一種冷鏡式精密露點儀制造技術(shù)

一種冷鏡式精密露點儀，其特征在于所述露點探頭包括：制冷單元，包括采用帕爾貼制冷的預(yù)冷模塊和散熱系統(tǒng)；氣體溫度自動補償單元，對采樣氣體溫度進行補償；強制成霜單元，在由濕向干測量時，對于在-40℃和-2℃之間的露點，強制在鏡面形成霜；光電傳感器，包括一個雙光路單元。本發(fā)明專利技術(shù)優(yōu)點在于，解決了冷鏡式露點儀常見的露點霜點區(qū)分的問題，進一步提高了測量結(jié)果的精度和準(zhǔn)確度。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及一種露點儀。
技術(shù)介紹
露點儀的測量精度是企業(yè)關(guān)注的問題。通常來說，冷鏡式露點測量方法比其他方 法具有更高的精確度。但是冷鏡式露點測量方法存在著兩個問題，一是由于感應(yīng)過程中由 于光線反射、散射、折射等情況造成光線不足，降低光敏感性；另一個是由于冷鏡式往往無 法區(qū)分露點和霜點，而使得測量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。由于這兩個問題的存在，使得冷鏡式露 點儀在應(yīng)用上受到一定的限制。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的就是解決上述問題，防止光線的散失，并解決了露點和霜點的區(qū)分 問題。為實現(xiàn)該目的，本專利技術(shù)提供一種冷鏡式精密露點儀，包括露點探頭和顯示模塊，其特 征在于所述露點探頭包括制冷單元，包括采用帕爾貼制冷的預(yù)冷模塊和散熱系統(tǒng)；氣體溫度自動補償單元，對采樣氣體溫度進行補償；強制成霜單元，在由濕向干測量時，對于在-40°C和_2°C之間的露點，強制在鏡面 形成霜；光電傳感器，包括一個雙光路單元。優(yōu)選的，所述露點探頭鏡面帶有顯微鏡。優(yōu)選的，所述露點探頭內(nèi)置流量傳感器。優(yōu)選的，所述雙光路單元包括聚光鏡和分光鏡，所述聚光鏡聚焦入射光、放射光以 及反射光；所述分光鏡對入射光進行溫度補償，恒定入射光強度。優(yōu)選的，所述顯示模塊采用IXD顯示。優(yōu)選的，所述顯示模塊可多單位顯示露點溫度Td，霜點溫度Tf，相對濕度RH和氣 體濃度百萬分率PPM。本專利技術(shù)的優(yōu)點在于，利用強制成霜技術(shù)解決了冷鏡式露點儀無法區(qū)分露點和霜點 的問題，同時利用雙光路系統(tǒng)，防止光線的散失，從而解決了冷鏡式露點儀使用中的主要問 題，進一步提升了其測量精確度。附圖說明圖1展示了本專利技術(shù)的流程圖。具體實施例方式實施例一請參見圖1，圖1是本專利技術(shù)的流程。本專利技術(shù)制冷單元中的預(yù)冷模塊采用帕爾貼制冷3方法，配合其散熱系統(tǒng)，有效制冷。所采集的樣氣到達鏡面時候，露點探頭中所具有的氣體 溫度自動補償單元對其進行自動補償，隨后測溫。在由濕向干測量時，對于在-40°C和-2°C 之間的露點，強制在鏡面形成霜，從而實現(xiàn)冷鏡式測量儀器對于露點和霜點的區(qū)別，避免誤 差的產(chǎn)生。隨后利用光電檢測器實現(xiàn)對于樣氣露點的檢測，光電檢測器包括雙光路單元，由 聚光鏡和分光鏡為主要構(gòu)成部件，聚光鏡可以聚焦入射光、放射光以及反射光，保證高靈敏 度感應(yīng)器的光接受量，顯著提高測量的敏感度，分光鏡對入射光進行溫度補償，即使環(huán)境溫 度不同，也能保證入射光強度恒定，進而保證測量的精度。隨后將測量得到的相關(guān)數(shù)據(jù)傳輸 至顯示單元進行顯示。本專利技術(shù)利用具有雙光路單元的光電檢測器和強制成霜單元，解決了冷鏡式露點儀 最常遇到的兩個問題，進一步提高了露點儀檢測結(jié)果的精確度。本專利技術(shù)提供的一種精密度較高的冷鏡式露點儀，以上實施例僅用以說明，而非限 制本專利技術(shù)的技術(shù)方案。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解對本專利技術(shù)進行修改或者等同替換， 而不脫離本專利技術(shù)的精神和范圍的任何修改或局部替換，均應(yīng)涵蓋在本專利技術(shù)的權(quán)利要求范圍 當(dāng)中。權(quán)利要求1.一種冷鏡式精密露點儀，包括露點探頭和顯示模塊，其特征在于所述露點探頭包括 制冷單元，包括采用帕爾貼制冷的預(yù)冷模塊和散熱系統(tǒng)；氣體溫度自動補償單元，對采樣氣體溫度進行補償；強制成霜單元，在由濕向干測量時，對于在-40°C和-2°C之間的露點，強制在鏡面形成 霜；光電傳感器，包括一個雙光路單元。2.如權(quán)利要求1所述冷鏡式精密露點儀，其特征在于，露點探頭鏡面帶有顯微鏡。3.如權(quán)利要求1所述冷鏡式精密露點儀，其特征在于，露點探頭內(nèi)置流量傳感器。4.如權(quán)利要求1所述冷鏡式精密露點儀，其特征在于，所述雙光路單元包括聚光鏡和 分光鏡，所述聚光鏡聚焦入射光、放射光以及反射光；所述分光鏡對入射光進行溫度補償， 恒定入射光強度。5.如權(quán)利要求1所述冷鏡式精密露點儀，其特征在于，所述顯示模塊采用LCD顯示。6.如權(quán)利要求1所述冷鏡式精密露點儀，其特征在于，所述顯示模塊可多單位顯示露 點溫度Td，霜點溫度Tf，相對濕度RH和氣體濃度百萬分率PPM。全文摘要一種冷鏡式精密露點儀，其特征在于所述露點探頭包括制冷單元，包括采用帕爾貼制冷的預(yù)冷模塊和散熱系統(tǒng)；氣體溫度自動補償單元，對采樣氣體溫度進行補償；強制成霜單元，在由濕向干測量時，對于在-40℃和-2℃之間的露點，強制在鏡面形成霜；光電傳感器，包括一個雙光路單元。本專利技術(shù)優(yōu)點在于，解決了冷鏡式露點儀常見的露點霜點區(qū)分的問題，進一步提高了測量結(jié)果的精度和準(zhǔn)確度。文檔編號G01N21/17GK102087205SQ20091019998公開日2011年6月8日 申請日期2009年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月4日專利技術(shù)者吳偉, 王志蘭 申請人:上海莫克電子技術(shù)有限公司本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種冷鏡式精密露點儀，包括露點探頭和顯示模塊，其特征在于所述露點探頭包括：制冷單元，包括采用帕爾貼制冷的預(yù)冷模塊和散熱系統(tǒng)；氣體溫度自動補償單元，對采樣氣體溫度進行補償；強制成霜單元，在由濕向干測量時，對于在－４０℃和－２℃之間的露點，強制在鏡面形成霜；光電傳感器，包括一個雙光路單元。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王志蘭，吳偉，
申請(專利權(quán))人：上海莫克電子技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：31