一種反求測量時轉站用的轉站板制造技術

本實用新型專利技術涉及一種反求測量時轉站用的轉站板，屬于機械測量技術領域。本實用新型專利技術的反求測量時轉站用的轉站板包括一基座，該基座上凸設有至少三個不在同一個平面的平臺，每個平臺上均設有孔，孔與所在平臺上表面的相交線為圓。通過本實用新型專利技術的轉站板，能夠方便地實現反求測量儀器的轉站過程，能夠很好地實現不同測量坐標系下的點云數據正確拼接的問題。運用本實用新型專利技術轉站板能夠擴大反求測量儀器的使用范圍，每使用一次測量儀器就擴大一次測量儀器的使用范圍，擴大測量儀器的測量對象，提高測量儀器的使用效率。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種反求測量時轉站用的轉站板，屬于機械測量

技術介紹
反求工程(Reverse Engineering, RE),也稱逆向工程、反向工程,是指用一定的測量手段對實物或模型進行測量，根據測量數據通過三維幾何建模方法重構實物的CAD模型的過程，是一個從樣品生成產品數字化信息模型，并在此基礎上進行產品設計開發及生產的全過程。在反求工程中需要通用測量儀器獲得物體形貌上的幾何點云數據。有些測量設備需要在測量物體上貼上標記點來建立點云的坐標系，這些測量設備在測量時，可以移動測量設備和被測物體。有些測量設備不需要在測量物體上貼上標記點來建立測量坐標系，而是通過測量設備所處的位置來建立一個測量坐標系，測量物體及測量設備都不能移動。這些測量設備在測量形貌復雜的對象時，不移動測量設備時無法完成測量；當測量對象 尺寸超出了測試儀器的測量范圍時，也需要在測量過程中移動測量設備。要解決以上問題都需要移動測試儀器，此時測量坐標系也發生了變化。測量坐標系會導致移動前后測量的點云數據不在同一坐標系下，從而使獲得的點云數據無法正確反映實際掃描對象的幾何形貌。
技術實現思路
本技術的目的是提供一種反求測量時轉站用的轉站板，以解決目前反求測量時由于測試儀器移動導致測量的點云數據不在同一坐標系下，最終造成無法正確反映實際掃描對象的幾何形貌問題。本技術為解決上述技術問題提供一種反求測量時轉站用的轉站板，該轉站板包括一基座，基座的上表面至少凸設有三個平臺，其中任何三個平臺不在同一個平面上，每個平臺上均設有孔，孔與所在平臺上表面的相交線為圓。所述的孔為通孔或者深度大于其直徑的盲孔。所述的每個平臺上的孔為兩個，且大小不同。本技術的有益效果是本技術通過在一基座上凸設至少三個平臺，并在每個平臺上均設有孔，固定轉站板的位置，利用測量儀器測的測量儀器移動前后轉站板上圓孔的圓心坐標，求出兩坐標的偏差，從而能夠方便地實現反求測量儀器的轉站過程，以實現不同測量坐標系下的點云數據正確拼接的問題。運用本技術轉站板能夠擴大反求測量儀器的使用范圍，每使用一次測量儀器就擴大一次測量儀器的使用范圍，擴大測量儀器的測量對象，提高測量儀器的使用效率。附圖說明圖I是本技術實施例中反求測量時轉站用的轉站板的軸測圖；圖2是本技術實施例中反求測量時轉站用的轉站板的平面結構圖。具體實施方式以下結合附圖對本技術的具體實施方式作進一步說明。本技術的反求測量時轉站用的轉站板，包括一基座1，基座的上表面凸設有五個平臺2，其中任何三平臺不在同一個平面，每個平臺上均設有大孔3和小孔4，大孔3和小孔4是圓柱形、圓錐形或者其它任何形狀，只要該孔與所在平臺上表面的相交線為圓，每個孔為通孔或者深度大于其直徑的盲孔，孔的具體大小和個數根據測量儀器的類型決定。