本發明專利技術涉及了圓軸測量裝置的技術領域，公開了包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸長度的第一測量機構以及置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸外徑、跳動值及真圓度的第二測量機構；第一測量機構包括兩個相間設置的軸承組件及傳感器，利用兩軸承組件之間距離變化，利用傳感器測到圓軸長度；第二測量機構包括發射平行光的光學檢測儀，利用平行光照在圓軸上的結構，得到圓軸的外徑、跳動值及真圓度。與現有技術相比，該測量裝置對圓軸的測量速度較快，自動化操作，準確度高、效率高，滿足精密生產的需要。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及圓軸測量裝置的
，尤其涉及。
技術介紹
圓軸是機械領域中常用的零件，一般在各種機械設備的組裝中都會用到。對于不同的機械設備，對圓軸的長度、外徑、跳動值以及真圓度的要求也不一樣，因此，在機械設備組裝之前，首先必須選擇與要求相匹配的圓軸，且對于生產、加工企業而言，這也是工序開始的前期必備程序。若圓軸的長度、外徑、跳動值以及真圓度與要求有過大偏差，則會損害機械設備的運作，造成機械設備損壞等現象，因此，對圓軸的長度、外徑、跳動值以及真圓度進行測量并分類則成為工業企業生產所必須進行的工序。現有技術中，通常都采用普通卡尺或百分表測量圓軸的長度、外徑、跳動值以及真圓度，這樣，存在測量速度慢、測量準確度低以及效率低的問題，不能滿足精密生產的需要。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置，旨在解決現有技術中采用卡尺或百分表測量圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度，以致測量速度慢、測量準確度低、效率低及不能滿足精密生產需要的問題。本專利技術是這樣實現的，圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸長度的第一測量機構以及置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸外徑、跳動值及真圓度的第二測量機構；所述第一測量機構包括第一導軌以及兩分別相間設于所述第一導軌上的第一軸承組件及第二軸承組件；所述第一軸承組件包括設于所述第一導軌一端的第一底座以及設于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第一抵接軸，所述第一底座上還設有驅動圓軸轉動的動力組件；所述第二軸承組件包括設于所述第一導軌另一端的第二底座以及設于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第二抵接軸，所述第二底座上還設有檢測移動距離的傳感器以及可驅動所述第二抵接軸及所述傳感器向前移動的氣缸；所述第二測量機構包括兩設于所述基座上且分別平行置于所述第一導軌兩側的第二導軌、分別連接于兩所述第二導軌的橫板以及分別置于所述橫板兩端且通過發出平行光測量轉動中的圓軸的外徑、跳動值及真圓度并將測量結果傳至所述控制中心的光學檢測儀。本專利技術還提供了上述圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置的測量方法，如下將圓軸置于所述第一軸承組件及所述第二軸承組件之間；預設所述第一抵接軸與第二抵接軸之間的距離大于所述圓軸的長度；所述動力組件驅動所述圓軸轉動，所述氣缸驅動所述第二抵接軸及所述傳感器向前移動；直至所述第一抵接軸及第二抵接軸分別抵接于圓軸的兩端，傳感器將移動的距離傳遞至所述控制中心，所述控制中心根據預設距離與移動距離之差得到圓軸的長度數值；當所述圓軸轉動后，所述光學檢測儀發出平行光，平行光受圓軸遮蔽產生陰影，得到陰影的間距d，且得到所述平行光于圓軸邊緣切點與平行光邊緣的距離L1或L2;當圓軸轉動多周后，得到多組數據為=CKc^d2,......,dn), L1 (L11, L12 ^......山η)或L2(L21, L22,......,L2n);控制中心計算CKdpd2,......，dn)的平均值，得到圓軸的平均外徑數值，計算L1 (Ln，L12,......，Lln) ^L2(L21, L22,......，L2n)中最大值及最小值之差，得到圓軸跳動值，計算(Kd1, d2,......，dn)中最大值及最小值之差，得到圓軸真圓度的數值。 與現有技術相比，本專利技術中的測量裝置可以對圓軸的長度、外徑、跳動值及真圓度進行自動化測量，且操作速度快、效率高及準確率高，滿足精密生產的需要。附圖說明圖I是本專利技術提供的圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置的立體示意圖；圖2是本專利技術實施例提供的第一軸承組件與動力組件配合的立體示意圖；圖3是本專利技術實施例提供的第二軸承組件的立體示意圖；圖4是本專利技術實施例提供的第二測量機構的立體示意圖；圖5是本專利技術實施例提供的光學檢測儀發出平行光至圓軸上的效果示意圖；圖6是本專利技術實施例提供的圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置運用于生產線中的立體示意圖。