一種半導電膠輥的電阻檢測設備制造技術

本實用新型專利技術公開了一種半導電膠輥的電阻檢測設備，包括電源供應裝置、整體測量機構、擇點測量機構、電阻計及控制裝置。電源供應裝置通過一升降機構安裝在機座上并與控制裝置電連接；整體測量機構包括一安裝在機座上的第一驅動電機、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸及一安裝在第一傳動軸的一端的接地端；擇點測量機構包括一安裝在機座上的第二驅動電機、一對安裝在第二驅動電機上的第二傳動軸、一安裝在機座上并與第二傳動軸平行的滑軌及若干安裝在滑軌上的測點探針；電阻計安裝在機座內并通過數據線與控制裝置連接，該電阻計的歐姆輸入端通過電線與電源供應裝置上的電流輸入端連接，電阻計的接地輸入端通過電線與接地端及若干測點探針連接。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種半導電膠輥的電阻檢測設備。
技術介紹
半導電膠輥通常用在復印機、電子傳真裝置等辦公設備中。半導電膠輥屬于半導電元件，且電阻值受環境影響較大，對產品的導電性要求極其嚴格，因為打印的全過程是碳粉通過電場的壓力來實施，所以輕微的電性誤差將導致在打印過程中文字和圖片深淺不一的現象。因此需精密的量測，故要求有一套高精密的量測系統來支持，方能達到產品的設計要求。現在行業中通用的測量方法基本是手動進行的，其劣勢在于手動測試受人為因素 (用力的大小，接觸面積等)影響較大，手動測試無法實現同一被測物目標的多次數值的重現，手動測試時只能達到每次測試出來一個數值，無法做產品的分析。另外一般的電阻測量儀器受溫度和濕度的影響較大，無法精確的測量，導致不能得出精確的數值，從而不能保證廣品的品質。
技術實現思路
本技術的目的是為了克服現有技術的不足，提供一種半導電膠輥的電阻檢測設備，它能提聞檢驗效率，提聞檢測精度，進而保證廣品的品質。實現上述目的的一種技術方案是一種半導電膠棍的電阻檢測設備，包括機座、電源供應裝置、整體測量機構、擇點測量機構、電阻計及控制裝置，其中，所述電源供應裝置通過一升降機構安裝在機座上并與控制裝置電連接；所述整體測量機構包括一安裝在機座上的第一驅動電機、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸及一安裝在第一傳動軸的一端的接地端；所述擇點測量機構包括一安裝在機座上的第二驅動電機、一對安裝在所述第二驅動電機上的第二傳動軸、一安裝在機座上并與所述第二傳動軸平行的滑軌及若干安裝在滑軌上的測點探針；所述電阻計安裝在所述機座內并通過數據線與所述控制裝置連接，該電阻計的歐姆輸入端通過電線與所述電源供應裝置上的電流輸入端連接，電阻計的接地輸入端通過電線與所述接地端及若干所述測點探針連接。上述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其中，所述測點探針通過滑塊安裝在所述滑軌上。上述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其中，所述第一傳動軸和所述第二傳動軸分別通過一對軸承支承。上述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其中，所述控制裝置為帶有可編程序控制器及顯示器的計算機。本技術的半導電膠輥的電阻檢測設備的技術方案，能夠模擬半導電膠輥的工作狀態，實現在同一目標位置進行多次檢測，能夠精確收集被測產品的數據并進行詳細的分析，能夠收集產品從I點到999點的數據從而可以進行產品的工程分析，更好的查找產品的問題，提聞廣品的品質。附圖說明圖I為本技術的半導電膠輥的電阻檢測設備的結構示意圖；圖2為圖I的側視圖。具體實施方式為了能更好地對本技術的技術方案進行理解，下面通過具體地實施例并結合附圖進行詳細地說明 請參閱圖I和圖2，本技術的半導電膠輥的電阻檢測設備，包括機座I、電阻計2、電源供應裝置3、整體測量機構4、擇點測量機構5及控制裝置。其中電源供應裝置3包括一通過一升降機構安裝在機座I上并與控制裝置電連接；整體測量機構4包括一安裝在機座I上的第一驅動電機41、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸42及一安裝在第一傳動軸42的一端的接地端43 ;第一傳動軸42通過一對第一軸承420支承；擇點測量機構5包括一安裝在機座I上的第二驅動電機51、一連接在第二驅動電機51上的第二傳動軸52、一安裝在機座I上并與第二傳動軸平52平行的滑軌53及三個通過滑塊安裝在滑軌53上的測點探針54，這三個測點探針54分別通過電線與電阻計2連接；第二傳動軸52通過一對第二軸承520支承。電阻計2安裝在機座I內，電阻計2帶有數據接口并通過數據線與控制裝置連接，該電阻計2的歐姆輸入端通過電線與電源供應裝置3上的電流輸入端31連接，該電阻計2的接地輸入端通過電線與接地端43及若干測點探針54連接；控制裝置為計算機6，該計算機6包括可編程序控制器及顯示器60。