下面以一個特例來說明本技術的具體結構，如圖I和圖2所示，本技術的反求測量時轉站用的轉站板的基座為一塊長185mm，寬260mm，高20mm長方形板，在該基座上凸起五個不同高度的平臺，高度分別為5mm, 8mm, 10mm, 15mm, 20mm,每個平臺上設計有兩個圓孔，一個直徑8mm，一個直徑為26mm，這兩個圓孔可以是通孔，也可以是深度大于其直徑的盲孔，這樣有利于不同直徑的測量工具(如探針類和反射球)的測量，這兩類圓孔加工后的表面粗糙度要求達到Ra為O. 3 μ m，這五個平臺表面都經過研磨工序，保證其表面粗糙度為3. 2 μ m,從而保證每個圓孔與平臺表面相交線為圓。其工作原理過程如下I.把測量儀器和掃描對象放置好以后，對掃描對象的幾何形貌進行點云數據提取，獲得了掃描對象的部分點云數據Al。2.把轉站板放置在測量儀器的使用范圍內，在滿足轉站測量范圍的前提下盡量靠近測量儀器，這樣能夠提高測量的精度。3.使用測量儀器及測量軟件(具有測量點的功能)，測得轉站板上五個固定圓孔圓心的坐標值，記為qn(xqn, yqn, zqn) (η = 1，2，. . .，5)。五個固定圓孔中,任何三個圓孔都不能在一個平面上。4.移動測量儀器的測量坐標系，使用測量儀器及測量軟件測量轉站板上相同的五個固定圓孔圓心的坐標值，記為hn(xto, Yhn, Zhn) (η = 1，2，. . .，5)。5.兩次測量五個固定點坐標值間有O偏差，Δ Xn, Δ yn, Δζη(η = I, 2. . . , 5)Δ χη = Xhn-Xqn, Δ yn = yta-yqn, Δ ζη = Zhn-Zqn6.移動后新的測量坐標系相對于移動前的測量坐標系有一個偏差Δχ, Ay, Δ ζ,其中令權利要求1.一種反求測量時轉站用的轉站板，其特征在于該轉站板包括一基座，基座的上表面至少凸設有三個平臺，其中任何三個平臺不在同一個平面上，每個平臺上均設有孔，孔與所在平臺上表面的相交線為圓。2.根據權利要求I所述的反求測量時轉站用的轉站板，其特征在于所述的孔為通孔或深度大于其直徑的盲孔。3.根據權利要求I或2所述的反求測量時轉站用的轉站板，其特征在于所述的每個平臺上的孔為兩個，且大小不同。專利摘要本技術涉及一種反求測量時轉站用的轉站板，屬于機械測量
本技術的反求測量時轉站用的轉站板包括一基座，該基座上凸設有至少三個不在同一個平面的平臺，每個平臺上均設有孔，孔與所在平臺上表面的相交線為圓。通過本技術的轉站板，能夠方便地實現反求測量儀器的轉站過程，能夠很好地實現不同測量坐標系下的點云數據正確拼接的問題。運用本技術轉站板能夠擴大反求測量儀器的使用范圍，每使用一次測量儀器就擴大一次測量儀器的使用范圍，擴大測量儀器的測量對象，提高測量儀器的使用效率。文檔編號G01B21/20GK202710025SQ20122038531公開日2013年1月30日 申請日期2012年7月31日 優先權日2012年7月31日專利技術者余永健, 司東宏, 劉永剛, 李倫 申請人:河南科技大學本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種反求測量時轉站用的轉站板，其特征在于：該轉站板包括一基座，基座的上表面至少凸設有三個平臺，其中任何三個平臺不在同一個平面上，每個平臺上均設有孔，孔與所在平臺上表面的相交線為圓。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：余永健，司東宏，劉永剛，李倫，
申請(專利權)人：河南科技大學，
類型：實用新型
國別省市：