超限位探測觸點制造技術

超限位探測觸點，涉及位移監測技術領域，其特征在于：包括支撐架（1），支撐架（1）固定于待測物（2）下平面的正下方，支撐架（1）上并排安裝兩個方向朝上的接觸針，兩個接觸針與待測物（2）下平面安裝的兩個接觸片分別形成常開觸點和常閉觸點。該超限位探測觸點利用常開觸點可以監測待測物向下移動是否超限，利用常閉觸點可以監測待測物在水平面前后、左右移動和向上移動是否超限，并可以監測角位移是否超限，結構更加簡化，實用。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

超限位探測觸點，涉及位移監測
，具體涉及一種用于超限狀態的取樣和信號輸出的探測裝置。
技術介紹
在某些報警類控制檢測中，需要對位置變化超出限度帶來的風險做應對，僅僅探測是否超過限度，不關注其位移的具體數值的大小，這樣的位移監測裝置往往設置多個觸點，如果檢測三個線位移和三個角位移，設置的觸點則更多、信號處理回路復雜，需要進行簡化處理。
技術實現思路
本技術要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種只需兩個觸點便可以檢測正交系三個軸線方向上的位移是否超限的超限位探測觸點。本技術解決其技術問題所采用的技術方案是該超限位探測觸點，其特征在于包括支撐架，支撐架固定于待測物下平面的正下方，支撐架上并排安裝兩個方向朝上的接觸針，兩個接觸針與待測物下平面安裝的兩個接觸片分別形成常開觸點和常閉觸點。常開觸點可以監測待測物向下移動是否超限，常閉觸點可以監測待測物水平面上前后、左右移動和向上移動是否超限，結合兩觸點的位移變化可以計算得出待測物角位移是否超限。所述的常開觸點包括固定在支撐架上的常開接觸針和固定在待測物下平面的常開接觸片，常開接觸針端頭朝向常開接觸片中心點并與常開接觸片之間留有一定距離。所述的常開接觸針端頭與常開接觸片之間的距離為待測物允許向下移動的最大距離。待測物向下位移超限后，常開接觸針端頭與常開接觸片接觸，發出預警信號。所述的常閉觸點包括固定在支撐架上的常閉接觸針和固定在待測物下平面的常閉接觸片，常閉接觸針伸入固定在支撐架上的導向筒內，常閉接觸針上套有可以使其彈起的壓縮彈簧，壓縮彈簧使常閉接觸針端頭頂在常閉接觸片中心位置。所述的常閉接觸針可上升的最大距離等于待測物允許向上移動的最大距離。待測物向上位移超限后，常閉接觸針端頭接觸不到常閉接觸片，發出預警信號。所述的常閉接觸片為四方形薄片，四方形薄片的邊長為待測物允許水平面上前后或左右移動最大距離的2倍。待測物水平位移超限后，常閉接觸針端頭接觸不到常閉接觸片，發出預警信號。所述的常閉接觸片為圓形薄片，圓形薄片的半徑為待測物允許水平面上前后或左右移動的最大距離。待測物水平位移超限后，常閉接觸針端頭接觸不到常閉接觸片，發出預警信號。與現有技術相比，本技術的超限位探測觸點所具有的有益效果是I、簡化結構，僅應用兩個觸點便能檢測正交系三個軸線方向上的位移是否超限只需要設置常開觸點和常閉觸點，常開觸點可以監測待測物向下移動是否超限，常閉觸點可以水平面上前后、左右移動和向上移動是否超限；2、可監測角位移是否超限當需要以角位移提出限值時，可以根據角位移限定數值換算成相應的觸點的線位移限值，根據線位移限值設定接觸片和接觸針的相關尺寸和安裝配置，可監測角位移是否超限并完成超限信號的采集。附圖說明圖I是本技術結構示意圖。其中1、支撐架2、待測物3、常開接觸針4、常開接觸片5、常閉接觸針6、常閉接觸片 7、導向筒 8、壓縮彈簧9、卡子10、螺釘。圖I是本技術超限位探測觸點的最佳實施例，以下結合附圖I對本技術 做進一步說明。具體實施方式實施例I參照附圖I :該超限位探測觸點，包括支撐架1，支撐架I固定于待測物2下平面的正下方，支撐架I上并排安裝兩個方向朝上的接觸針，兩個接觸針與待測物2下平面安裝的兩個接觸片分別形成常開觸點和常閉觸點。常開觸點包括固定在支撐架I上的常開接觸針3和固定在待測物2下平面的常開接觸片4，常開接觸針3通過卡子9和螺釘10固定在支撐架I上，常開接觸針3端頭朝向常開接觸片4中心點并與常開接觸片4之間留有一定距離。常開接觸針3端頭與常開接觸片4之間的距離為待測物2允許向下移動的最大距離。