【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及測量檢驗工具的
，具體為一種小孔徑孔掃描規。
技術介紹
當小孔徑孔內側的跳動進行檢測時，由于孔徑較小，普通的掃描規難以檢測，影響了小孔徑孔的檢測、加工質量。
技術實現思路
針對上述問題，本專利技術提供了一種小孔徑孔掃描規，可以簡單、方便、快速對小孔徑孔內側跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質量。其技術方案是這樣的一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有測量儀，所述掃描規規體內設置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，所述通孔內設置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。其進一步特征在于所述斜面呈45度角；所述掃描規規體上對應所述測量桿設置有限位孔，所述限位孔上設置有限位銷，所述限位銷連接所述測量桿，所述限位銷直徑小于所述限位孔直徑。本專利技術的上述結構中，測量桿另一端為斜面，掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，通孔內設置有測量頭，測量頭長度小于所述測量桿直徑，測量頭上設置有與斜面配合的V形槽，測量頭斜面端伸出或者與測量桿在一平面上，孔內側的位置度通過測量頭頂出測量桿，從測量儀上簡單、方便、快速對小孔徑孔內側跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質量。附圖說明圖I為本專利技術小孔徑孔掃描規的主視結構圖。具體實施例方式見圖1，一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體1，掃描規規體I內設置有測量儀2，掃描規規體I內設置有測量桿3，測量桿3 —端連接測量儀...
【技術保護點】
一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有測量儀，所述掃描規規體內設置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于：所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，所述通孔內設置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：蔣新芬，
申請(專利權)人：無錫麥鐵精密機械制造有限公司，
類型：發明
國別省市：
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