具體實施例方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。本專利技術提供了圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸長度的第一測量機構以及置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸外徑、跳動值及真圓度的第二測量機構；所述第一測量機構包括第一導軌以及兩分別相間設于所述第一導軌上的第一軸承組件及第二軸承組件；所述第一軸承組件包括設于所述第一導軌一端的第一底座以及設于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第一抵接軸，所述第一底座上還設有驅動圓軸轉動的動力組件；所述第二軸承組件包括設于所述第一導軌另一端的第二底座以及設于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第二抵接軸，所述第二底座上還設有檢測移動距離的傳感器以及可驅動所述第二抵接軸及所述傳感器向前移動的氣缸；所述第二測量機構包括兩設于所述基座上且分別平行置于所述第一導軌兩側的第二導軌、分別連接于兩所述第二導軌的橫板以及分別置于所述橫板兩端且通過發出平行光測量轉動中的圓軸的外徑、跳動值及真圓度并將測量結果傳至所述控制中心的光學檢測儀。利用本專利技術中的測量裝置，可以實現對圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度自動化測量，其操作速度快、效率高，且準確度也高，滿足精密生產的需要。以下結合具體附圖對本專利技術的實現進行詳細的描述。如圖I飛所示，為本專利技術的一較佳實施例。本實施例中的測量裝置1，用于測量圓軸2的長度、外徑、跳動值以及真圓度，其包括基板10、設置在基板10上且可對圓軸2長度進行測量的第一測量機構、設置在基板10上且可對轉動的圓軸2的外徑、跳動值及真圓度進行測量的第二測量機構13以及控制中心，在控制中心的控制下，上述的第一測量機構還可以帶動圓軸2轉動，圓軸2只有轉動，第二測量機構13才可以對轉動中的圓軸2的跳動值及真圓度進行測量。 具體地，上述的第一測量結構包括設置在基板10上的第一導軌110以及兩相間設置在第一導軌Iio上的軸承組件，兩軸承組件之間具有間隙，圓軸2呈軸向放置在該間隙中，兩端分別由軸承組件支撐。為了便于敘述，兩軸承組件分別為第一軸承組件11以及第二軸承組件15。上述的第一軸承組件11包括設置在第一導軌110 —端上的第一底座111，當然，第一底座111下端設有與第一導軌110配合的第一軌道，這樣，使得第一底座111可以相對于第一導軌110移動；第一底座111的上端設有向下凹的第一限位槽，對應第一限位槽的位置，第一底座111的后側設有第一抵接塊112，該第一抵接塊112中穿設有第一抵接軸113，該第一抵接軸113的一端穿設在第一抵接塊112中，另一端向前延伸，通過上述的第一限位槽，延伸至第一底座111的前端，其可用于抵接在圓軸2的一端頭上；在第一底座111的前端相間設置有兩個第一滾軸114,該兩第一滾軸114分別位于第一限位槽的下方,且分布在第一限位槽的左右兩側，這樣，也就是第一限位槽以及兩個第一滾軸114形成三角狀，兩個第一滾軸114的間隙不宜過大，當圓軸2的一端部置于第一軸承組本文檔來自技高網...
【技術保護點】
圓軸長度、外徑、跳動值及真圓度的測量裝置，其特征在于，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸長度的第一測量機構以及置于所述基座上且由所述控制中心控制測量圓軸外徑、跳動值及真圓度的第二測量機構；所述第一測量機構包括第一導軌以及兩分別相間設于所述第一導軌上的第一軸承組件及第二軸承組件；所述第一軸承組件包括設于所述第一導軌一端的第一底座以及設于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第一抵接軸，所述第一底座上還設有驅動圓軸轉動的動力組件；所述第二軸承組件包括設于所述第一導軌另一端的第二底座以及設于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圓軸端頭的第二抵接軸，所述第二底座上還設有檢測移動距離的傳感器以及可驅動所述第二抵接軸及所述傳感器向前移動的氣缸；所述第二測量機構包括兩設于所述基座上且分別平行置于所述第一導軌兩側的第二導軌、分別連接于兩所述第二導軌的橫板以及分別置于所述橫板兩端且通過發出平行光測量轉動中的圓軸的外徑、跳動值及真圓度并將測量結果傳至所述控制中心的光學檢測儀。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭青煥，
申請(專利權)人：深圳深藍精機有限公司，
類型：發明
國別省市：
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