量產(chǎn)同測方法技術(shù)

一種量產(chǎn)同測方法包括：使用用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來測試模擬輸出電壓信號；其中使用電橋來拉灌電流，使用窗口比較器用于獲取測試結(jié)果，從而可以根據(jù)窗口比較器的測試結(jié)果判斷是否通過測試。本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種能夠以簡單的用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來實(shí)現(xiàn)模擬輸出電壓信號的快速量產(chǎn)測試的量產(chǎn)同測方法。而且，在帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試的情況下，根據(jù)本發(fā)明專利技術(shù)的量產(chǎn)同測方法在無需為每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元的情況下實(shí)現(xiàn)快速帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試，能夠在多點(diǎn)測試的情況下執(zhí)行并行測試，由此節(jié)省了大量的測試時(shí)間。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
量產(chǎn)同測方法
本專利技術(shù)涉及測試領(lǐng)域，更具體地說，本專利技術(shù)涉及一種高效的量產(chǎn)同測方法。
技術(shù)介紹
在電路設(shè)計(jì)與制造過程中，需要對晶圓、裸片或者電路進(jìn)行大量測試。在大批量生產(chǎn)電路的情況下，需要進(jìn)行量產(chǎn)測試。具體地說，例如在電路測試時(shí)會遇到要測試帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號(例如穩(wěn)壓管的輸出)或者需要進(jìn)行開短路測試(OPEN/SHORT測試，O/S測試)的情況。其中，開短路測試就是測試開路與短路，具體點(diǎn)說就是測試一個(gè)電子器件應(yīng)該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應(yīng)該連接的地方連接了就是短路。在晶圓制造領(lǐng)域，開短路測試可用來測試探針與晶圓上的焊盤(PAD)是否良好接觸。一般，為了進(jìn)行并行的帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試，需要為每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元，但是，每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元需要花費(fèi)較高的成本，而一般的測試裝置不會進(jìn)行如此昂貴的配置。如果測試儀沒有為每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元，則無法進(jìn)行并行的帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試；這樣的話，只能依次對各個(gè)引腳進(jìn)行帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試；由此，當(dāng)存在大量裸片(die)需要測試，將耗費(fèi)大量的時(shí)間。對于上述情況以及與上述情況類似的情況，則無法以簡單方式實(shí)現(xiàn)快速量產(chǎn)測試。因此，希望能夠提供一種以簡單方式實(shí)現(xiàn)快速量產(chǎn)測試的技術(shù)方案。例如，希望能夠提供一種在無需為每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元的情況下實(shí)現(xiàn)快速帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試的技術(shù)方案。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)中存在上述缺陷，提供一種能夠在以簡單方式實(shí)現(xiàn)模擬輸出電壓信號的快速量產(chǎn)測試的量產(chǎn)同測方法。