常閉觸點包括固定在支撐架I上的常閉接觸針5和固定在待測物2下平面的常閉接觸片6，常閉接觸針5裝入固定在支撐架I上的導向筒7內，導向筒7通過卡子9和螺釘10固定在支撐架I上，常閉接觸針5上套有可以使其彈起的壓縮彈簧8，壓縮彈簧8使常閉接觸針5端頭頂在常閉接觸片6中心位置。常閉接觸針5可上升的最大距離等于待測物2允許向上移動的最大距離。常閉接觸片6為四方形薄片，四方形薄片的邊長為待測物允許水平面上前后或左右移動最大距離的2倍。圖中，省略了各觸點、各接觸片與安裝配套件之間的絕緣技術處理，省略了各觸點、各接觸片的導線引線技術處理。上述處理為通用設置技術，簡單易行。此外，各觸點、各接觸片的表面防銹蝕處理按照待測物所處環境做選擇。實施例2常閉接觸片6設計為圓形薄片，圓形薄片的半徑為待測物2允許水平面上前后或左右移動的最大距離，其他設置均與實施例I中的相同。工作原理常開觸點可以監測待測物2向下移動是否超限，常閉觸點可以監測待測物2水平面上前后、左右移動和向上移動是否超限，監測過程中，待測物2向下位移超限后，常開接觸針3端頭與常開接觸片4接觸，發出預警信號；待測物2向上位移超限后，常閉接觸針5盡管在壓縮彈簧8的作用下可以繼續伸出，保持常閉接觸片6的接觸，但這種伸出有一個最大值，超過最大值，常閉接觸針5上的盤型部分被導向筒7的端部阻擋，常閉接觸針5接觸不到常閉接觸片6，發出預警信號；待測物2水平面上前后或左右位移超限后，常閉接觸針5端頭接觸不到常閉接觸片6，發出預警信號。當需要以角位移提出限值時，可以根據角位移限定數值換算成相應的觸點的線位移限值，根據線位移限值設定接觸片和接觸針的相關尺寸和安裝配置，可監測角位移是否超限并完成超限信號的采集。以上所述，僅是本技術的較佳實施例而已，并非是對本技術作其它形式的限制，任何熟悉本專業的技術人員可能利用上述揭示的
技術實現思路
加以變更或改型為等同 變化的等效實施例。但是凡是未脫離本技術技術方案內容，依據本技術的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與改型，仍屬于本技術技術方案的保護范圍。權利要求1.超限位探測觸點，其特征在于包括支撐架(1)，支撐架(I)固定于待測物(2)下平面的正下方，支撐架(I)上并排安裝兩個方向朝上的接觸針，兩個接觸針與待測物(2)下平面安裝的兩個接觸片分別形成常開觸點和常閉觸點。2.根據權利要求I所述的超限位探測觸點，其特征在于所述的常開觸點包括固定在支撐架(I)上的常開接觸針(3)和固定在待測物(2)下平面的常開接觸片(4)，常開接觸針(3)端頭朝向常開接觸片(4)中心點并與常開接觸片(4)之間留有一定距離。3.根據權利要求2所述的超限位探測觸點，其特征在于所述的常開接觸針(3)端頭與常開接觸片(4)之間的距離為待測物(2)允許向下移動的最大距離。4.根據權利要求I所述的超限位探測觸點，其特征在于所述的常閉觸點包括固定在支撐架(I)上的常閉接觸針(5 )和固定在待測物(2 )下平面的常閉接觸片(6 )，常閉接觸針(5)伸入固定在支撐架(I)上的導向筒(7)內，常閉接觸針(5)上套有可以使其彈起的壓縮彈簧(8)，壓縮彈簧(8)使常閉接觸針(5)端頭頂在常閉接觸片(6)的中心位置。5.根據權利要求4所述的超限位探測觸點，其特征在于所述的常閉接觸針(5)可上升的最大距離等于待測物(2 )允許向上移動的最大距離。6.根據權利要求4所述的超限位探測觸點，其特征在于所述的常閉接觸片(6)為四方形薄片，四方形薄片的邊長為待測物(2)允許水平面上前后或左右移動最大距離的2倍。7.根據本文檔來自技高網...

【技術保護點】
超限位探測觸點，其特征在于：包括支撐架（1），支撐架（1）固定于待測物（2）下平面的正下方，支撐架（1）上并排安裝兩個方向朝上的接觸針，兩個接觸針與待測物（2）下平面安裝的兩個接觸片分別形成常開觸點和常閉觸點。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張會亭，田緒峰，鞏曰新，田昭春，張志新，孫茂波，周锫，黃琪亮，鞏天濤，鞏方濤，田昊，穆冠帥，田連超，
申請(專利權)人：山東起鳳建工股份有限公司，張會亭，
類型：實用新型
國別省市：