本發明專利技術公開一種LED背光驅動電路、背光模組和液晶顯示裝置。所述LED背光驅動電路包括燈條，與燈條耦合的電源模塊，所述燈條與所述電源模塊之間通過柔性電路板連接，所述燈條還串聯有測量電阻，所述測量電阻的兩端分別設有測試點。本發明專利技術由于在測量電阻兩端增加了測試點，這樣萬用表等測量工具的探頭就可以跟測試點可靠接觸，也不容易接觸到其他元器件，提升了測量的可靠性。在用示波器測量的時候也可以將細導線直接焊接在測試點，測試點避開了測量電阻的焊盤，導線之間不容易短路，操作方便，可靠性高。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及液晶顯示領域，更具體的說，涉及一種LED背光驅動電路、背光模組和 液晶顯示裝置。
技術介紹
隨著LED的普及，現有的液晶顯示裝置已經大量采用LED來作為背光源。參見圖 1具體是做法是將多顆LED串聯成燈條(light bar)，然后將燈條兩端連接到電源模塊，由 電源模塊進行驅動。燈條跟電源模塊一般用用普通線材連接，其優點是測量LED串的電流 時比較容易，但用普通線材連接成本較高。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題是提供一種能低成本，同時方便測量LED串電流的 LED背光驅動電路、背光模組和液晶顯示裝置。本專利技術的目的是通過以下技術方案來實現的一種LED背光驅動電路，包括燈條，與燈條耦合的電源模塊，所述燈條與所述電源 模塊之間通過柔性電路板連接，所述燈條還串聯有測量電阻，所述測量電阻的兩端分別引 出有測試點。進一步的，所述測試點的面積大于電阻焊盤的面積。專利技術人通過研究還進一步發 現，測試電阻的焊盤由于比較小，導線焊接上去的時候，焊材及其焊接在焊盤上的導線頭形 成的焊點很可能超出焊盤的范圍，這樣容易跟鄰近的焊盤或其他元器件接觸，造成短路；而 本技術方案中測試點的面積比測試點的面積大，因此焊點不容易超出測試點的范圍，進一 步提升測量的可靠性。另外，大的測試點降低了測試的難度和焊線的難度，操作也更簡單。進一步的，所述測量電阻兩端還延伸有引線，所述測試點設置在引線遠離測量電 阻的一端。本技術方案采用引線作為過渡，這樣可以在測試電阻周邊空間狹小，不利于測試 的時候將測試點延伸到比較開闊、更利于測試的電路板區域，進一步方面測試人員測試，提 升測試的可靠性。進一步的，所述測試點之間的間距大于所述測量電阻兩端焊盤之間的間距。加大 間距，可以在焊接細導線的時候，相鄰兩根細導線不容易接觸，進一步避免細導線之間的短 路。進一步的，所述測量電阻串聯在所述燈條的輸出端；所述測量電阻和所述LED背 光驅動電路的接地端之間串聯有調光可控開關，所述調光可控開關的控制端連接有恒流驅 動芯片。此為一種帶恒流控制功能的LED背光驅動電路。進一步的，所述調光可控開關和所述接地端之間串聯有采樣電阻，所述采樣電阻 兩端的電壓差反饋回所述恒流驅動芯片。此為一種帶反饋的恒流控制功能的LED背光驅動 電路。進一步的，所述恒流驅動芯片包括比較器，所述采樣電阻兩端的電壓差反饋回比較器的比較端，所述比較器的輸出端耦合到所述調光可控開關的控制端。此為一種具體的 恒流驅動芯片的電路結構。進一步的，所述測量電阻串聯在所述燈條的輸出端，所述測量電阻和所述LED背 光驅動電路的接地端之間依次串聯有調光可控開關、采樣電阻；所述調光可控開關的控制 端連接有恒流驅動芯片；所述恒流驅動芯片包括比較器，所述采樣電阻兩端的電壓差反饋 回比較器的比較端，所述比較器的輸出端耦合到所述調光可控開關的控制端；所述測量電 阻兩端還延伸有引線，所述測試點設置在引線遠離測量電阻的一端；所述測試點的面積大 于電阻焊盤的面積；所述測試點之間的間距大于所述測量電阻兩端焊盤之間的間距。此為 一種具體的LED背光驅動電路—種背光模組，包括上述的一種LED背光驅動電路。一種液晶顯示裝置，包括上述的一種背光模組。本專利技術采用柔性電路板(FFC)替代普通線材連接，降低了成本，并在布局變換 (layout converter)時，在每串LED的線路中放置一顆測量電阻，用萬用表測量出該電阻上 的電壓值，通過歐姆定律即可計算出LED串燈條的電流值。但由于電路板空間比較小，萬用 表測量時容易接觸不良。另外，3D模式下的LED電流波形為矩形波，用萬用表無法測量出 占空比，需要使用電烙鐵將測量電阻取下，然后在測量電阻的焊盤兩端焊接一根細導線，再 用示波器的電流勾表測量LED電流波形，測量電阻焊盤之間距離很近，實際焊接時容易出 現短路情況，操作較復雜，容易浪費時間。