本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例公開(kāi)了一種LED測(cè)試裝置、系統(tǒng)及方法，LED測(cè)試裝置包括連接并為待測(cè)LED試件供電的供電單元，LED測(cè)試裝置還包括：用于承載LED試件的承載體；用于帶動(dòng)承載體及其上的LED試件振動(dòng)的振動(dòng)發(fā)生器；底面設(shè)有通孔的遮光罩，所述承載體穿過(guò)所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件；以及安裝于遮光罩上并采集遮光罩內(nèi)的漫反射光線以對(duì)LED試件的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量的測(cè)光儀。本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例通過(guò)遮光罩底面設(shè)置通孔，承載體穿過(guò)所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件的技術(shù)手段，從而實(shí)現(xiàn)了在線實(shí)時(shí)檢測(cè)LED試件的光、色及電等性能參數(shù)，避免因應(yīng)力條件發(fā)生改變以及反復(fù)安裝、拆卸LED試件而引入的測(cè)試誤差。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及LED參數(shù)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種LED測(cè)試裝置、系統(tǒng)及方法。
技術(shù)介紹
為了考察LED在實(shí)際使用過(guò)程中，環(huán)境因素(比如振動(dòng))對(duì)其性能的影響，需要有相關(guān)試驗(yàn)設(shè)備來(lái)模擬實(shí)際使用環(huán)境，對(duì)LED進(jìn)行振動(dòng)可靠性測(cè)試，通過(guò)分析受試樣品的故障原因與失效模式，指導(dǎo)產(chǎn)品的后續(xù)設(shè)計(jì)。目前通行的LED振動(dòng)可靠性測(cè)試方法是在同型號(hào)、同批次的LED產(chǎn)品中，抽取一定數(shù)量的樣品，在試驗(yàn)前以及試驗(yàn)過(guò)程中測(cè)量其性能參數(shù)，根據(jù)相應(yīng)的算法推算出該型號(hào)、該批次的LED預(yù)期性能。在振動(dòng)可靠性測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)需要測(cè)量LED的性能參數(shù)時(shí)，則停止振動(dòng)，并將支架上的LED樣品依次拆下，逐個(gè)放置于積分球內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量完畢后再將LED樣品重新安裝到支架上，繼續(xù)后續(xù)試驗(yàn)。其存在的問(wèn)題是 1)在整個(gè)可靠性測(cè)試過(guò)程中，需要反復(fù)安裝、拆卸LED樣品，增加了大量的人力和時(shí)間成本； 2)在反復(fù)安裝與拆卸的過(guò)程中，存在造成LED樣品性能改變的不穩(wěn)定因素而影響最終測(cè)試結(jié)果； 3)在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，當(dāng)需要測(cè)量LED樣品的性能參數(shù)時(shí)，需要中斷振動(dòng)應(yīng)力，這種發(fā)生在試驗(yàn)過(guò)程中的應(yīng)力條件改變對(duì)整個(gè)試驗(yàn)結(jié)果的影響不可預(yù)知。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)實(shí)施例所要解決的一個(gè)技術(shù)問(wèn)題在于，提供一種實(shí)現(xiàn)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)LED振動(dòng)可靠性的LED測(cè)試裝置。本專利技術(shù)實(shí)施例所要解決的另一個(gè)技術(shù)問(wèn)題在于，提供一種實(shí)現(xiàn)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)LED振動(dòng)可靠性的LED測(cè)試系統(tǒng)。本專利技術(shù)實(shí)施例所要解決的再一個(gè)技術(shù)問(wèn)題在于，提供一種實(shí)現(xiàn)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)LED振動(dòng)可靠性的LED測(cè)試方法。