高低溫、高低電壓內存模擬測試系統技術方案

本實用新型專利技術公開了高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其包括：多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。本實用新型專利技術能夠實現批量化生產需要，在有限的空間內最大化安裝測試板數量；一臺控制顯示器，能夠實現對所有測試板控制，實現同一程序、同一標準；測試溫度實時查看，測試電壓實時查看；測試板可根據產品的不同更換或者更新，實用性強，能夠保證內存使用的穩定性。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及半導體模組技術，特別是涉及ー種高低溫、高低電壓內存模擬測試系統。
技術介紹
電腦用內存在很多領域已經是必不可少的ー個配件，但是市場上同類產品的性能與穩定性無法得到保障，電腦使用過程中經常出現藍屏、報錯等死機現象，原因在于內存沒有進行全面的測試。隨著內存容量與頻率的提高，其發熱量也隨之大大提高，因此，在長時間使用或者高溫環境使用中，內存芯片容易出現數據存儲錯誤的情況，甚至有的不合格產品出現芯片燒毀的情況。內存正常工作電壓為I. 5V，如果電源輸出電壓不能保持穩定，很容易造成電腦數據交換錯誤，造成非常大的損失。電腦內存DRAM(Dynamic Random Access Memory,動態隨機存取存儲器)芯片內部存在幾億個晶體管，內存沒有經過嚴格的全面的測試，不能講不良的產品選別出來，那消費者使用過程中報錯，死機現象等數據存儲錯誤的現象就會經常發生。
技術實現思路
(一 )要解決的技術問題本技術要解決的技術問題是如何確保電腦用內存芯片在高低溫、高低電壓變化情形下能夠正常工作。( ニ )技術方案為了解決上述技術問題，本技術提供ー種高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其包括多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。其中，每個所述測試板上連接有溫度控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試溫度。其中，每個所述測試板上連接有電壓控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試電壓。其中，還包括多個電壓及溫度顯示模塊，分別與每個所述測試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個測試板的測試溫度和測試電壓。其中，還包括電源，與所述多個測試板和控制顯示器相連，進行供電。其中，還包括電源主開關，與所述電源相連，用于控制電源的開或關；多個電源分開關，分別與每個測試板相連，控制每個測試板供電的通或斷。(三)有益效果上述技術方案所提供的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，該系統能夠實現批量化生產需要，在有限的空間內最大化安裝測試板數量；一臺控制顯示器，能夠實現對所有測試板控制，實現同一程序、同一標準；測試溫度實時查看，測試電壓實時查看；測試板可根據產品的不同更換或者更新，實用性強，能夠保證內存使用的穩定性。附圖說明圖I是本技術實施例的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統的結構示意圖。具體實施方式以下結合附圖和實施例，對本技術的具體實施方式作進ー步詳細描述。以下實施例用于說明本技術，但不用來限制本技術的范圍。圖I示出了本實施例的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統的結構示意圖，參照圖示，其包括多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。為了測試內存在不同溫度和電壓條件下的穩定性，每個所述測試板上連接有溫度 控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試溫度；每個所述測試板上還連接有電壓控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試電壓。并且，為了測試方便，還設置有多個電壓及溫度顯示模塊，分別與每個所述測試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個測試板的測試溫度和測試電壓。本實施例測試系統還包括電源，與所述多個測試板和控制顯示器相連，進行供電。為了能夠實現整體控制和獨立控制，本實施例測試系統設置有電源主開關，與所述電源相連，用于控制電源的開或關；還設置有多個電源分開關，分別與每個測試板相連，控制每個測試板供電的通或斷。本實施例測試系統通過各種編碼，對內存每ー個單元進行數據讀寫，內存芯片不良類型檢出率達到99. 7%以上；本系統實現內存在高低溫(10°C 65°C )環境下高速數據存儲，確保內訓產品在極端環境下的工作穩定性；本系統對內存電壓進行自動階梯式變化(I. 42V I. 58V)，確保測試過的產品在電壓變換的情況下也能正常工作；本系統能夠根據產品種類，自動匹配下載測試程序，自動設置測試條件，且將測試詳細結果寫入內存Sro(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的縮寫，中文意思是模組存在的串行檢測，也即是通過IIC 串行接 ロ 的 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,電可擦可編程只讀存儲器)對內存插槽中的模組存在的信息檢查)中，使得產品信息可追溯性。由以上實施例可以看出，本技術實施例能夠實現批量化生產需要，在有限的空間內最大化安裝測試板數量；一臺控制顯示器，能夠實現對所有測試板控制，實現同一程序、同一標準；測試溫度實時查看，測試電壓實時查看；測試板可根據產品的不同更換或者更新，實用性強，能夠保證內存使用的穩定性。以上所述僅是本技術的優選實施方式，應當指出，對于本
的普通技術人員來說，在不脫離本技術技術原理的前提下，還可以做出若干改進和替換，這些改進和替換也應視為本技術的保護范圍。權利要求1.一種高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，包括多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。2.如權利要求I所述的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，每個所述測試板上連接有溫度控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試溫度。3.如權利要求2所述的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，每個所述測試板上連接有電壓控制模塊，用于調整每個所述測試板的測試電壓。4.如權利要求3所述的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，還包括多個電壓及溫度顯示模塊，分別與每個所述測試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個測試板的測試溫度和測試電壓。5.如權利要求I所述的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，還包括電源，與所述多個測試板和控制顯示器相連，進行供電。6.如權利要求5所述的高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，還包括電源主開關，與所述電源相連，用于控制電源的開或關；多個電源分開關，分別與每個測試板相連，控制每個測試板供電的通或斷。專利摘要本技術公開了高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其包括多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。本技術能夠實現批量化生產需要，在有限的空間內最大化安裝測試板數量；一臺控制顯示器，能夠實現對所有測試板控制，實現同一程序、同一標準；測試溫度實時查看，測試電壓實時查看；測試板可根據產品的不同更換或者更新，實用性強，能夠保證內存使用的穩定性。文檔編號G11C29/56GK202650549SQ20122018313公開日2013年1月2日 申請日期2012年4月27日 優先權日2012年4月27日專利技術者沈澤斌, 陶宗明, 王一, 劉欣, 蔡燕, 唐奇勝 申請人:海太半導體(無錫)有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種高低溫、高低電壓內存模擬測試系統，其特征在于，包括：多個測試板，其分別連接被測內存，用于測試被測內存；控制顯示器，分別與所述多個測試板相連，用于顯示所述多個測試板的測試結果。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：沈澤斌，陶宗明，王一，劉欣，蔡燕，唐奇勝，
申請(專利權)人：海太半導體無錫有限公司，
類型：實用新型
國別省市：