一種直流電阻測試儀校準系統技術方案

本發明專利技術公開提供了一種直流電阻測試儀校準系統，該系統采用電氣虛擬復現標準實物電阻方式，根據第一校準支路得到直流電阻測試儀電壓反饋端的輸入阻抗，并根據第二校準支路得到直流電阻測試儀的輸出電流，從而虛擬復現出標準實物電阻。該系統利用電氣虛擬復現標準實物電阻的方式對直流電阻測試儀進行校準，解決了現有技術中由于直流電阻測試儀的校準采用多點校準的方式，同時不同的直流電阻測試儀電流輸出檔位、電阻測量范圍差別較大，標準實物電阻阻值單一，因而標準實物電阻阻值不能完全覆蓋直流電阻測試儀電阻測量范圍的問題。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及電器儀表校驗技術，更具體的說是涉及一種直流電阻測試儀校準系統。
技術介紹
直流電阻測試儀是具有微歐、毫歐或更高量程的電阻測量儀器，其量程范圍一般在O Ω 1001 Ω，其主要 用途是測試線圈的電阻、導線電阻、接觸電阻、焊接電阻和鉚接電阻，在工程測試中有廣泛的應用。直流電阻測試儀測量電阻采用四端測量的電流電壓法。直流電阻測試儀中內置直流電流源，當直流電流源輸出的直流電流I流經被測電阻時，被測電阻兩端將產生電壓降U，直流電阻測試儀通過檢測該電壓降U以及電流源輸出電流I，并利用歐姆定律R=U/I，計算得到被測電阻的電阻值。在應用直流電阻測試儀測量電阻值之前必須對其進行校準，一般可以根據上面描述的直流電阻測試儀測量電阻的原理，用已知電阻值的標準實物電阻作為被測電阻，將儀器測得的電阻值與該標準實物電阻的電阻值作比較，以便確定該直流電阻測試儀的測量值是否準確，實現校準目的。然而，由于不同的直流電阻測試儀電流輸出檔位、電阻測量范圍差別較大，校準時需要對該直流電阻測試儀不同電流檔位的電阻測量性能進行考核，針對每個電流檔位又要進行多點校準。在標準實物電阻配備上，就需要預先制作出多個額定電流，多個不同電阻值的標準實物電阻。例如，被校直流電阻測試儀ImA電流檔電阻測量范圍為200Ω 20k Ω，IA電流檔電阻測量范圍為IOOmΩ 20 Ω，IOA電流檔電阻測量范圍為ImQ 2Ω，為實現對其不同電流檔位多個測量點的校準，標準實物電阻配備的規格差別很大，數量繁多，投資巨大，且采用這種方式很難達到對不同電阻測試儀測量量程的完全覆蓋，從而增大了校準工作的復雜度和難度。專利
技術實現思路
有鑒于此，本專利技術提供一種直流電阻測試儀校準系統，以降低直流電阻測試儀的校準難度和復雜度，提高校準的便捷性。為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案—種直流電阻測試儀校準系統，包括待校準直流電阻測試儀、第一校準支路和第二校準支路；其中，所述第一校準支路的兩個引出端分別與所述直流電阻測試儀的兩個電壓反饋端相連；所述第二校準支路的兩個引出端分別與所述直流電阻測試儀的兩個電流輸出端相連；所述第一校準支路包括測量流經所述第一校準支路的第一電流值的第一電流測量模塊和與所述第一電流測量模塊串聯的電壓源輸出模塊，其中所述電壓源輸出模塊能夠提供不同電壓值的輸出電壓；所述第二校準支路包括測量流經所述第二校準支路的第二電流值的第二電流測量模塊，其中，流經所述第二校準支路的第二電流即為所述直流電阻測試儀的輸出電流。優選的，所述第一電流測量模塊包括阻值為第一電阻值的第一電阻以及與所述第一電阻并聯的第一電壓表。優選的，所述第二電流測量模塊包括阻值為第二電阻值的第二電阻以及與所述第二電阻并聯的第二電壓表。優選的，所述系統還包括第一校準模塊；所述第一校準模塊與所述電壓源輸出模塊、所述第一電流測量模塊以及所述第二電流測量模塊相連；所述第一校準模塊采集流經所述第一校準支路的第一電流值、流經所述第二校準支路的第二電流值以及控制所述電壓源輸出模塊當前輸出的電壓值；參照歐姆定律，并根據所述第一電流值和所述電壓源輸出模塊當前輸出的電壓值計算出所述直流電阻測試儀電壓反饋端的輸入阻抗值；所述第一校準模塊根據當前待虛擬復現的標準實物電阻的電阻值，并結合所述輸入阻抗值和第二電流值，根據待虛擬復現的標準實物電阻與輸入阻抗的并聯關系，利用歐姆定律，計算出所述電壓源輸出模塊待輸出的電壓值，并控制所述電壓源輸出模塊輸出所述待輸出的電壓值。