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本專利技術(shù)實(shí)施例提出了一種LED測(cè)試裝置，包括連接并為待測(cè)LED試件供電的供電單元，LED測(cè)試裝置還包括用于承載LED試件的承載體；用于帶動(dòng)承載體及其上的LED試件振動(dòng)的振動(dòng)發(fā)生器；底面設(shè)有通孔的遮光罩，所述承載體穿過(guò)所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件；以及安裝于遮光罩上并采集遮光罩內(nèi)的漫反射光線以對(duì)LED試件的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量的測(cè)光儀。進(jìn)一步地，測(cè)光儀包括取光單元和通過(guò)光纖連接于取光單元的測(cè)光單元，遮光罩的頂壁上設(shè)有取光單兀，遮光罩內(nèi)還設(shè)有用于遮擋由LED試件直射向取光單兀的直射光的遮光板。進(jìn)一步地，所述遮光罩由一支架支撐，且支架的高度與振動(dòng)發(fā)生器的高度相匹配，以使遮光罩罩住所述LED試件。進(jìn)一步地，所述承載體剛性固定在振動(dòng)發(fā)生器的振動(dòng)臺(tái)面上。進(jìn)一步地，所述振動(dòng)發(fā)生器為振動(dòng)頻率、振動(dòng)幅度及振動(dòng)時(shí)間受控可調(diào)的電動(dòng)式、電磁式、機(jī)械式、液壓式或氣動(dòng)式的振動(dòng)發(fā)生器。進(jìn)一步地，所述遮光罩為積分球、溫控箱或濕熱試驗(yàn)箱。相應(yīng)地，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種LED測(cè)試系統(tǒng)，其包括如上所述的LED測(cè)試裝置；以及連接于并控制所述振動(dòng)發(fā)生器、測(cè)光儀及供電單元協(xié)調(diào)工作的控制器。此外，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種LED測(cè)試方法，所述方法包括準(zhǔn)備步驟裝配LED測(cè)試系統(tǒng)，并設(shè)置本次測(cè)試的振動(dòng)參數(shù)；振動(dòng)步驟根據(jù)所述振動(dòng)參數(shù)帶動(dòng)LED試件振動(dòng)；及取光測(cè)量步驟實(shí)時(shí)采集LED試件對(duì)應(yīng)的漫反射光線并對(duì)LED試件的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。進(jìn)一步地，所述準(zhǔn)備步驟還包括界限設(shè)置子步驟設(shè)置本次測(cè)試的衰減界限參數(shù)。·進(jìn)一步地，所述取光測(cè)量步驟之后還包括判斷步驟判斷當(dāng)前被測(cè)LED試件是否超出所設(shè)衰減界限參數(shù)，若是則結(jié)束本次測(cè)試。本專利技術(shù)實(shí)施例的有益效果是通過(guò)遮光罩底面設(shè)置通孔，承載體穿過(guò)所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件的技術(shù)手段，從而實(shí)現(xiàn)了在線實(shí)時(shí)檢測(cè)LED試件的光、色及電等性能參數(shù)，避免因應(yīng)力條件發(fā)生改變以及反復(fù)安裝、拆卸LED試件而引入的測(cè)試誤差。附圖說(shuō)明圖I是本專利技術(shù)實(shí)施例的LED測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖I所示的LED測(cè)試裝置的承載體的俯視圖。圖3是本專利技術(shù)實(shí)施例的LED測(cè)試方法的流程示意圖。具體實(shí)施例方式需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互結(jié)合，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。請(qǐng)參考圖廣圖2，本專利技術(shù)實(shí)施例提供了一種LED測(cè)試裝置，所述LED測(cè)試裝置包括供電單元10、振動(dòng)發(fā)生器20、承載體30、遮光罩40及測(cè)光儀50。供電單元10連接并為待測(cè)LED試件100供電。具體地，所述LED試件100既可以是單顆的LED，也可以是其它LED發(fā)光體，比如LED模組、LED燈具等。振動(dòng)發(fā)生器20用于發(fā)生振動(dòng)。具體地，所述振動(dòng)發(fā)生器20為振動(dòng)頻率、振動(dòng)幅度及振動(dòng)時(shí)間受控可調(diào)的電動(dòng)式、電磁式、機(jī)械式、液壓式或氣動(dòng)式的振動(dòng)發(fā)生裝置。振動(dòng)發(fā)生器20包括用于產(chǎn)生振動(dòng)的振動(dòng)主體21和設(shè)于振動(dòng)主體21上的、隨振動(dòng)主體21同步振動(dòng)的振動(dòng)臺(tái)面22。作為一種實(shí)施方式，振動(dòng)主體21和振動(dòng)臺(tái)面22為一個(gè)整體設(shè)備；作為一種實(shí)施方式，為了適應(yīng)多個(gè)或多種LED試件100的需要，振動(dòng)臺(tái)面22為安裝固定于振動(dòng)主體21上的擴(kuò)展臺(tái)面。