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    一種失效地址處理方法及裝置制造方法及圖紙

    技術編號:8413062 閱讀:189 留言:0更新日期:2013-03-14 02:07
    本發(fā)明專利技術實施例提供一種失效地址處理方法及裝置,涉及計算機領域,可以在保證內存讀寫正確的同時,有效提高內存資源的利用率。具體方案為:讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址,其中,所述失效地址由操作系統(tǒng)OS在運行過程中檢測到出現(xiàn)失效的單元后存儲,所述第二存儲器為非易失性存儲器;當判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效且所述失效地址的分配類型為動態(tài)分配時,屏蔽所述失效地址。本發(fā)明專利技術主要用于BIOS啟動階段失效地址的處理過程中。

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術涉及計算機領域,尤其涉及一種失效地址處理方法及裝置
    技術介紹
    計算機系統(tǒng)一般由處理器、內存、輸入設備、輸出設備和總線五個部分組成,其中內存用來保存處理器運行所需的指令和數據。內存一般是用半導體工藝的動態(tài)隨機存儲器(Dynamic Random Access Memory, DRAM)實現(xiàn)的,為了便于更換常常將內存做成包含多個DRAM芯片的內存條形式。為了能夠使內存條的可靠性提高,內存條上往往還增加了 I或2個錯誤檢測和糾正(Error Checking and Correction, ECC)校驗芯片。在現(xiàn)有技術中,當程序訪問內存時,若內存中的數據出現(xiàn)一個比特的錯誤,可以通 過ECC校驗碼檢測出來并加以糾正,使計算機可以繼續(xù)正常運行,并且由電可擦可編程只讀存儲器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, EEPR0M)記錄下失效地址。但是當錯誤超過一個比特時,由于超過了 ECC的糾錯能力,ECC校驗芯片只能將錯誤檢測出來但無法進行糾正,導致系統(tǒng)運行錯誤,在檢測到錯誤后也要將失效地址記錄在EEPROM中。記錄失效地址是為了在系統(tǒng)重新啟動過程中,不再使用失效地址對應的存儲單元,保證程序正常運行。在實現(xiàn)上述信息存儲的過程中,專利技術人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術至少存在如下問題由于系統(tǒng)重新啟動后不加區(qū)分的屏蔽已記錄的失效地址,造成內存存儲資源的浪費。
    技術實現(xiàn)思路
    本專利技術的實施例提供一種失效地址處理方法及裝置,可以在保證內存讀寫正確的同時,有效提高內存資源的利用率。本專利技術的第一方面,提供一種失效地址處理方法,應用于基本輸入輸出系統(tǒng)(Basic Input Output System, BIOS)啟動階段,所述方法包括讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址;其中,所述失效地址是由操作系統(tǒng)(Operating System,OS)在運行過程中檢測到出現(xiàn)失效的單元后存儲的,所述第二存儲器為非易失性存儲器;當判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效且所述失效地址的分配類型為動態(tài)分配時,屏蔽所述失效地址。結合第一方面,在一種可能的實現(xiàn)方式中,在所述讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址之后,所述的失效地址處理方法還包括判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型,所述失效類型包括軟失效和硬失效;判斷所述失效地址的分配類型,所述分配類型包括動態(tài)分配和靜態(tài)分配。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述方法還包括當判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為軟失效時,則從所述第二存儲器中刪除所述失效地址。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述方法還包括當判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效且所述失效地址的分配類型為靜態(tài)分配時,則啟動保護機制。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型,包括對所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元進行寫入和讀取測試;其中,所述寫入和讀取測試為在所述存儲單元中寫入數據,再從所述存儲單元中讀取數據; 若所述存儲單元中讀取的數據與寫入的數據一致,則所述存儲單元為軟失效;若所述存儲單元中讀取的數據與寫入的數據不一致,則所述存儲單元為硬失效。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述第一存儲器包括動態(tài)隨機存儲器DRAM,所述第二存儲器包括電可擦可編程只讀存儲器EEPROM或者flash存儲器。