【技術實現步驟摘要】
本技術涉及平整度探測
，特別是涉及ー種用于平整度探測儀的固定框。
技術介紹
檢測物體接近程度的接近傳感器，可與繼電器或其他執行元件組成接近開關，以實現設備的自動控制盒操作人員的安全保護等，在生產過程和日常生活中都有廣泛應用。在使用薄片型金屬構件加工多聯式產品時，即用薄片型金屬構件為末班反復加工生產后續產品，金屬構件薄片經反復使用后會有凹凸彎曲浪形不平整現象出現，導致影響后續產品的質量，因此需要進行平整度檢測。現有技術中，在探測儀檢測玻璃平臺上擺放待 測品時，是人工擺放，不整齊、擺放量少，且由于待測品擺放不整齊導致探測儀無法尋邊，容易出現錯誤信息。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是提供一種用于平整度探測儀的固定框，能夠提高待測品的擺放速度、操作人員的工作效率，也降低了探測儀的尋邊錯誤率。本技術解決其技術問題所采用的技術方案是提供一種用于平整度探測儀的固定框，包括外框架，所述外框架內設置有至少30個用于擺放待測品的內框架；所述內框架的周邊形狀與所述待測品外周邊相互匹配。所述的內框架整體為圓形。所述的內框架整體為方形。所述的內框架整體為梯形。有益效果由于采用了上述的技術方案，本技術與現有技術相比，具有以下的優點和積極效果本技術的外固定框內設有不少于30個方框或圓框，并且方框和圓框的周邊形狀設計與待測品外周邊相對應，從而提高待測品的擺放速度、操作人員的工作效率，也降低了探測儀的尋邊錯誤率。附圖說明圖I是本技術圓形內框架的結構示意圖；圖2是本技術梯形內框架的結構示意圖；圖3是本技術方形內框架的結構示意圖。具體實施方式下面結合具體實施例，進ー步闡述本技術。...
【技術保護點】
一種用于平整度探測儀的固定框，包括外框架（1），其特征在于，所述外框架（1）內設置有至少30個用于擺放待測品的內框架（2）；所述內框架（2）的周邊形狀與所述待測品外周邊相互匹配。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：朱玉斌，仇治勤，陳小橋，
申請(專利權)人：上海六晶金屬科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
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