隱形眼鏡中的缺陷的檢驗制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)提供用于檢驗透明和印刷隱形眼鏡的一種方法和系統(tǒng)。通過同時使用明場照明和低角度暗場照明照射隱形眼鏡來檢驗隱形眼鏡，照射時隱形眼鏡安置在位于陽模與陰模之間的腔中。此外，成像光學(xué)系統(tǒng)接收從隱形眼鏡透出的光，而相機使用由成像光學(xué)系統(tǒng)接收的光來捕獲隱形眼鏡的圖像。此外，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)配置成：對圖像中的在亮度的動態(tài)范圍的第一部分中的暗缺陷進行識別，并對圖像中的在亮度的動態(tài)范圍的第二部分中的亮缺陷進行識別。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本文中的實施例涉及透明和印刷隱形眼鏡，且尤其涉及(但不排除其它方面)用于對印刷隱形眼鏡進行檢驗的技術(shù)。
技術(shù)介紹
業(yè)界制造出各種類型的隱形眼鏡，這些隱形眼鏡用于矯正視力、美容以及治療等各種用途。這種隱形眼鏡可大致分為印刷隱形眼鏡或透明隱形眼鏡。眾所周知，眼睛是感覺器官，而隱形眼鏡是戴在眼睛上的物品，必需符合嚴(yán)格的技術(shù)規(guī)范來進行制造。為了確保隱形眼鏡符合客戶的嚴(yán)格質(zhì)量要求，隱形眼鏡在其制造的各種階段得到檢驗。 傳統(tǒng)地,使用明場照明(bright-field illumination)來對模制之后的隱形眼鏡進行缺陷的檢驗。圖I示出使用明場照明獲取的透明隱形眼鏡的圖像100。在此圖中，明亮區(qū)域是隱形眼鏡，黑點102是存在于透明隱形眼鏡中的氣泡或其他類型的缺陷。雖然明場照明非常適于對透明隱形眼鏡進行檢驗，但是這種技術(shù)可能并不最適于對印刷隱形眼鏡進行檢驗。印刷隱形眼鏡具有虹膜圖紋(iris print)，當(dāng)使用明場照明來照射這種鏡片時，印刷隱形眼鏡的圖像將包括對應(yīng)于虹膜圖紋的黑色區(qū)域以及對應(yīng)于氣泡或其他類型的缺陷的黑點。由于對應(yīng)于氣泡缺陷的黑點可能隱蔽在對應(yīng)于虹膜圖紋的黑色區(qū)域中，因此這種圖像可能不適于識別缺陷。或者，如果僅用暗場照明來檢驗印刷隱形眼鏡，則印刷隱形眼鏡的圖像將包括對應(yīng)于虹膜圖紋的明亮區(qū)域以及對應(yīng)于氣泡或其他類型的缺陷的亮點。由于對應(yīng)于氣泡或其他相似類型的缺陷的亮點可能隱蔽在對應(yīng)于虹膜圖紋的明亮區(qū)域中，因此這種圖像可能不適于識別缺陷。因此，業(yè)界中需要一種能夠可靠地對印刷隱形眼鏡中的缺陷進行識別的系統(tǒng)。此外，在傳統(tǒng)技術(shù)中，在捕獲用于缺陷檢驗的圖像的過程中，系統(tǒng)要求除去模具總成中的模具(陽模或陰模)中的一個模具，以便為檢驗系統(tǒng)提供入口以照射隱形眼鏡，從而執(zhí)行缺陷檢驗。當(dāng)模具分離時，有可能在分離過程中引入缺陷。此外，當(dāng)在隱形眼鏡中發(fā)現(xiàn)缺陷時，將難以確定缺陷是在模制過程中產(chǎn)生還是在分離過程中產(chǎn)生。因此，在業(yè)界中，需要在過程相關(guān)缺陷產(chǎn)生時了解過程相關(guān)缺陷，從而可采取適當(dāng)措施來解決此問題。
技術(shù)實現(xiàn)思路