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述啟動保護機制包括提示警告并停止運行;或提示警告并重啟系統(tǒng);所述屏蔽所述失效地址包括將所述失效地址所在的頁面地址范圍設置為保留屬性,以便OS對所述第一存儲器進行讀寫操作時不再使用所述頁面地址范圍。結合第一方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,動態(tài)分配的地址包括0S進程占用的地址空間、用戶進程占用的地址空間和輸入/輸出I/o設備的收發(fā)緩沖區(qū);靜態(tài)分配的地址包括0S內核占用的地址空間、BIOS緩沖區(qū)和視頻緩沖區(qū)。本專利技術的第二方面,提供一種失效地址處理裝置,應用于BIOS啟動階段,該裝置包括讀取單元,用于讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址;其中,所述失效地址是由操作系統(tǒng)OS在運行過程中檢測到出現(xiàn)失效的單元后存儲的,所述第二存儲器為非易失性存儲器;屏蔽單元,用于當判斷所述讀取單元讀取的失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效,且所述失效地址的分配類型為動態(tài)分配時,屏蔽所述失效地址。結合第二方面,在一種可能實現(xiàn)方式中,所述的失效地址處理裝置,還包括第一判斷單元,用于在所述讀取單元讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址之后,判斷所述讀取單元讀取的失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型,所述失效類型包括軟失效和硬失效;第二判斷單元,用于判斷所述失效地址的分配類型,所述分配類型包括動態(tài)分配和靜態(tài)分配。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能的實現(xiàn)方式中,所述的失效地址處理裝置還包括刪除單元,用于當所述第一判斷單元判斷的所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為軟失效時,從所述第二存儲器中刪除所述失效地址。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能實現(xiàn)方式中,所述的失效地址處理裝置,還包括保護單元,用于當所述第一判斷單元判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效,且所述第二判斷單元判斷的所述失效地址的分配類型為靜態(tài)分配時,啟動保護機制。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能實現(xiàn)方式中,所述第一判斷單元,包括 測試模塊,用于對所述讀取單元讀取的失效地址對應的存儲單元進行寫入和讀取測試;其中,所述寫入和讀取測試為在所述存儲單元中寫入數據,再從所述存儲單元中讀取數據;當所述存儲單元中讀取的數據與寫入的數據一致時,確定所述存儲單元為軟失效;當所述存儲單元中讀取的數據與寫入的數據不一致時,確定所述存儲單元為硬失效。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能實現(xiàn)方式中,所述第一存儲器包括動態(tài)隨機存儲器DRAM,所述第二存儲器包括電可擦可編程只讀存儲器EEPROM或者flash存儲器。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能實現(xiàn)方式中,所述保護單元具體用于提示警告并停止運行;或提示警告并重啟系統(tǒng);所述屏蔽單元具體用于將所述失效地址所在的頁面地址范圍設置為保留屬性,以便OS對所述第一存儲器進行讀寫操作時不再使用所述頁面地址范圍。結合第二方面和上述可能的實現(xiàn)方式,在另一種可能實現(xiàn)方式中,動態(tài)分配的地址包括0S進程占用的地址空間、用戶進程占用的地址空間和輸入/輸出I/o設備的收發(fā)緩沖區(qū);靜態(tài)分配的地址包括0S內核占用的地址空間、BIOS緩沖區(qū)和視頻緩沖區(qū)。本專利技術提供的一種失效地址處理方法及裝置,當記錄的失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效且所述失效地址的分配類型為動態(tài)分配時,屏蔽所述失效地址,與現(xiàn)有技術中直接將所有失效地址對應的存儲單元均設置為保本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種失效地址處理方法,其特征在于,應用于基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS啟動階段,所述方法包括:讀取第二存儲器中存儲的第一存儲器中出現(xiàn)失效的存儲單元的失效地址;其中,所述失效地址由操作系統(tǒng)OS在運行過程中檢測到出現(xiàn)失效的單元后存儲,所述第二存儲器為非易失性存儲器;當判斷所述失效地址對應的出現(xiàn)失效的存儲單元的失效類型為硬失效,且所述失效地址的分配類型為動態(tài)分配時,屏蔽所述失效地址。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:李延松
    申請(專利權)人:華為技術有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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