優選的，所述系統還包括第二校準模塊；所述第二校準模塊與所述電壓源輸出模塊、所述第一電流測量模塊以及所述第二校電流測量模塊相連；所述第二校準模塊采集流經所述第一校準支路的第一電流值、流經所述第二校準支路的第二電流值以及控制所述電壓源輸出模塊當前輸出的電壓值；參照歐姆定律，并根據所述第一電流值和所述電壓源輸出模塊當前輸出的電壓值計算出所述直流電阻測試儀電壓反饋端的輸入阻抗值；結合所述電壓源輸出模塊輸出的電壓值、所述輸入阻抗值和所述第二電流值，根據待虛擬復現的標準實物電阻與輸入阻抗的并聯關系，利用歐姆定律，計算出虛擬復現的標準實物電阻的電阻值。優選的，所述校準模塊包括參數采集模塊以及與所述參數采集模塊相連的計算模塊；所述參數采集模塊采集所述電壓源輸出模塊的輸出電壓值、所述第一電流測量模塊輸出的第一電流值以及所述第二電流測量模塊輸出的第二電流值，并將采集到的所述參數發送至所述計算模塊；所述計算模塊于接收所述參數采集模塊發送的參數并根據所述參數進行計算。優選的，所述校準模塊與打印設備相連；所述打印設備接收所述校準模塊輸出的計算結果，并打印輸出所述計算結果。經由上述的技術方案可知，與現有技術相比，本專利技術公開提供了一種直流電阻測試儀校準系統，該系統采用電氣虛擬復現標準實物電阻方式，根據第一校準支路得到直流電阻測試儀電壓反饋端的輸入阻抗，并根據第二校準支路得到直流電阻測試儀的輸出電流，從而虛擬復現出標準實物電阻。該系統利用電氣虛擬復現標準實物電阻的方式對直流電阻測試儀進行校準，解決了現有技術中由于直流電阻測試儀的校準采用多點校準的方式，同時不同的直流電阻測試儀電流輸出檔位、電阻測量范圍差別較大，標準實物電阻阻值單一，因而標準實物電阻阻值不能完全覆蓋直流電阻測試儀電阻測量范圍的問題。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。圖1示出了本專利技術一種直流電阻測試儀校準系統一個實施例的結構示意圖；圖2示出了本專利技術一種直流電阻測試儀校準系統的校準模塊的連接示意圖；圖3示出了本專利技術一種直流電阻測試儀校準系統另一個實施例的結構示意圖；圖4示出了本專利技術一種直流電阻測試儀校準系統的循環工作模式流程圖。具體實施例方式下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。參見圖1，示出了本專利技術一種直流電阻測試儀校準系統一個實施例的結構示意圖，本實施例中，該直流電阻測試儀校準系統包括待校準直流電阻測試儀1、與所述直流電阻測試儀I的兩個電壓反饋端相連的第一校準支路以及與所述直流電阻測試儀I的兩個電流輸出端相連第二校準支路。其中，該第一校準支路包括測量流經第一校準支路的第一電流值的第一電流測量模塊2以及與第一電流測量模塊串聯的可提供不同電壓值的可控電壓源輸出模塊4。該第二校準支路包括測量流經該第二校準支路的第二電流值的第二電流測量模塊3。其中，流經該第二校準支路的第二電流值與該直流電阻測試儀的輸出電流值相同，因此，實際上該第二直流測量模塊可以測量的第二電流值就是該直流電阻測試儀的實際輸出電流值。其中，可控電壓源輸出模塊4可以向外輸出不同的電壓值，根據實際需要可以設定該可控電壓源輸出模塊4輸出的電壓值。在本實施例中，該可控電壓源輸出模塊向直流電阻測試儀I的電壓反饋端提供反饋電壓。利用本實本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種直流電阻測試儀校準系統，其特征在于，包括：待校準直流電阻測試儀、第一校準支路和第二校準支路；其中，所述第一校準支路的兩個引出端分別與所述直流電阻測試儀的兩個電壓反饋端相連；所述第二校準支路的兩個引出端分別與所述直流電阻測試儀的兩個電流輸出端相連；所述第一校準支路包括：測量流經所述第一校準支路的第一電流值的第一電流測量模塊和與所述第一電流測量模塊串聯的電壓源輸出模塊，其中所述電壓源輸出模塊能夠提供不同電壓值的輸出電壓；所述第二校準支路包括：測量流經所述第二校準支路的第二電流值的第二電流測量模塊，其中，流經所述第二校準支路的第二電流即為所述直流電阻測試儀的輸出電流。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：龔金龍，陳靜萍，吳江萍，孫愛強，詹洪炎，
申請(專利權)人：浙江省電力公司電力科學研究院，國家電網公司，
類型：發明
國別省市：