鑒于上述情況，本文中的一項實施例提供了一種用于對透明和印刷隱形眼鏡進行檢驗的方法。所述方法包括同時使用明場照明和暗場照明來照射隱形眼鏡，照射時隱形眼鏡安置在位于陽模與陰模之間的腔中。此外，使用從隱形眼鏡透出的以及進入成像光學(xué)系統(tǒng)的光來捕獲隱形眼鏡的圖像。隨后，對所述圖像進行處理以識別隱形眼鏡中缺陷的存在。通過處理對應(yīng)于以下缺陷的圖像來識別缺陷在亮度的動態(tài)范圍的第一部分中的暗缺陷以及在亮度的動態(tài)范圍的第二部分中的亮缺陷。在透明鏡片的情況下，暗缺陷是污染物；在印刷隱形眼鏡的情況下，暗缺陷是污染物和印刷污跡。亮缺陷在透明和印刷隱形眼鏡中均是氣泡和類似缺陷。實施例進一步揭示了一種用于檢驗隱形眼鏡的系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包括照明系統(tǒng)、成像光學(xué)系統(tǒng)、至少一個相機以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。所述照明系統(tǒng)配置成同時使用明場照明和暗場照明來照射隱形眼鏡，照射時隱形眼鏡位于陽模與陰模之間的腔之內(nèi)。此外，所述成像光學(xué)系統(tǒng)配置成接收從隱形眼鏡透出的光。此外，相機配置成使用進入成像光學(xué)系統(tǒng)的光來捕獲隱形眼鏡的圖像。此外，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)配置成處理由相機捕獲的圖像，從而識別隱形眼鏡中的一個或多個缺陷的存在。所述暗缺陷能夠通過處理在亮度的動態(tài)范圍的第一部分中的圖像來進行識別，而所述亮缺陷則能夠通過處理在亮度的動態(tài)范圍的第二部分中的圖像來進行識別。當(dāng)結(jié)合下文的描述以及附圖進行考慮時，將會更好地了解和理解本文中的實 施例的這些以及其他方面。附圖說明通過下文結(jié)合圖式的詳細(xì)描述，將會更好地理解本文中的實施例，在圖式中圖I圖示了使用明場照明捕獲的透明隱形眼鏡的圖像100。圖2根據(jù)一項實施例圖示了模具總成200 ；圖3根據(jù)一項實施例圖示了用于對透明或印刷隱形眼鏡進行檢驗的系統(tǒng)300，所述隱形眼鏡位于模具之內(nèi)；圖4根據(jù)一項實施例圖示了從照明系統(tǒng)至透明或印刷隱形眼鏡的光的路徑；以及圖5根據(jù)一項實施例圖示了印刷隱形眼鏡210的圖像500。具體實施例方式參考在附圖中圖示以及在下文描述中詳述的非限制實施例，本文中的實施例以及其各種特征和有利具體細(xì)節(jié)得到更全面的說明。對眾所周知的組件和處理技術(shù)不再贅述，以免不必要地混淆本文中的實施例。本文中使用的實例僅用于幫助理解本文中的實施例的實踐方式，進而使所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本文中的實施例。因此，這些實例不應(yīng)解釋成限制本文中的實施例的范圍。本文中的實施例揭示用于對透明和印刷隱形眼鏡進行檢驗的方法和系統(tǒng)。現(xiàn)參閱圖式，特別是圖2至圖5，其中各圖中類似參考符號始終指示一致的特征，圖中示出了實施例。應(yīng)注意的是，以隱形眼鏡為實例來描述本專利技術(shù)的實施例。然而，按照本專利說明書，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可進行在權(quán)利要求書的范圍之內(nèi)的修改，從而實現(xiàn)對其他透明物件的檢驗。系統(tǒng)描述圖3根據(jù)一項實施例圖示了用于對透明或印刷隱形眼鏡進行檢驗的系統(tǒng)300。系統(tǒng)300包含照明系統(tǒng)302、成像光學(xué)系統(tǒng)304、相機306和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)(DPS) 308。所述系統(tǒng)能夠?qū)Π仓迷谀＞呖偝?00中的隱形眼鏡210進行檢驗。模具總成圖2根據(jù)一項實施例圖示了模具總成200。模具總成200包括陽模202和陰模204。每個模具中對應(yīng)于位于陽模202與陰模204之間的腔的部分是透明的。陽模202與殼212耦接，陰模204與殼214耦接。此外，陽模202具有彎曲表面206，陰模204具有彎曲表面208，這樣，如圖2中所示，當(dāng)模具總成200位于嚙合位置時，彎曲表面206和208界定了一對應(yīng)于待模制的隱形眼鏡210的形狀的腔。