為了實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的，根據(jù)本專利技術(shù)，提供了一種量產(chǎn)同測方法，其包括：量產(chǎn)同測方法，其包括：使用用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來測試模擬輸出電壓信號；其中使用電橋來拉灌電流，使用窗口比較器用于獲取測試結(jié)果，從而可以根據(jù)窗口比較器的測試結(jié)果判斷是否通過測試；其中，電橋包括第一二極管、第二二極管、第三二極管、以及第四二極管，其中，第一二極管和第二二極管的輸入端相連，第三二極管和第四二極管的輸出端相連，第一二極管連接至第四二極管的輸入端，第二二極管的輸出端連接至第三二極管的輸入端；其中，第一二極管與第二二極管之間的連接點(diǎn)連接至第一灌電流，第二二極管與第三二極管之間的連接點(diǎn)連接至待測器件；第三二極管與第四二極管之間的連接點(diǎn)連接至第二灌電流；第四二極管與第一二極管之間的連接點(diǎn)連接至基準(zhǔn)電壓。優(yōu)選地，根據(jù)測試確定所述第一參考電壓的數(shù)值以及所述第二參考電壓的數(shù)值。優(yōu)選地，根據(jù)測試確定根據(jù)測試確定所述基準(zhǔn)電壓的大小、所述第一灌電流的大小、以及所述第二灌電流的大小。優(yōu)選地，所述量產(chǎn)同測方法用于開短路測試或者帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號。優(yōu)選地，所述量產(chǎn)同測方法用于負(fù)載驅(qū)動的電壓測試。優(yōu)選地，所述量產(chǎn)同測方法用于穩(wěn)壓管的負(fù)載驅(qū)動能力測試。優(yōu)選地，當(dāng)待測器件的連接端的電勢小于第二參考電壓，測試結(jié)果表示測試失敗；當(dāng)待測器件的連接端的電勢大于第一參考電壓，測試結(jié)果表示測試失??；當(dāng)待測器件的連接端的電勢不小于第二參考電壓且不大于第一參考電壓時(shí)，測試結(jié)果測試通過。本專利技術(shù)提供了一種能夠以簡單的用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來實(shí)現(xiàn)模擬輸出電壓信號的快速量產(chǎn)測試的量產(chǎn)同測方法。而且，在帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試的情況下，根據(jù)本專利技術(shù)的量產(chǎn)同測方法在無需為每個(gè)引腳配置一個(gè)精密測量單元的情況下實(shí)現(xiàn)快速帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試，能夠在多點(diǎn)測試的情況下執(zhí)行并行測試，由此節(jié)省了大量的測試時(shí)間。附圖說明結(jié)合附圖，并通過參考下面的詳細(xì)描述，將會更容易地對本專利技術(shù)有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點(diǎn)和特征，其中：圖1示意性地示出了根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法。圖2示意性地示出了根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法的測試結(jié)果判斷的一個(gè)具體示例。需要說明的是，附圖用于說明本專利技術(shù)，而非限制本專利技術(shù)。附圖中，相同或者類似的元件標(biāo)有相同或者類似的標(biāo)號。具體實(shí)施方式為了使本專利技術(shù)的內(nèi)容更加清楚和易懂，下面結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對本專利技術(shù)的內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)描述。雖然精密測量單元可以精確地測量模擬輸出電壓信號的確切值，但是在很多情況下(例如穩(wěn)壓管的輸出量測量的情況下)，無需測量模擬輸出電壓信號的精確值，而只需測量模擬輸出電壓信號是否處理合格的范圍內(nèi)。由此，本專利技術(shù)的專利技術(shù)人提出通過現(xiàn)有技術(shù)中結(jié)構(gòu)簡單的用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來實(shí)現(xiàn)模擬輸出電壓信號的快速量產(chǎn)測試。具體地說，圖1示意性地示出了根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法。具體地說，例如，圖1所示的根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法可用于測試探針與晶圓上的焊盤之間的連接。但是，開短路測試或者帶負(fù)載下的模擬輸出電壓信號測試都只是一個(gè)例子而已，圖1所示的根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法實(shí)際上可用于各種高效的量產(chǎn)測試，例如通常還可用于需要負(fù)載驅(qū)動的電壓測試，比如穩(wěn)壓管的負(fù)載驅(qū)動能力測試等。