本實用新型專利技術涉及一種改進型檢測設備,包括交流電源電路、相位產生電路、交流漏電調節電路和時間檢測電路;相位產生電路包括電流滯后電壓0°的第一半波整流電路;所述第一半波整流電路由電阻R50、R51、R52、R53、R54、R55、R56、R57、R58、R59、R60、R61,二極管D37,三極管BG17、BG18,雙向可控硅BG19,運算放大器IC3,光耦芯片IC4構成;三極管BG28的e極與穩壓管BG21的2腳相連;電阻R74的一端與穩壓管BG21的3腳相連,光耦芯片IC7的4、6腳分別與按鈕開關SB3中間觸點SB3-21、常開觸點SB3-22相連。本實用新型專利技術結構較為合理,能夠滿足使用者的特殊需求。(*該技術在2022年保護過期,可自由使用*)
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種改進型檢測設備。
技術介紹
根據國家標準GB14048. 2-2001,GB16916. 1-2003,GB16917. 1-2003 等規定對無論是突然施加或緩慢上升的具有規定的剩余脈動直流或剩余正弦交流電流,能確保在規定時間內脫扣的漏電斷路器稱為A型漏電斷路器。對無論是突然施加或緩慢上升的具有無直流分量的剩余正弦交流電流,能確保在規定時間內脫扣的漏電斷路器,稱為AC型漏電斷路器。由上可知,A型漏電斷路器覆蓋了 AC型漏電斷路器的功能。上述“規定的剩余脈動電流”為以下4種情況電流滯后電壓0°的半波整流電流、電流滯后電壓90°的半波整流電流、電流滯后電壓135°的半波整流電流、含有6mA直流的電流滯后電壓0°的半波整流電流。現有技術中不存在對A型漏電斷路器進行測量的裝置。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是提供一種測試范圍較廣且性能較為穩定可靠的改進型檢測設備。為解決上述技術問題,本技術提供了一種改進型檢測設備,包括交流電源電路、相位產生電路、交流漏電調節電路和時間檢測電路;相位產生電路包括電流滯后電壓0°的第一半波整流電路;所述第一半波整流電路由電阻R50、R51、R52、R53、R54、R55、R56、R57、R58、R59、R60、R61,二極管D37,三極管BG17、BG18,雙向可控硅BG19,運算放大器IC3,光耦芯片IC4構成;二極管D51的正極端與相位顯示電路中的三極管BG22的e極相連,二極管D51的負極端與電阻R75的一端相連,電阻R75的另一端與三極管BG28的b極相連,光耦芯片IC7的2腳與三極管BG28的c極相連,三極管BG28的e極與穩壓管BG21的2腳相連;電阻R74的一端與穩壓管BG21的3腳相連,光稱芯片IC7的4、6腳分別與按鈕開關SB3中間觸點SB3-21、常開觸點SB3-22相連。本技術具有積極的效果(I)本技術通過改進第一半波整流電路,使其結構較為合理,能夠有效滿足特殊漏電斷路器的測試需求。附圖說明下面將結合附圖對本技術作進一步的解釋,其中附圖如下圖I為實施例I的改進型檢測設備的外形結構示意圖;圖2為實施例I的改進型檢測設備的部分電原理圖;圖3為實施例I的改進型檢測設備的另一部分電原理圖。具體實施方式(實施例I)見圖1-3,本實施例是一種用于測試漏電斷路器的改進型檢測設備,包括交流電源電路I、直流供電電路7、相位產生電路2、交流漏電調節電路3、相位顯示電路6、指示燈電路5和時間檢測電路4。交流電源電路I具有用于構成負載回路的第一火線端和用于構成模擬漏電回路的第二火線端,第一火線端和第二火線端用于與被測設備9的火線輸入端相連,所述負載回路的零線端用于與被測設備9的零線端相連。本實施例中被測設備9是A型漏電斷路器。相位產生電路2用于與被測設備9的火線輸出端L2相連;相位產生電路2包括控制按鈕電路,控制按鈕電路用于控制相位產生電路2在所述模擬漏電回路中分別生成電流滯后電壓0°的半波整流電流、電流滯后電壓90°的半波整流電流、電流滯后電壓135°的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯后電壓0°的半波整流電流。交流漏電調節電路3用于控制所述模擬漏電回路的電流大小;時間檢測電路4用于測量從所述模擬漏電回路導通至A型漏電斷路器脫扣所需的時間,即動作時間。所述相位產生電路2包括電流滯后電壓0°的第一半波整流電路、電流滯后電壓90°的第二半波整流電路、電流滯后電壓135°的第三半波整流電路、6mA直流生成電路、以及用于根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號在所述模擬漏電回路中分別生成電流滯后電壓0°的半波整流電流、電流滯后電壓90°的半波整流電流、電流滯后電壓135°的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯后電壓0°的半波整流電流的可控硅電流控制電路。