本技術的半導電膠輥的電阻檢測設備的工作原理是測量整體半導電膠輥的電阻值時，將測量件安裝在第一軸承420上，使第一傳動軸42與測量件相切，并使測量件的一端與接地輸入端接觸，計算機6發出指令使第一驅動電機41轉動并通過第一傳動軸42通過摩擦力帶動使測量件轉動，模擬了半導電膠輥的工作狀態；計算機6再發出指令通過升降機構使電源供應裝置3的電流輸入端31與測量件的另一端接觸，電源供應裝置3的電流輸出端32與接地輸入端43接觸，使設定的電流傳通到測量件上，通過電阻計2測量得到測量件的多個電阻值數據，這些數據通過計算機的顯示器60顯示出來并進行平均值的計算，得到整體測量件的電阻值。當要測量半導電膠輥的上任意一點的電阻值時，將測量件安裝在第二軸承520上，使第二傳動軸52與測量件相切，關閉兩個測點探針54，將接通的測點探針54移到測量件的測量點與測量件接觸，計算機6發出指令使第二驅動電機51轉動并通過第二傳動軸52通過摩擦力帶動使測量件轉動，模擬了半導電膠輥的工作狀態；計算機6再發出指令通過升降機構使電源供應裝置3的電流輸入端31與測量件的另一端接觸，電源供應裝置3的電流輸出端32與測點探針54接觸，使設定的電流傳通到測量件上，可以測量半導電膠輥的一點的電阻值。若要同時測量三點測量電阻值，同時接通三個測點探針54即可測量。本
中的普通技術人員應當認識到，以上的實施例僅是用來說明本技術，而并非用作為對本技術的限定，只要在本實 用新型的實質精神范圍內，對以上所述實施例的變化、變型都將落在本技術的權利要求書范圍內。權利要求1.一種半導電膠輥的電阻檢測設備，包括機座、電源供應裝置、整體測量機構、擇點測量機構、電阻計及控制裝置，其特征在于，所述電源供應裝置通過一升降機構安裝在機座上并與控制裝置電連接；所述整體測量機構包括一安裝在機座上的第一驅動電機、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸及一安裝在第一傳動軸的一端的接地端；所述擇點測量機構包括一安裝在機座上的第二驅動電機、一對安裝在所述第二驅動電機上的第二傳動軸、一安裝在機座上并與所述第二傳動軸平行的滑軌及若干安裝在滑軌上的測點探針；所述電阻計安裝在所述機座內并通過數據線與所述控制裝置連接，該電阻計的歐姆輸入端通過電線與所述電源供應裝置上的電流輸入端連接，電阻計的接地輸入端通過電線與所述接地端及若干所述測點探針連接。2.根據權利要求I所述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其特征在于，所述測點探針通過滑塊安裝在所述滑軌上。3.根據權利要求I所述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其特征在于，所述第一傳動軸和所述第二傳動軸分別通過一對軸承支承。4.根據權利要求I所述的半導電膠輥的電阻檢測設備，其特征在于，所述控制裝置為帶有可編程序控制器及顯示器的計算機。專利摘要本技術公開了一種半導電膠輥的電阻檢測設備，包括電源供應裝置、整體測量機構、擇點測量機構、電阻計及控制裝置。電源供應裝置通過一升降機構安裝在機座上并與控制裝置電連接；整體測量機構包括一安裝在機座上的第一驅動電機、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸及一安裝在第一傳動軸的一端的接地端；擇點測量機構包括一安裝在機座上的第二驅動電機、一對安裝在第二驅動電機上的第二傳動軸、一安裝在機座上并與第二傳動軸平行的滑軌及若干安裝在滑軌上的測點探針；電阻計安裝在機座內并通過數據線與控制裝置連接，該電阻計的歐姆輸入端通過電線與電源供應裝置上的電流輸入端本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種半導電膠輥的電阻檢測設備，包括機座、電源供應裝置、整體測量機構、擇點測量機構、電阻計及控制裝置，其特征在于，所述電源供應裝置通過一升降機構安裝在機座上并與控制裝置電連接；所述整體測量機構包括一安裝在機座上的第一驅動電機、一連接在第一驅動電機上的第一傳動軸及一安裝在第一傳動軸的一端的接地端；所述擇點測量機構包括一安裝在機座上的第二驅動電機、一對安裝在所述第二驅動電機上的第二傳動軸、一安裝在機座上并與所述第二傳動軸平行的滑軌及若干安裝在滑軌上的測點探針；所述電阻計安裝在所述機座內并通過數據線與所述控制裝置連接，該電阻計的歐姆輸入端通過電線與所述電源供應裝置上的電流輸入端連接，電阻計的接地輸入端通過電線與所述接地端及若干所述測點探針連接。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：王光明，
申請(專利權)人：上海欣展橡膠有限公司，淮安欣展高分子科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：