平衡電阻測試裝置制造方法及圖紙

一種平衡電阻測試裝置，用于測出一串聯超級電容的每一個超級電容的平衡電阻阻值，所述平衡電阻測試裝置包括控制器、充電電路、放電電路及數字電位器，所述控制器用于檢測所述串聯超級電容的每一個超級電容上的電壓；所述充電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行充電；所述放電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行放電；所述數字電位器包括與所述超級電容數量相當的可調節電阻，每一個可調節電阻對應并聯至其中一個超級電容的兩端；所述控制器控制所述數字電位器不斷調節每一個可調節電阻并聯到對應的超級電容兩端的有效阻值，直到所述控制器檢測到每一個超級電容上的電壓值相等。

【技術實現步驟摘要】
平衡電阻測試裝置
本專利技術涉及一種平衡電阻測試裝置，尤其涉及一種串聯超級電容平衡電阻測試裝置。
技術介紹
串聯超級電容一般由兩個或多個超級電容串聯而成，由于各個超級電容的內阻存在著一定差異，所以各個超級電容上的電壓會存在著差異，這種電壓的差異會對超級電容產生一定的損傷。為了避免上述情況的發生，一般會在每個超級電容上并聯一個平衡電阻，利用平衡電阻和超級電容的并聯來減少各個超級電容上電壓的差異，從而保證各個超級電容上的電壓趨于相等。在選擇平衡電阻的阻值時，一般是先將平衡電阻對應并聯至各個超級電容上，再測各個超級電容上的電壓，若各個超級電容上的電壓存在差異，則更換不同阻值的平衡電阻進行測試，直到各個超級電容上的電壓相等。然而，上述方法由于多次更換平衡電阻，增加了測試人員的測試時間，不僅降低了工作效率還容易造成超級電容的損壞。
技術實現思路
針對上述問題，有必要提供一種平衡電阻測試裝置，所述平衡電阻測試裝置能方便測出串聯超級電容的適當的平衡電阻阻值。一種平衡電阻測試裝置，用于測出一串聯超級電容的每一個超級電容的平衡電阻阻值，所述平衡電阻測試裝置包括：控制器，電性連接至所述串聯超級電容，用于檢測所述串聯超級電容的每一個超級電容上的電壓；充電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述充電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行充電；放電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述放電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行放電；數字電位器，電性連接至所述控制器，所述數字電位器包括與所述超級電容數量相當的可調節電阻，每一個可調節電阻對應并聯至其中一個超級電容的兩端；所述控制器控制所述數字電位器不斷調節每一個可調節電阻并聯到對應的超級電容兩端的有效阻值，直到所述控制器檢測到每一個超級電容上的電壓值相等或者各個所述超級電容上的電壓值之間的差值在規定的誤差范圍內。所述的串聯超級電容通過控制器來控制所述數字電位器來相應調節接入每一個超級電容上的可調節電阻的阻值，直到每一個超級電容上的電壓值相等或者其電壓值的差值在規定的誤差范圍內，此時所述可調節電阻的有效阻值即為其對應的超級電容的平衡電阻的阻值。因此，所述串聯超級電容可通過控制器來自動調節可調電阻的阻值，可方便測出串聯超級電容的適當的平衡電阻阻值，有效提高了測試效率。附圖說明圖1為本專利技術較佳實施方式的平衡電阻測試裝置的模塊圖。圖2為圖1所示平衡電阻測試裝置的控制器、充電電路以及放電電路與被測的串聯超級電容之間的電路連接圖。圖3為圖1所示平衡電阻測試裝置的數字電位器與被測的串聯超級電容之間的電路連接圖。圖4為圖3所示數字電位器與被測的串聯超級電容之間連接的等效電路圖。