承載體30固設(shè)于振動(dòng)發(fā)生器20的振動(dòng)臺(tái)面22上，用于承載LED試件100并在振動(dòng)發(fā)生器20驅(qū)動(dòng)下，帶動(dòng)所述LED試件100同步振動(dòng)。具體地，所述承載體30通過(guò)螺接或焊接剛性固定在振動(dòng)發(fā)生器的振動(dòng)臺(tái)面22上，承載體30與所述通孔大小及形狀匹配，從而，可方便地將振動(dòng)發(fā)生器20的振動(dòng)臺(tái)面22置如遮光罩40內(nèi)。承載體30與所述通孔優(yōu)選為圓盤(pán)形，還可為矩形，承載體30上均勻分布多個(gè)基座31，LED試件100安裝在基座31上，基座31設(shè)于承載體30均勻分布的溝槽內(nèi)或平整的表面上。遮光罩40底面設(shè)有通孔，所述振動(dòng)臺(tái)面22及承載體30穿過(guò)所述通孔置于遮光罩40中以使遮光罩40罩住所述LED試件100。作為一種實(shí)施方式，所述遮光罩40由一支架41支撐，且支架41的高度與振動(dòng)發(fā)生器20的高度相匹配，以使遮光罩40罩住所述LED試件100。具體地，一實(shí)施方式中，支架41底端設(shè)有用于調(diào)節(jié)高度的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)；所述遮光罩40在本實(shí)施方式中為積分球，其他實(shí)施方式中還可為溫控箱或濕熱試驗(yàn)箱，也即本專利技術(shù)實(shí)施例的LED測(cè)試裝置不僅可以模擬振動(dòng)環(huán)境，還可以模擬溫度環(huán)境或溫濕度環(huán)境以對(duì)LED試件100進(jìn)行可靠性測(cè)試，擴(kuò)展了本專利技術(shù)實(shí)施例的LED測(cè)試裝置的功能。在圖I所示的實(shí)施方式中，遮光罩40底面還設(shè)有一穿線孔，供電單元10的各路電源線經(jīng)過(guò)該穿線孔從承載體30的底部連接于LED試件100 ;通過(guò)所述方式來(lái)設(shè)置電源線，將電源線對(duì)振動(dòng)測(cè)試精確度的影響減小至最小。本實(shí)施方式中，遮光罩40的內(nèi)表面上涂有 高漫反射率的白色涂料層，具體地，所述白色涂料優(yōu)選為硫酸鋇。測(cè)光儀50安裝于遮光罩40上并采集遮光罩40內(nèi)的漫反射光線以對(duì)LED試件100的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。具體地，測(cè)光儀50包括取光單元51和通過(guò)光纖連接于取光單元51的測(cè)光單元52，遮光罩40的頂壁上設(shè)有取光單元51，遮光罩40內(nèi)還設(shè)有用于遮擋由LED試件100直射向取光單兀51的直射光的遮光板42,借由所述遮光板42保證了取光單兀51采集到單一的漫反射光，進(jìn)而提高了測(cè)量精度。相應(yīng)地，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種LED測(cè)試系統(tǒng)，其包括如上所述的LED測(cè)試裝置，以及連接于并控制所述振動(dòng)發(fā)生器20、測(cè)光儀50及供電單元10協(xié)調(diào)工作的控制器(圖未示出)。具體地，所述控制器集成于一計(jì)算機(jī)中，所述計(jì)算機(jī)中設(shè)有配套的測(cè)試程序，振動(dòng)發(fā)生器20、測(cè)光儀50及供電單元10均可由計(jì)算機(jī)自動(dòng)協(xié)調(diào)控制，由計(jì)算機(jī)按程序設(shè)定模式自動(dòng)記錄試本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種LED測(cè)試裝置，包括連接并為待測(cè)LED試件供電的供電單元，其特征在于，LED測(cè)試裝置還包括：用于承載LED試件的承載體；用于帶動(dòng)承載體及其上的LED試件振動(dòng)的振動(dòng)發(fā)生器；底面設(shè)有通孔的遮光罩，所述承載體穿過(guò)所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件；以及安裝于遮光罩上并采集遮光罩內(nèi)的漫反射光線以對(duì)LED試件的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量的測(cè)光儀。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：劉巖，李永光，胡益民，曹廣忠，敬剛，楊永剛，劉文斌，湯皎寧，張志甜，高文杰，袁文龍，張超，朱惠忠，梁榮，陸兆隆，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：深圳清華大學(xué)研究院，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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