更具體地說，如圖1所示，根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的量產(chǎn)同測方法包括：使用用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來測試模擬輸出電壓信號；其中使用電橋來拉灌電流，使用窗口比較器用于獲取測試結(jié)果，從而可以根據(jù)窗口比較器的測試結(jié)果判斷是否通過測試。其中，電橋包括第一二極管D1、第二二極管D2、第三二極管D3、以及第四二極管D4。其中，第一二極管D1和第二二極管D2的輸入端相連，第三二極管D3和第四二極管D4的輸出端相連，第一二極管D1連接至第四二極管D4的輸入端，第二二極管D2的輸出端連接至第三二極管D3的輸入端。其中，第一二極管D1與第二二極管D2之間的連接點(diǎn)連接至第一灌電流IOL，第二二極管D2與第三二極管D3之間的連接點(diǎn)連接至待測器件DUT1；第三二極管D3與第四二極管D4之間的連接點(diǎn)連接至第二灌電流IOH；第四二極管D4與第一二極管D1之間的連接點(diǎn)連接至基準(zhǔn)電壓VREF。由此，通過控制第一灌電流IOL和第二灌電流IOH即可控制待測器件DUT1的輸出電流或者輸入電流的大小。更具體地說，其中，當(dāng)基準(zhǔn)電壓VREF小于待測器件DUT1的輸出電壓時(shí)，待測器件DUT1向外輸出電流；當(dāng)基準(zhǔn)電壓VREF大于待測器件DUT1的輸出電壓時(shí)，電流流向待測器件DUT1。其中，基準(zhǔn)電壓VREF的大小、第一灌電流IOL的大小、以及第二灌電流IOH的大小根據(jù)測試情況而定。例如，在圖1所示的情況中，第一灌電流IOL的大小以及第二灌電流IOH的大小使得待測器件DUT1向第二二極管D2輸入-100uA的電流。窗口比較器包括第一比較器M1和第二比較器M2。其中，第一比較器M1的反相輸入端以及第二比較器M2的正向輸入端連接至待測器件DUT1；第一比較器M1的正向輸入端連接至第一參考電壓VOH，第二比較器M2的反相輸入端連接至第二參考電壓VOL，而且其中第一參考電壓VOH大于第二參考電壓VOL。其中，第一參考電壓VOH的具體數(shù)值以及第二參考電壓VOL的具體數(shù)值根據(jù)測試情況而定。例如，如果認(rèn)為輸出電壓值處于1.6V至1.9V之前則判定模擬輸出電壓信號是合格，則可以將第一參考電壓VOH設(shè)置為1.9V，將第二參考電壓VOL設(shè)置為1.6V。由此，窗口比較器根據(jù)第一比較器M1和第二比較器M2的輸出結(jié)果來獲取測試結(jié)果VoutComp。圖2示意性地示出本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種量產(chǎn)同測方法，其特征在于包括：使用用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來測試模擬輸出電壓信號；其中使用電橋來拉灌電流，使用窗口比較器用于獲取測試結(jié)果，從而可以根據(jù)窗口比較器的測試結(jié)果判斷是否通過測試；其中，電橋包括第一二極管、第二二極管、第三二極管、以及第四二極管，其中，第一二極管和第二二極管的輸入端相連，第三二極管和第四二極管的輸出端相連，第一二極管連接至第四二極管的輸入端，第二二極管的輸出端連接至第三二極管的輸入端；其中，第一二極管與第二二極管之間的連接點(diǎn)連接至第一灌電流，第二二極管與第三二極管之間的連接點(diǎn)連接至待測器件；第三二極管與第四二極管之間的連接點(diǎn)連接至第二灌電流；第四二極管與第一二極管之間的連接點(diǎn)連接至基準(zhǔn)電壓。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種量產(chǎn)同測方法，其特征在于包括：使用用于測量數(shù)字信號的電橋以及窗口比較器來測試模擬輸出電壓信號；其中使用電橋來拉灌電流，使用窗口比較器用于獲取測試結(jié)果，從而可以根據(jù)窗口比較器的測試結(jié)果判斷是否通過測試；其中，電橋包括第一二極管、第二二極管、第三二極管、以及第四二極管，其中，第一二極管和第二二極管的輸入端相連，第三二極管和第四二極管的輸出端相連，第一二極管連接至第四二極管的輸入端，第二二極管的輸出端連接至第三二極管的輸入端；其中，第一二極管與第二二極管之間的連接點(diǎn)連接至第一灌電流，第二二極管與第三二極管之間的連接點(diǎn)連接至待測器件；第三二...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王磊，
申請(專利權(quán))人：上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：