出反射系數、的AWG。在該情況下，方程(5)簡化為本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種校準任意波形發生器的信道的方法，包括以下步驟：測量所述信道的輸出響應(τ)；測量所述信道的源匹配(Γs)；確定被測試裝置的輸入反射系數(ΓL)；以及基于τ、Γs和ΓL計算用于所述信道的校正濾波器(g)。

【技術特征摘要】
2011.09.23 US 13/243,0241.一種校準任意波形發生器的信道的方法，包括以下步驟測量所述信道的輸出響應(τ);測量所述信道的源匹配(rs);確定被測試裝置的輸入反射系數(Γ\);以及基于τ、^和Γ\計算用于所述信道的校正濾波器(g)。2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述信道是單個、非交錯信道。3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述信道包括多個交錯...

【專利技術屬性】
技術研發人員：J·E·卡爾森，
申請(專利權)人：特克特朗尼克公司，
類型：發明
國別省市：