所述電流滯后電壓135°的第三半波整流電路包括由變壓器T2、二極管D5、電阻R3、R4、R5、R6、R7和運算放大器IClA構成的正弦波整形成電路,與運算放大器IClA的輸出端相連的由電阻R8、電容C5構成的充電電路,由二極管D6、D7構成的與門;用來設定相對于電流滯后電壓135°的整定電壓的電阻R9和R10,用來調節運算放大器IClB的反向端的相對于電流滯后電壓135°的比較電壓的電阻Rll和電位器WRl,運算放大器IClB的輸出端用于輸出電流滯后電壓135°的控制信號。電阻R12是三極管BG3基極的限流電阻,三極管BG3與電阻R13構成射極跟隨器,電阻R13上的電流滯后電壓135°的控制信號通過按鈕開關SB1、電阻R58送給三極管BG18,三極管BG18驅動光耦芯片IC4,電阻R59是限流電阻,保證光耦芯片IC4有效工作。光耦芯片IC4用以隔離交流220V與相位產生電路直流部分,控制雙向可控硅BG19的導通和關斷,電阻R60、R61用于控制雙向可控硅BG19的G極輸入電流,使輸入信號足夠觸發雙向可控硅BG19導通。雙向可控硅BG19的A、K 二極串聯在負載與交流電源之間,流過負載的電流就是滯后于電壓135°的半波整流電流。控制雙向可控硅BG19即可控制線路中通過規定的剩余脈動電流,調節電位器WR3、WR4、WR5即可控制漏電流大小。當按鈕開關SBlO閉合時,按鈕開關SBlO的兩個中間觸點用于相位產生電路輸出波形的檢測。所述可控硅電流控制電路包括根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極管BG18、由三極管BG18驅動的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通斷的雙向可控硅BG19,雙向可控硅BG19的A、K極串聯在所述模擬漏電回路中。所述時間檢測電路4包括單片機IC6、與單片機IC6的漏電檢測端相連的用于檢測所述模擬漏電回路是否導通的漏電信號檢測電路、以及與單片機IC6的時間信息輸出端相連的用于顯示時間的數碼管;單片機IC6根據漏電信號檢測電路輸出的漏電信號測量從所述模擬漏電回路導通至A型漏電斷路器脫扣所需的時間并通過所述數碼管顯示該時間。所述相位產生電路2連接有用于顯示所述模擬漏電回路存在電流滯后電壓0°的半波整流電流或電流滯后電壓90°的半波整流電流或電流滯后電壓135°的半波整流電流或含有6mA直流的電流滯后電壓0°的半波整流電流的相位顯示電路6。交流電源電路由220V 50Hz交流電源供電給變壓器T4,變壓器T4輸出180V、220V.250V.380V電壓經波段開關SAl連接至交流輸出接線柱L1、N上。通過調節波段開關SAl的檔位,可改變交流輸出接線柱LI和N兩端的電壓。變壓器T4的負載是交流漏電調節電路3。交流漏電調節電路3由變壓器T4輸出26V交流電,其輸出端一端與波段開關SA2串聯后接至交流輸出接線柱LI,另一端與電流表、漏電調節電阻、雙向可控硅BG19、波段開關SA3串聯后,連接至交流輸出接線柱L2。相位顯示電路6由數碼管LED1-LED4、二極管D11-36、三極管BG7-16組成的邏輯電路、按鈕開關組成。當按下按鈕開關SB4時,電流信號觸發三極管BG20導通,三極管BG20輸出信號觸發三極管BG7、BG8導通,數碼管LEDl顯示“A”,數碼管LED2顯示“C”。按下按鈕開本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種改進型檢測設備,包括交流電源電路(1)、相位產生電路(2)、交流漏電調節電路(3)和時間檢測電路(4);其特征在于:相位產生電路(2)包括電流滯后電壓0°的第一半波整流電路;所述第一半波整流電路由電阻R50、R51、R52、R53、R54、R55、R56、R57、R58、R59、R60、R61,二極管D37,三極管BG17、BG18,雙向可控硅BG19,運算放大器IC3,光耦芯片IC4構成;二極管D51的正極端與相位顯示電路中的三極管BG22的e極相連,二極管D51的負極端與電阻R75的一端相連,電阻R75的另一端與三極管BG28的b極相連,光耦芯片IC7的2腳與三極管BG28的c極相連,三極管BG28的e極與穩壓管BG21的2腳相連;電阻R74的一端與穩壓管BG21的3腳相連,光耦芯片IC7的4、6腳分別與按鈕開關SB3中間觸點SB3?21、常開觸點SB3?22相連。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:胡小青,
申請(專利權)人:蘇州貝騰特電子科技有限公司,
類型:實用新型
國別省市:
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