主要元件符號說明平衡電阻測試裝置100串聯超級電容200控制器10充電電路20充電芯片21濾波電路23放電電路30數字電位器40顯示器50第一超級電容C1第二超級電容C2第一濾波電容C3第二濾波電容C4第三濾波電容C5第一有效電阻R1第二有效電阻R2放電電阻R0第一電壓檢測引腳PIN1第二電壓檢測引腳PIN2第一控制引腳PIN3第二控制引腳PIN4電源輸入引腳VIN充電電流輸出引腳COUT使能引腳SHDN輸入電源V-IN電感L1時鐘引腳SCL數據引腳SDA第一調節引腳VW1第一高位引腳VH1第一低位引腳VL1第二調節引腳VW2第二高位引腳VH2第二低位引腳VL2地址引腳A0-A3如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本專利技術。具體實施方式請參閱圖1，本專利技術較佳實施方式的平衡電阻測試裝置100用于測出一串聯超級電容200的各個超級電容的平衡電阻的阻值。所述平衡電阻測試裝置100包括控制器10、充電電路20、放電電路30、數字電位器40以及顯示器50。所述控制器10分別控制充電電路20及放電電路30對所述串聯超級電容200進行充電和放電，以測試串聯超級電容200的各個超級電容兩端的電壓。所述數字電位器40包括多個可調節電阻，每一超級電容對應并聯至其中一個所述可調節電阻，所述數字電位器40在所述控制器10的控制下調節多個所述可調節電阻的阻值，以使所述各個超級電容上的電壓相等或者在規定的誤差范圍內。請參閱圖2，下面以所述串聯超級電容200包括兩個超級電容，即第一超級電容C1、第二超級電容C2為例對本專利技術的平衡電阻測試裝置100進行說明。所述控制器10包括第一電壓檢測引腳PIN1、第二電壓檢測引腳PIN2、第一控制引腳PIN3及第二控制引腳PIN4。所述控制器10分別通過第一電壓檢測引腳PIN1及第二電壓檢測引腳PIN2來檢測第一超級電容C1及第二超級電容C2上的電壓。所述控制器10分別通過第一控制引腳PIN3及第二控制引腳PIN4來分別控制所述充電電路20及放電電路30來對所述串聯超級電容200進行充電及放電。所述充電電路20包括充電芯片21及濾波電路23。所述充電芯片21包括電源輸入引腳VIN、充電電流輸出引腳COUT以及使能引腳SHDN。所述電源輸入引腳VIN電性連接至一輸入電源V-IN。在本較佳實施方式中，所述輸入電源V-IN為5V電源。所述充電電流輸出引腳COUT電性連接至所述串聯超級電容200，即，所述第一超級電容C1及第二超級電容C2串聯至所述充電電流輸出引腳COUT與地之間。所述使能引腳SHDN電性連接至所述控制器10的第一控制引腳PIN3。當所述控制器10控制所述使能引腳SHDN有效時，所述充電芯片21則將所述輸入電源輸入的電流轉換為充電電流輸出至所述串聯超級電容200，以給所述串聯超級電容200充電。當所述控制器10控制所述使能引腳SHDN無效時，所述充電芯片21則停止對所述串聯超級電容充電。在本較佳實施方式中，所述充電芯片21為凌力爾特公司生產的可編程超級電容充電器LTC3225，其使能引腳SHDN為低電平有效。所述濾波電路23用于濾除充電芯片21的電源輸入引腳VIN以及充電電流輸出引腳COUT上傳輸的電壓信號的雜波。所述濾波電路23包括電感L1、第一濾波電容C3、第二濾波電容C4以及第三濾波電容C5。所述電感L1電性電性連接至所述輸入電源V-IN與電源輸入引腳VIN之間，且所述電感L1的兩端分別通過所述第一濾波電容C3、第二濾波電容C4接地。所述充電電流輸出引腳COUT通過所述第三濾波電容C5接地。所述放電電路30為一電子開關。所述電子開關一端電性連接至所述充電電流輸出引腳COUT與串聯超級電容200之間的節點，另一端接地。所述電子開關還電性連接至所述控制器10。當所述充電電路20在控制器10的控制下對所述串聯超級電容200充電時，所述電子開關在控制器10的控制下斷開；當所述充電電路20在控制器10的控制下停止對串聯超級電容200充電時，所述電子開關則在控制器10的控制下導通，所述串聯超級電容200則通過所述電子開關接地放電。