本實用新型專利技術涉及一種新型FP標準具特性研究及高準確度波長測定儀，屬于光譜類測試設備。He-Ne放電管光源、反射鏡組、聚光鏡組、濾光片組、氣壓可調的FP標準具組、中長焦鏡頭組、數碼相機接收器組依次按照光路的順序固定在平臺組上，Hg燈光源放、測量望遠鏡組。本實用新型專利技術的優點在于：結構新穎，采用汞燈和He-Ne放電管光源中波長相近的3種黃光波長準確測定標準具間距，采用氣壓微調避免被測波長干涉圓環的部分重疊現象，而氣壓引起的光程微小改變可以通過氣壓測量而準確修正，解決了因干涉圓環重疊的現象，獲得了清晰分開的圖像，給測量和分析帶來了極大的方便。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術屬于光譜類測試設備。尤其是指一種利用兩塊平行的平面反射鏡組成的法布里-泊羅(FP)標準具來分析譜線的精細結構的高性能儀器。
技術介紹
以往用FP測波長的兩個難點是(a)以往小數重合法確定標準具間距的準確度不夠高；(b)以往標準具由于溫度慢漂移或結構微變動可能使間距微變化，從而使小數重合法的測量圓環部分重疊，或使被測波長圓環與參考波長圓環部分重疊以影響測量。經常出現因干涉圓環重疊的現象，無法獲得清晰分開的圖像，給測量和分析帶來了極大的不便。
技術實現思路
本技術提供一種新型FP標準具特性研究及高準確度波長測定儀，以解決因干涉圓環重疊，導致無法獲得清晰分開的圖像，給測量和分析帶來了極大不便的問題。本技術的技術方案是中長焦鏡頭組與數碼相機接收器組固定連接，氣壓可調的FP標準具組通過硅膠管與氣壓計組固定連接，氣壓計組通過硅膠管與抽氣泵組固定連接，He-Ne放電管光源、反射鏡組、聚光鏡組、濾光片組、氣壓可調的FP標準具組、中長焦鏡頭組、數碼相機接收器組依次按照光路的順序固定連接在平臺組上，Hg燈光源與平臺組固定連接、且位于反射鏡組正下方，測量望遠鏡組與平臺組固定連接、且位于抽氣泵組的后方、數碼相機接收器組的下方。本技術的優點在于結構新穎，采用汞燈和He-Ne放電管光源中波長相近的3種黃光波長準確測定標準具間距，采用氣壓微調避免被測波長干涉圓環的部分重疊現象，而氣壓引起的光程微小改變可以通過氣壓測量而準確修正，解決了因干涉圓環重疊的現象，獲得了清晰分開的圖像，給測量和分析帶來了極大的方便。附圖說明圖I是本技術的結構示意圖。具體實施方式中長焦鏡頭組7與數碼相機接收器組8固定連接，氣壓可調的FP標準具組6通過硅膠管與氣壓計組11固定連接，氣壓計組11通過硅膠管與抽氣泵組10固定連接，He-Ne放電管光源2、反射鏡組3、聚光鏡組4、濾光片組5、氣壓可調的FP標準具組6、中長焦鏡頭組7、數碼相機接收器組8依次按照光路的順序固定連接在平臺組12上，Hg燈光源I與平臺組12固定連接、且位于反射鏡組3正下方，測量望遠鏡組9與平臺組12固定連接、且位于抽氣泵組10的后方、數碼相機接收器組8的下方。氣壓可調的FP標準具組6,該FP標準具由2mm、4mm、8mm不同間隔的FP標準具及氣壓在30-101kPa之間可調的空氣腔組成。標準具間隔的準確值用標準參考光源的譜線波長由小數重合法算出。FP標準具組的結構要求兩平面反射鏡之間密封性要好，且兩平面反射鏡之間的平行度要進行精細的調整。Hg燈光源I發出的光經反射鏡組3反射后與He-Ne放電管光源2發出的直接透過反射鏡組的光匯合，一同經聚光鏡組4、濾光片組5，投射在氣壓可調的FP標準具組6上，經FP標準具后形成干涉圓環，再經中長焦鏡頭組7成像后，由數碼相機接收器組8直接將干涉圓環的圖像拍攝下來。為了能夠獲得清晰分開的圖像，在做實驗時，可以通過抽氣泵組10來使FP標準具組中的氣壓值在O. 3^1個大氣壓之間緩慢調整。可以通過測量望遠鏡組9來監視干涉圓環圖像的變化。待拍攝到了清晰的多組干涉圓環的圖像后，就可以利用專用 的軟件對圓環圖像進行測量、分析了。權利要求1. 一種新型FP標準具特性研究及高準確度波長測定儀，其特征在于中長焦鏡頭組與數碼相機接收器組固定連接，氣壓可調的FP標準具組通過硅膠管與氣壓計組固定連接，氣壓計組通過硅膠管與抽氣泵組固定連接，He-Ne放電管光源、反射鏡組、聚光鏡組、濾光片組、氣壓可調的FP標準具組、中長焦鏡頭組、數碼相機接收器組依次按照光路的順序固定連接在平臺組上，Hg燈光源與平臺組固定連接、且位于反射鏡組正下方，測量望遠鏡組與平臺組固定連接、且位于抽氣泵組的后方、數碼相機接收器組的下方。專利摘要本技術涉及一種新型FP標準具特性研究及高準確度波長測定儀，屬于光譜類測試設備。He-Ne放電管光源、反射鏡組、聚光鏡組、濾光片組、氣壓可調的FP標準具組、中長焦鏡頭組、數碼相機接收器組依次按照光路的順序固定在平臺組上，Hg燈光源放、測量望遠鏡組。本技術的優點在于結構新穎，采用汞燈和He-Ne放電管光源中波長相近的3種黃光波長準確測定標準具間距，采用氣壓微調避免被測波長干涉圓環的部分重疊現象，而氣壓引起的光程微小改變可以通過氣壓測量而準確修正，解決了因干涉圓環重疊的現象，獲得了清晰分開的圖像，給測量和分析帶來了極大的方便。文檔編號G01J9/02GK202710187SQ20122031174公開日2013年1月30日 申請日期2012年6月30日 優先權日2012年6月30日專利技術者朱鶴年, 侯玉飛, 李雪野 申請人:長春禹衡時代光電科技有限公司本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種新型FP標準具特性研究及高準確度波長測定儀，其特征在于：中長焦鏡頭組與數碼相機接收器組固定連接，氣壓可調的FP標準具組通過硅膠管與氣壓計組固定連接，氣壓計組通過硅膠管與抽氣泵組固定連接，He？Ne放電管光源、反射鏡組、聚光鏡組、濾光片組、氣壓可調的FP標準具組、中長焦鏡頭組、數碼相機接收器組依次按照光路的順序固定連接在平臺組上，Hg燈光源與平臺組固定連接、且位于反射鏡組正下方，測量望遠鏡組與平臺組固定連接、且位于抽氣泵組的后方、數碼相機接收器組的下方。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：朱鶴年，侯玉飛，李雪野，
申請(專利權)人：長春禹衡時代光電科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。