通過在腔中模制隱形眼鏡材料來制造隱形眼鏡210。此外，模具總成200可采用分離位置(未在圖中繪示)，從而能夠取回模制后的隱形眼鏡210。照明系統(tǒng)照明系統(tǒng)302(圖3)配置成照射隱形眼鏡210，所述隱形眼鏡210安置在模具總成200的陽模202與陰模204之間。照明系統(tǒng)302通過同時提供明場照明和暗場照明來照射隱形眼鏡210。在一項實施例中，照明系統(tǒng)302包括兩個部分。所述照明系統(tǒng)的第一部分配置成提供直射光線402(在圖4中圖示)，從而使用明場照明來照射隱形眼鏡。照明系統(tǒng)302的第二部分是環(huán)形光頭(light head)，所述環(huán)形光頭使光線(可稱作有角度光線404 (在圖4中圖示))有角度地指向殼214的內(nèi)部表面。入射至殼214的內(nèi)部表面上的有角度光線404受到殼214的內(nèi)部表面的反射和散射，并以低角度下落在隱形眼鏡210上，從 而提供暗場照明。成像光學(xué)系統(tǒng)成像光學(xué)系統(tǒng)304配置成接收從隱形眼鏡210透出的光，其中通過明場照明和暗場照明得到所述光。相機相機306配置成使用進入所述成像光學(xué)系統(tǒng)的光來捕獲隱形眼鏡210的圖像。相機306可以是數(shù)字相機。數(shù)字處理系統(tǒng)(DPS)DPS 308配置成接收對應(yīng)于隱形眼鏡210的圖像的數(shù)據(jù)，所述圖像是由相機306捕獲。此外，DPS 308對隱形眼鏡的圖像108進行處理，以便識別隱形眼鏡210中的缺陷。系統(tǒng)配置在一項實施例中，如圖3和圖4中所圖不，照明系統(tǒng)302位于模具總成200的第一偵牝從而使照明系統(tǒng)302最接近陰模204 (與陽模202相比)。照明系統(tǒng)302定位成，使來自照明系統(tǒng)302的光指向隱形眼鏡210。當(dāng)照明系統(tǒng)302位于模具本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】1.一種用于檢驗隱形眼鏡的方法，所述方法包含 同時使用明場照明和暗場照明來照射所述隱形眼鏡； 使用從所述隱形眼鏡接收的光來捕獲所述隱形眼鏡的圖像；以及 處理所述圖像，從而識別所述隱形眼鏡中的一個或多個缺陷的存在。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中照射所述隱形眼鏡包含使用直射光為所述隱形眼鏡提供明場照明。3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中照射所述隱形眼鏡包含使用有角度光為所述隱形眼鏡提供低角度暗場照明。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中使用有角度光照射所述隱形眼鏡包含將光有角度地投射到模具的殼的內(nèi)部表面。5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中所述被檢驗的隱形眼鏡安置在位于陽模與陰模之間的腔之內(nèi)。6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中處理所述圖像包含識別在亮度的動態(tài)范圍的第一部分中的暗缺陷，以及識別在所述亮度的動態(tài)范圍的第二部分中的亮缺陷。7.一種用于檢驗隱形眼鏡的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包含 照明系統(tǒng)，其配置成同時使用明場照明和暗場照明來照射所述隱形眼鏡； 成像光學(xué)系統(tǒng)，其用于接收從所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：維克多·費多普拉柯夫，黃循威，任長坡，
申請(專利權(quán))人：聯(lián)達(dá)科技檢測私人有限公司，
類型：
國別省市：