在本較佳實施方式中，所述電子開關為一N溝道金屬氧化物半導體場效應晶體管（Metal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor,MOSFET），其漏極D通過一放電電阻R0電性連接至所述充電電流輸出引腳COUT與串聯超級電容200之間的節點，柵極G電性連接至所述控制器10的第二控制引腳PIN4，源極S接地。當所述控本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種平衡電阻測試裝置，用于測出一串聯超級電容的每一個超級電容的平衡電阻阻值，其特征在于，所述平衡電阻測試裝置包括：控制器，電性連接至所述串聯超級電容，用于檢測所述串聯超級電容的每一個超級電容上的電壓；充電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述充電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行充電；放電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述放電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行放電；數字電位器，電性連接至所述控制器，所述數字電位器包括與所述超級電容數量相當的可調節電阻，每一個可調節電阻對應并聯至其中一個超級電容的兩端；所述控制器控制所述數字電位器不斷調節每一個可調節電阻并聯到對應的超級電容兩端的有效阻值，直到所述控制器檢測到每一個超級電容上的電壓值相等或者各個所述超級電容上的電壓值之間的差值在規定的誤差范圍內。

【技術特征摘要】
1.一種平衡電阻測試裝置，用于測出一串聯超級電容的每一個超級電容的平衡電阻阻值，其特征在于，所述平衡電阻測試裝置包括：控制器，電性連接至所述串聯超級電容，用于檢測所述串聯超級電容的每一個超級電容上的電壓；充電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述充電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行充電；放電電路，電性連接至所述控制器及串聯超級電容，所述放電電路用于在控制器的控制下對所述串聯超級電容進行放電；數字電位器，電性連接至所述控制器，所述數字電位器包括與所述超級電容數量相當的可調節電阻，每一個可調節電阻對應并聯至其中一個超級電容的兩端；所述控制器控制所述數字電位器不斷調節每一個可調節電阻并聯到對應的超級電容兩端的有效阻值；其中，每次調整中每一個可調節電阻增加的阻值相同，直到所述控制器檢測到每一個超級電容上的電壓值相等或者各個所述超級電容上的電壓值之間的差值在規定的誤差范圍內。2.如權利要求1所述的平衡電阻測試裝置，其特征在于：所述平衡電阻測試裝置還包括電性連接至所述控制器的顯示器，當所述控制器檢測到每一個超級電容上的電壓值相等或者各個所述超級電容上的電壓值之間的差值在規定的誤差范圍內時，控制器將此時的可調節電阻并聯到所述超級兩端的有效阻值通過顯示器進行顯示。3.如權利要求1所述的平衡電阻測試裝置，其特征在于：所述平衡電阻測試裝置還包括輸入電源，所述充電電路包括充電芯片，所述充電芯片包括電源輸入引腳、充電電流輸出引腳以及使能引腳，所述電源輸入引腳電性連接至所述輸入電源，所述使能引腳電性連接至所述控制器，所述串聯超級電容電性連接至所述充電電流輸出引腳與地之間。4.如權利要求3所述的平衡電阻測試裝置，其特征在于：所述充電電路還包括濾波電路，所述濾波電路用于濾除所述充電芯片的電源輸入引腳以及充電電流輸出引腳上傳輸的電壓信號的雜訊，所述濾波電路包括電感、第一濾波電容、第二濾波電...

【專利技術屬性】
技術研發人員：楊富森，白云，童松林，
申請(專利權)人：鴻富錦精密工業深圳有限公司，鴻海精密工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：