一種β射線法顆粒物校準用標準質量膜片的制作方法，利用了化學蝕刻控制膜片的等效質量，工藝要求低，一般等級的化學實驗室即可進行標準質量膜片的制作，制作所需藥品和材料成本低，獲取方便，可在測量需要時隨時制作，無須從國外進口，保證了測量工作的工作效率，膜片固定穩固，避免了由于膜片粘接不穩固產生形變，造成測量結果不準確的問題，膜片厚度不為固定值，等效質量可在要求范圍內，適用范圍廣。
【技術實現步驟摘要】
本 專利技術涉及一種測量儀器用膜片的制作方法，具體地說，是一種用于測量儀器進行β射線法顆粒物校準用的標準質量膜片的制作方法。
技術介紹
總懸浮顆粒物是大氣質量評價中的一個通用的重要污染指標，指懸浮在空氣中的空氣動力學當量直徑< IOOym的顆粒物。它主要來源于燃料燃燒時產生的煙塵、生產加工過程中產生的粉塵、建筑和交通揚塵、風沙揚塵以及氣態污染物經過復雜物理化學反應在空氣中生成的相應的鹽類顆粒。通常把粒徑在10微米以下的顆粒物稱為ΡΜ10，又稱為可吸入顆粒物或飄塵。顆粒物的直徑越小，進入呼吸道的部位越深。10微米直徑的顆粒物通常沉積在上呼吸道，5微米直徑的可進入呼吸道的深部，2微米以下的可100%深入到細支氣管和肺泡，可吸入顆粒物或飄塵嚴重威脅著人們的身體健康，目前國家對此類空氣污染指標的檢測也越來越重視。檢測空氣中的顆粒物濃度需要使用相關檢測設備進行測量，檢測設備進行顆粒物濃度的檢測主要使用的是β射線法，依靠射線穿過被測量的富集顆粒時引起變化計算等效濃度，因此必須有一套等效于顆粒物質量的膜片來進行前期儀器校準。目前常使用的這類標準膜片只能由國外儀器廠商隨儀器配額供給，售價高昂，可采購的數量少，采購不便且時間周期長，嚴重影響測量工作的工作效率。
技術實現思路
本專利技術針對目前的標準膜片只能由國外供給，售價高昂，可采購的數量少，采購不便且時間周期長，嚴重影響測量工作的工作效率等缺點，提出了一種。本專利技術的，步驟如下I)將光學聚酯膜放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，通過控制蝕刻時間將光學聚酯膜分別蝕刻到 39±0· I μ m、44. 7±0· I μ m、54. 4±0· I μ m 的厚度；2)將光學聚酯膜利用圓形模具裁剪成合適大小的膜片，將厚度為44. 7±0.1 μπι 和54. 4±0.1 μ m的膜片放到放射源與探測器之間連續測試4分鐘，記錄測試所得的等效質量值，重復測試8次取等效質量值的中值，將等效質量值的中值作為各膜片的標準質量；將厚度為39±0.1 μ m的膜片放到放射源與探測器之間進行連續測試，記錄測試所得的等效質量值，將等效質量值與標準質量為0μ g的標準質量膜片測得的等效質量值進行對比，若兩者之間誤差超過±2%，將膜片再次放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，然后取出測試，反復蝕刻測試，直至將膜片蝕刻到測出的等效質量值與標準質量為ομ g的標準質量膜片測得的等效質量值之間的誤差在±2%以內；3)進行粘接的前處理，向膜片邊緣處涂氫氧化鈉溶液并保持一段時間，對膜片邊緣處進行清潔；4)將膜片放入蒸餾水中沖洗；5)將外框的張緊齒向上頂起；6)將固化膠利用點膠筒涂布在外框頂起的張緊齒下表面上，將膜片平放到張緊齒下表面上并壓實，將外框和膜片整體進行加熱使固化膠固化；7)將外框的張緊齒整平，將膜片繃緊；8)將膜片的標準質量標簽粘貼到外框的標簽欄上。優選的是，進行蝕刻的純氫氧化鉀溶液的溫度為60°C，純氫氧化鉀溶液的濃度為 6mol/L。優選的是，涂抹在膜片邊緣的氫氧化鈉溶液的溫度為90°C，氫氧化鈉溶液的質量分數為10%,膜片邊緣涂抹氫氧化鈉溶液的保持時間為10分鐘。優選的是，固化膠利用點膠筒涂布在張緊齒上的膠量為15±2mg。優選的是，所述的固化膠由改性丙烯酸酯厭氧膠和固化劑以3 I的比例混合配制而成。優選的是，外框和膜片整體加熱的溫度為80°C，加熱的持續時間為5分鐘。本專利技術的有益效果是，利用了化學蝕刻控制膜片的等效質量，工藝要求低，一般等級的化學實驗室即可進行標準質量膜片的制作，制作所需藥品和材料成本低，獲取方便，可在測量需要時隨時制作，無須從國外進口，保證了測量工作的工作效率，膜片固定穩固，避免了由于膜片粘接不穩固產生形變， 造成測量結果不準確的問題，膜片厚度不為固定值，等效質量可在要求范圍內，適用范圍廣。附圖說明附圖附圖附圖附圖附圖附圖附圖1為外框張緊齒部分的仰視圖；2為外框張緊齒向上頂起前的截面圖； 3為外框張緊齒向上頂起后的截面圖； 4為外框張緊齒點膠的截面圖 5為外框張緊齒貼膜的截面圖 6為外框張緊齒整平的截面圖 7為標準質量膜片的仰視圖。具體實施方式本專利技術的。選用65 μ m的光學聚酯膜，將光學聚酯膜放入溫度為60°C濃度為6mol/L的純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，通過控制蝕刻時間將光學聚酯膜分別蝕刻到39±0.1 μπι、 44. 7 + 0. 