本發明專利技術涉及一種非接觸檢測運轉紗線（5）中的缺陷的方法，其中，缺陷具體由突出的絲線（7）或由絲線斷裂或由夾帶的污物顆粒或棉絨球形成，其中，在紡織機上，優選地在紡織機的卷繞位置或卷繞裝置上，使用具有至少三個光柵（2，3）的幾何光學傳感器單元（1），其中稱為遮擋光柵的第一光柵（3）形成遮擋光學器件，所述運轉紗線（5）穿過所述遮擋光學器件，并且所述遮擋光學器件檢測所述運轉紗線（5）的結構，而在所述三個光柵（2，3）中，至少兩個另外的觸發光柵（2）被設置為與所述紗線（5）相距不同的距離和/或設置在所述紗線（5）的不同側，使得只有所述運轉紗線（5）的缺陷才引起所述觸發光柵的遮擋，其中，持續地或以預定時間調整或跟蹤所述觸發光柵的操作點，以補償所述觸發光柵上可能的污物累積或抑制所述幾何光學傳感器單元的組件的老化癥狀，其中，在所述觸發光柵（2）上發生的操作點漂移被應用到所述遮擋光柵（3），使得所述遮擋光柵（3）的操作點基于與所述觸發光柵（2）的操作點漂移的預定依賴關系而被調整或跟蹤。
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
如權利要求I中的前序部分所述，本專利技術涉及一種使用幾何光學傳感器單元非接觸檢測運轉紗線(running thread)中的缺陷的方法。所述缺陷在這里被理解為具體指突出的絲線或絲線斷裂，但也指運轉紗線夾帶的顆粒，例如棉絨片或污物顆粒。
技術介紹
為實施這樣的方法，眾所周知，在紗線生產的技術部門，絲線斷裂傳感器被用于保證質量。在此范疇內已經推出兩款產品。一個是出自Enka Tecnica公司的所謂的“Fraytec系統”，另一個是出自Fibrevision公司的“FibreTQS系統”。這兩個系統以不同的方式檢測絲線斷裂及其他瑕疵。“Fraytec系統”通過設置在不同位置的光柵(light barrier)檢測絲線斷裂，而“FibreTQS系統”利用遮擋光學器件通過噪聲信號分析來測量絲線斷裂。在 EP1288612 A2中對這兩個系統都有描述。Fibrevision公司在2008年將這兩種技術予以組合，提出一種雙采集系統并被命名為“FraytecTQS”。在所述系統中，通過遮擋光學器件既監測來自絲線光柵監測的觸發信號又監測紗線的結構。然而，這仍然涉及到兩種不同的測量方法，雖然它們被組合在一個傳感器外殼內，卻仍然具有各自獨立的評估技術。因此，例如，觸發光柵用于檢測非常短或細的絲線斷裂，而遮擋光學器件用于檢測更大的缺陷。該組合系統具有至少三個光柵，其中，稱為遮擋光柵的光柵形成遮擋光學器件，運轉紗線穿過該遮擋光學器件，并且該遮擋光學器件檢測運轉紗線的結構，而在所述三個光柵中，至少兩個另外的觸發光柵被設置為與紗線相距不同的距離和/或被設置在紗線的不同側，使得只有運轉紗線的缺陷才引起所述觸發光柵的遮擋。因此在無缺陷的生產過程中觸發光柵不會被紗線遮擋。從DE10353892A1已知曉一種用于測量對象的測量裝置，其使用多個光柵來運行。與本專利技術的方法相反，該測量裝置中始終是多個光柵被遮擋。進行這樣的校準，即，通過逐步增加基準光柵上的傳送功率來設定接收標稱值(reception nominal value),然后,針對該傳送功率，為所有其他的光柵確定校正系數，以便讓其他光柵的實際值達到所期望的標稱值。由于污物進入幾何光學傳感器單元，光柵輸出會出現失真信號，這對期望的對運轉紗線中的缺陷的檢測造成損害。為了對這種污物累積進行補償，可以一定的時間間隔或者甚至是持續地再次調整或跟蹤觸發光柵的操作點。但是，針對遮擋光柵而言，由于測量對象5引起的遮擋也會被補償，因而這樣的跟蹤不能實現。
技術實現思路
本專利技術解決的問題是，提供一種對開頭提到的類型的改進方法，無須費力就能很容易地實施該方法，并提供在遮擋光柵上補償污物累積的改進的可能性。根據本專利技術，這個問題通過權利要求I的方法得以解決。本專利技術的方法中至關重要的是，在觸發光柵上發生的操作點漂移被應用到遮擋光柵，使得遮擋光柵的操作點基于與觸發光柵的操作點漂移的預定依賴關系而被調整或跟足示O以這種方式，即使是對遮擋光柵也能自動進行污物補償。為此，由觸發光柵預先確定的操作點漂移(該操作點漂移用于補償觸發光柵上的污物累積)被用于補償同樣出現在遮擋光柵的區域中的相似或相同的污物累積。因此，這是由觸發光柵主導的污物補償。