本專利技術由于在測量電阻兩端另引出并增加了測試 點，這樣萬用表等測量工具的探頭就可以跟測試點可靠接觸，也不容易接觸到其他元器件， 提升了測量的可靠性。在用示波器測量的時候也可以將細導線直接焊接在測試點，測試點 避開了測量電阻的焊盤，導線之間不容易短路，操作方便，可靠性高。附圖說明圖1是現有技術的LED驅動原理示意圖；圖2是本專利技術實施例的原理示意圖。具體實施例方式本專利技術公開了一種液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括背光模組，背光模組包括 一種LED背光驅動電路，該LED背光驅動電路包括燈條，與所述燈條串聯的測量電阻，所述 測量電阻的兩端分別設有測試點，所述測試點的面積大于電阻焊盤的面積。本專利技術由于在測量電阻兩端增加了測試點，測試點的面積比測試電阻兩端的大， 這樣萬用表等測量工具的探頭就可以跟測試點可靠接觸，也不容易接觸到其他元器件，提 升了測量的可靠性。專利技術人通過研究還進一步發現，測試電阻的焊盤由于比較小，導線焊接 上去的時候，焊材及其焊接在焊盤上的導線頭形成的焊點很可能超出焊盤的范圍，這樣容 易跟鄰近的焊盤或其他元器件接觸，造成短路；而本專利技術中測試點的面積比測試點的面積 大，因此焊點不容易超出測試點的范圍，進一步提升測量的可靠性。另外，大的測試點降低 了測試的難度和焊線的難度，操作也更簡單。下面結合附圖和較佳的實施例對本專利技術作進一步說明。如圖2所示，本實施方式公開一種LED背光驅動電路。該LED背光驅動電路包括燈條，與燈條串聯的測量電阻R1，測量電阻R1串聯在燈條的輸出端，測量電阻R1和LED背光 驅動電路的接地端之間依次串聯有調光可控開關Q1、采樣電阻R2 ;調光可控開關Q1的控制 端連接有恒流驅動芯片；恒流驅動芯片包括比較器0P，采樣電阻R2兩端的電壓差反饋回比 較器0P的比較端，比較器0P的輸出端耦合到調光可控開關Q1的控制端。測量電阻R1兩 端設有向外延伸的引線，引線遠離測量電阻R1的一端設有測試點(TX1，TX2);測試點(TX1， TX2)的面積大于電阻焊盤的面積，測試點(TX1，TX2)之間的間距大于測量電阻R1兩端焊 盤之間的間距。本實施例采用引線作為過渡，這樣可以在測試電阻周邊空間狹小，不利于測試的 時候將測試點延伸到比較開闊、更利于測試的電路板區域，進一步方面測試人員測試，提升 測試的可靠性。另外，加大測試點之間的間距，可以在焊接細導線的時候，相鄰兩根細導線 不容易接觸，進一步避免細導線之間的短路。當然，本專利技術也可以不用引線，直接在測試電 阻兩端設置測試點。以上內容是結合具體的優選實施方式對本專利技術所作的進一步詳細說明，不能認定 本專利技術的具體實施只局限于這些說明。對于本專利技術所屬
的普通技術人員來說，在 不脫離本專利技術構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本專利技術的 保護范圍。權利要求1.一種LED背光驅動電路，所述LED背光驅動電路包括燈條，與燈條耦合的電源模塊，其特征在于，所述燈條與所述電源模塊之間通過柔性電路板連接，所述燈條還串聯有測量電阻，所述測量電阻的兩端分別弓丨出有測試點。2.如權利要求I所述的一種LED背光驅動電路，其特征在于，所述測試點的面積大于電阻焊盤的面積。3.如權利要求I所述的一種LED背光驅動電路，其特征在于，所述測量電阻兩端還延伸有引線，所述測試點設置在引線遠離測量電阻的一端。4.如本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種LED背光驅動電路，所述LED背光驅動電路包括燈條，與燈條耦合的電源模塊，其特征在于，所述燈條與所述電源模塊之間通過柔性電路板連接，所述燈條還串聯有測量電阻，所述測量電阻的兩端分別引出有測試點。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：張華，
申請(專利權)人：深圳市華星光電技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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