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    一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件制造技術

    技術編號:8511994 閱讀:199 留言:0更新日期:2013-03-30 09:26
    本實用新型專利技術公開了一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座、支承架底座,測量架底座設置有測量球、第一螺絲孔、第二螺絲孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺絲孔的外側,第二螺帽孔位于第二螺絲孔的外側;支承架底座設置有第一支承球、第二支承球、第三螺絲孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺絲孔及第三螺帽孔的上方。由于上述工件的支承架底座上設置的支承球位于固定點的上方,因而加大了測量球與支承球之間的垂直距離,于是進一步的擴大了合套儀軸承外圈內徑的尺寸測量范圍。(*該技術在2022年保護過期,可自由使用*)

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及一種工件,尤其是一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件
    技術介紹
    滾珠軸承在合套前,需要測量軸承內圈的外徑及外圈的內徑,從而根據這個數據來計算配套的滾珠的尺寸范圍,并選擇合適的滾珠,從而完成合套的工序。目前市場上有一類合套儀,此類合套儀的調整距離是固定的,因而測量范圍也是固定的,而測量范圍與工件的結構也存在較大的關系,圖1是現有技術的合套儀軸承外圈內徑測量原理圖,如圖1所示,一個測量點和兩個支撐點構成了三點定位,測量點和支撐點之間可調整的垂直距離即為可測量的軸承外圈內徑的尺寸范圍。現有技術的工件的支承架設計通常是支承點在固定點下面,因而導致測量范圍較窄。
    技術實現思路
    本技術針對上述問題,為了解決由于工件的結構導致合套儀測量范圍變窄的問題,目的在于提供一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,能夠擴大合套儀軸承外圈內徑的尺寸測量范圍。為達到上述目的,本技術的技術方案是一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座、支承架底座,測量架底座設置有測量球、第一螺絲孔、第二螺絲孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺絲孔的外側,第二螺帽孔位于第二螺絲孔的外側;支承架底座設置有第一支承球、第二支承球、第三螺絲孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺絲孔及第三螺帽孔的上方。本技術的有益效果是由于上述工件的支承架底座上設置的支承球位于固定點的上方,因而加大了測量球與支承球之間的垂直距離,于是進一步的擴大了合套儀軸承外圈內徑的尺寸測量范圍。附圖說明圖1為現有技術的現有技術的合套儀外圈內徑測量原理圖;圖2為本技術的合套儀軸承外圈內徑測量原理圖;圖3為本技術的支承架底座主視圖;圖4為本技術的支承架底座左視圖;圖5為本技術的測量架底座主視圖;圖6為本技術的測量架底座左視圖。具體實施方式以下結合附圖,并結合實施例,對本技術做進一步的說明。如圖3、圖4、圖5、圖6所示,本技術一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座1、支承架底座11,測量架底座I設置有測量球6、第一螺絲孔2、第二螺絲孔4、第一螺帽孔3、第二螺帽孔5,其中第一螺帽孔3位于第一螺絲孔2的外側,第二螺帽孔5位于第二螺絲孔4的外側;支承架底座11設置有第一支承球7、第二支承球8、第三螺絲孔10、第三螺帽孔9,其中第一支承球7、第二支承球8的位置位于第三螺絲孔10及第三螺帽孔9的上方。本技術的工作原理為如圖2所示,用帶螺帽的螺絲將支承架底座11安裝到合套儀上,其中第三螺絲孔9所在的位置即為固定點,第一支承球7、第二支承球8所在的位置即為支承點,所述的第一支承球7、第二支承球8在同一水平方向,固定點的位置高于支承點的位置;用帶螺帽的螺絲將測量架底座I安裝到合套儀上,第一螺絲孔2、第二螺絲孔4所在的位置即為固定點,測量球6所在的位置即為測量點,測量點位于固定點的下方。在合套儀上,支承架底座11位于測量架底座I的上方。將軸承外圈掛在支承架底座11的第一支承球7、第二支承球8上,移動測量架底座1,當測量球6接觸到軸承外圈時,即可從合套儀上讀數。權利要求1.一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座(I)、支承架底座(11),其特征在于測量架底座(I)設置有測量球(6)、第一螺絲孔(2)、第二螺絲孔(4)、第一螺帽孔(3)、第二螺帽孔(5),其中第一螺帽孔(3)位于第一螺絲孔(2)的外側,第二螺帽孔(5)位于第二螺絲孔(4)的外側;支承架底座(11)設置有第一支承球(7)、第二支承球(8)、第三螺絲孔(10)、第三螺帽孔(9),其中第一支承球(7)、第二支承球(8)的位置位于第三螺絲孔(10)及第三螺帽孔(9)的上方。專利摘要本技術公開了一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座、支承架底座,測量架底座設置有測量球、第一螺絲孔、第二螺絲孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺絲孔的外側,第二螺帽孔位于第二螺絲孔的外側;支承架底座設置有第一支承球、第二支承球、第三螺絲孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺絲孔及第三螺帽孔的上方。由于上述工件的支承架底座上設置的支承球位于固定點的上方,因而加大了測量球與支承球之間的垂直距離,于是進一步的擴大了合套儀軸承外圈內徑的尺寸測量范圍。文檔編號G01B21/14GK202836544SQ201220390849公開日2013年3月27日 申請日期2012年8月7日 優先權日2012年8月7日專利技術者王慧霞, 呂曉春, 楊輝, 陳超, 趙達江 申請人:浙江勝堅軸承機械有限公司本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種用于合套儀軸承外圈尺寸測量的工件,包括測量架底座(1)、支承架底座(11),其特征在于:測量架底座(1)設置有測量球(6)、第一螺絲孔(2)、第二螺絲孔(4)、第一螺帽孔(3)、第二螺帽孔(5),其中第一螺帽孔(3)位于第一螺絲孔(2)的外側,第二螺帽孔(5)位于第二螺絲孔(4)的外側;支承架底座(11)設置有第一支承球(7)、第二支承球(8)、第三螺絲孔(10)、第三螺帽孔(9),其中第一支承球(7)、第二支承球(8)的位置位于第三螺絲孔(10)及第三螺帽孔(9)的上方。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:王慧霞呂曉春楊輝陳超趙達江
    申請(專利權)人:浙江勝堅軸承機械有限公司
    類型:實用新型
    國別省市:

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