根據本專利技術的一個具體優選實施例，提出這樣的方案與觸發光柵的操作點漂移成比例地調整遮擋光柵的操作點。本專利技術還涉及一種用于實施上述這類方法的裝置。附圖說明 根據下面的描述和附圖所示的實施例的例子，本專利技術的進一步的優點和特征將變得顯而易見，其中該附圖示出實施本專利技術的方法的裝置的示意圖。具體實施例方式所示出的包括幾何光學傳感器單元I的系統的背景是，將通過觸發光柵2進行的絲線斷裂檢測與遮擋光學器件3的同時使用予以組合，以便檢測和進一步處理沿著箭頭4的方向行進的紗線5中出現的絲線斷裂或缺陷。在所示出的例子中，提供6個觸發光柵2，它們被設置在紗線5的兩個不同側且與紗線5的距離不同，并且沿著紗線的行程而位于不同位置。各觸發光柵2的每一個都可由分立的光柵或由二極管陣列實現。遮擋光柵3使用準直光(光束彼此平行)進行操作。這里，所述觸發光柵2的光束直徑明顯小于遮擋光柵3的光束直徑，使得與當遮擋光柵被紗線直徑3持續遮擋時的情形相比，在觸發光柵2上由單個紗線凸起7形成的相對較小的遮擋導致相對較大的變化。如果由觸發光柵2傳送的信號被饋送到檢查所述信號的可信度的評估單元，這種方案特別有利。在這種情況下，如果由觸發光柵2傳送的信號被認為是不可信的，該信號可以被忽略。優選地，可以基于來自觸發光柵2的信號對時間的依賴性來檢查可信度。以這種方式，還可以集成所謂的“閃爍控制”，即檢查由于外部的光閃爍引起的錯誤信號。這種策略是基于沿紗線方向位于不同位置的各觸發光柵2的布置而實現的。絲線缺陷7總是在多個觸發光柵2上按照一定的順序觸發事件，而干擾性閃爍卻幾乎同時觸發所有觸發光柵2。這種同時性可以借助于評估電子器件或傳感器程序予以評估、進一步加以利用和/或予以顯示。由于測量系統基本上由多個平放在表面上的光柵組成，遮擋光柵3上的污物累積可以被檢測和補償。例如，在正常運轉模式下，觸發光柵2的操作點不會被測量對象5遮擋，通過對觸發光柵2的操作點進行持續跟蹤或以預定時間進行跟蹤，對污物累積進行補償。作為對比，并不能進行對遮擋光柵3的這種簡單跟蹤，因為此時由于測量對象5引起的遮擋也會被補償。但是，如果利用由觸發光柵2預先確定的操作點漂移，則此信息可用于補償在遮擋光柵3的區域中發生的類似或相同的污物累積(由觸發光柵2主導的污物補償)。權利要求1.一種非接觸檢測運轉紗線(5)中的缺陷的方法，其中，缺陷具體由突出的絲線(7)或由絲線斷裂或由夾帶的污物顆粒或棉絨片形成， 其中，在紡織機上，優選地在紡織機的卷繞位置或卷繞裝置上，使用具有至少三個光柵(2,3)的幾何光學傳感器單元(1)，其中稱為遮擋光柵的第一光柵(3)形成遮擋光學器件，所述運轉紗線(5)穿過所述遮擋光學器件，并且所述遮擋光學器件檢測所述運轉紗線(5)的結構，而在所述三個光柵(2，3)中，至少兩個另外的觸發光柵(2)被設置為與所述紗線(5)相距不同的距離和/或設置在所述紗線(5)的不同側，使得只有所述運轉紗線(5)的缺陷才引起所述觸發光柵的遮擋，以及 其中持續地或以預定時間調整或跟蹤所述觸發光柵的操作點，以補償所述觸發光柵上可能的污物累積或抑制所述幾何光學傳感器單元的組件的老化癥狀， 其特征在于， 在所述觸發光柵(2)上發生的操作點漂移被應用于所述遮擋光柵(3)，使得所述遮擋光柵(3)的操作點基于與所述觸發光柵(2)的操作點漂移的預定依賴關系而被調整或跟足示O2.根據權利要求I所述的方法，其特征在于，與所述觸發光柵(2)的操作點漂移成比例地調整所述遮擋光柵(3)的操作點。3.一種非接觸檢測運轉紗線(5)中的缺陷的裝置，包括 -具有至少三個光柵(2，3)的幾何光學傳感器單元(I )，其中稱為遮擋光柵的第一光柵(3)形成遮擋光學器件，所述運轉紗線(5)能夠穿過所述遮擋光學器件，并且借助于所述遮擋光學器件能夠檢測所述運轉紗線(5)的結構，而在所述幾何光學傳感器單元中，至少兩個另外的觸發光柵(2)被設置為與所述紗線(5)相距不同的距離和/或設置在所述紗線(5)的不同側，使得只有所本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...
【專利技術屬性】
技術研發人員：費迪南德·約瑟夫·赫爾曼斯，羅爾夫·哈森，
申請(專利權)人：威克股份有限公司，
類型：
國別省市：
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