1μ m、54. 4±0.1 μ m的厚度，溫度為60°C濃度為6mol/L的純氫氧化鉀溶液蝕刻效果較好，蝕刻效率高。將光學聚酯膜利用圓形模具裁剪成合適大小的膜片4，將厚度為44. 7±0.1 μ m和 54. 4±0.1 μ m的膜片4放到放射源與探測器之間連續測試4分鐘，記錄測試所得的等效質量值，重復測試8次取等效質量值的中值，將等效質量值的中值作為各膜片4的標準質量，制得等效質量約為1000 μ g和2000 μ g的膜片；將厚度為39±0.1 μ m的膜片4放到放射源與探測器之間進行連續測試，記錄測試所得的等效質量值，將等效質量值與標準質量為 Oug的標準質量膜片測得的等效質量值進行對比，制作等效質量為Ομ g的誤差要求高，若兩者之間誤差超過±2%，將膜片4再次放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，然后取出測試， 反復蝕刻測試，直至將膜片4蝕刻到測出的等效質量值與標準質量為O μ g的標準質量膜片測得的等效質量值之間的誤差在±2%以內。進行粘接的前處理，向膜片4邊緣處涂溫度為90°C的10%的氫氧化鈉溶液并保持 10分鐘，對膜片4邊緣處進行清潔，涂抹溫度為90°C的10%的氫氧化鈉溶液使膜片拉力最大。將膜片4放入蒸餾水中沖洗。如圖1至3所示，將外框I的張緊齒2向上頂起，將張緊齒2底面頂端頂起約O.5_，還可根據膜片4直徑大小調整張緊齒2頂起的高度。如圖4所示，將固化膠3利用點膠筒涂布在外框I頂起的張緊齒2下表面上，固化膠3由改性丙烯酸酯厭氧膠和固化劑以3 I的比例混合配制而成，點膠量為15±2mg，能短時間內固化且無彈性，化學性質穩定，如圖5所示，將膜片4平放到張緊齒2下表面上并壓實，將外框I和膜片4整體進行加熱到80°C加熱5分鐘，使固化膠3固化。如圖6所示，將外框I的張緊齒2整平，將膜片4繃緊，張緊齒可防止膜片回縮，避免了由于膜片產生形變，造成測量結果不準確的問題。如圖7所示，將膜片4的標準質量標簽5粘貼到外框I的標簽欄上，標準質量膜片制作完成。權利要求1.ー種，其特征在于，步驟如下 1)將光學聚酯膜放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，通過控制蝕刻時間將光學聚酯膜分別蝕刻到 39±0· I μ m、44. 7±0· I μ m、54. 4±0· I μ m 的厚度； 2)將光學聚酯膜利用圓形模具裁剪成合適大小的膜片，將厚度為44.7±0. I μ m和54. 4±0. I μ m的膜片放到放射源與探測器之間連續測試4分鐘，記錄測試所得的等效質量值，重復測試8次取等效質量值的中值，將等效質量值的中值作為各膜片的標準質量； 將厚度為39±0. I μ m的膜片放到放射源與探測器之間進行連續測試，記錄測試所得的等效質量值，將等效質量值與標準質量為Ομ g的標準質量膜片測得的等效質量值進行對比，若兩者之間誤差超過±2%，將膜片再次放入純氫氧本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種β射線法顆粒物校準用標準質量膜片的制作方法，其特征在于，步驟如下：1)將光學聚酯膜放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，通過控制蝕刻時間將光學聚酯膜分別蝕刻到39±0.1μm、44.7±0.1μm、54.4±0.1μm的厚度；2)將光學聚酯膜利用圓形模具裁剪成合適大小的膜片，將厚度為44.7±0.1μm和54.4±0.1μm的膜片放到放射源與探測器之間連續測試4分鐘，記錄測試所得的等效質量值，重復測試8次取等效質量值的中值，將等效質量值的中值作為各膜片的標準質量；將厚度為39±0.1μm的膜片放到放射源與探測器之間進行連續測試，記錄測試所得的等效質量值，將等效質量值與標準質量為0μg的標準質量膜片測得的等效質量值進行對比，若兩者之間誤差超過±2％，將膜片再次放入純氫氧化鉀溶液中進行蝕刻，然后取出測試，反復蝕刻測試，直至將膜片蝕刻到測出的等效質量值與標準質量為0μg的標準質量膜片測得的等效質量值之間的誤差在±2％以內；3)進行粘接的前處理，向膜片邊緣處涂氫氧化鈉溶液并保持一段時間，對膜片邊緣處進行清潔；4)將膜片放入蒸餾水中沖洗；5)將外框的張緊齒向上頂起；6)將固化膠利用點膠筒涂布在外框項起的張緊齒下表面上，將膜片平放到張緊齒下表面上并壓實，將外框和膜片整體進行加熱使固化膠固化；7)將外框的張緊齒整平，將膜片繃緊；8)將膜片的標準質量標簽粘貼到外框的標簽欄上。...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：高心崗，郭松明，郝純青，趙軍峰，程麗華，
申請(專利權)人：青島佳明測控科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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