一種眼鏡架掃描機制造技術

本實用新型專利技術公開了一種眼鏡架掃描機，包括第一一維移動平臺、轉動平臺、第二一維移動平臺和長度測量機構。長度測量機構包括：容柵傳感器和長度測量模塊；容柵傳感器的定柵固定在第二一維移動平臺的底座上，動柵設置在第二一維移動平臺上，用于感應第二一維移動平臺的移動距離；長度測量模塊用于根據接收到的容柵傳感器的數據，得到鏡架或鏡架托片的幾何中心至鏡架或鏡架托片邊緣的距離；第二一維移動平臺與第二一維移動平臺底座之間在移動方向上通過彈性部件相連。采用本實用新型專利技術公開的眼鏡架掃描機，可以提高眼鏡架掃描機的掃描精度。（*該技術在2020年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及掃描
，更具體的說，涉及一種眼鏡架掃描機。
技術介紹
消費者在選配眼鏡(例如近視鏡)時，通常都需要分別挑選眼鏡架與眼鏡片。消費 者挑選的眼鏡片需要打磨成與眼鏡架相匹配的形狀，才能安裝在眼鏡架上，以供佩戴使用。現有技術中，用于打磨眼鏡片的設備叫做眼鏡片磨邊機。眼鏡片磨邊機主要由眼 鏡架掃描機和眼鏡片磨邊機組成。其工作原理是眼鏡架掃描機對鏡架或鏡架托片(鏡架 托片是針對半框或無框眼鏡架所使用的，用于代替鏡架，具有鏡片加工后應有的邊緣形狀 的材料)進行掃描，得出以鏡架或鏡架托片幾何中心為基準的二維曲線數據，并通過數據 線傳送到眼鏡片磨邊機；眼鏡片磨邊機根據眼鏡架掃描機傳送的數據工作(對鏡片磨邊)。其中，眼鏡架掃描機主要包括第一一維移動平臺，轉動平臺，第二一維移動平臺， 長度測量機構。第一一維移動平臺上設置有轉動平臺，轉動平臺上設置有第二一維移動平 臺，第二一維移動平臺上設置有長度測量機構。眼鏡架掃描機對鏡架或鏡架托片進行掃描 的過程大致如下移動第一一維移動平臺，帶動轉動平臺移動至眼鏡架左或右的鏡框或鏡 架托片的水平幾何中心；旋轉轉動平臺，帶動第二一維移動平臺至初始角度；移動第二一 維移動平臺，帶動長度測量機構測量該角度方向上，該幾何中心到鏡架或鏡架托片邊緣的 距離；再次旋轉轉動平臺，帶動第二一維移動平臺轉動一定角度，測量該角度方向上，該幾 何中心到鏡架或鏡架托片邊緣的距離。重復上述步驟，直至完成360°方向上對該幾何中心 到鏡架或鏡架托片邊緣的距離的測量。現有技術中，長度測量機構采用的是軸角光電編碼器。如圖1(現有技術中的長度 測量機構結構圖)所示，所述長度測量機構設置在第二一維移動平臺上，第二一維移動平 臺的移動由齒條101帶動齒輪102轉動，把直線運動變成圓周運動，帶動軸角光電編碼器 103計數，從而測量鏡架或鏡架托片幾何中心到鏡架或鏡架托片邊緣的距離。但是，由于每 次旋轉測量角度后，幾何中心到鏡架或鏡架托片邊緣的距離可能增大也可能減小，所以齒 條101的運動方式可能是來回往復的。當齒條101帶動齒輪102改變運動方向時，齒條101 和齒輪102之間的間隙會影響軸角光電編碼器103的精度。因此，現有技術中對鏡架的掃 描，由于采用齒條帶動齒輪將直線運動轉化為圓周運動結合軸角光電編碼器測量位移的方 式，導致現有技術中鏡架掃描機的精度低。
技術實現思路
有鑒于此，本技術提供一種眼鏡架掃描機，以解決現有技術中由于采用齒條 帶動齒輪將直線運動轉化為圓周運動結合軸角光電編碼器測量位移的方式，齒條和齒輪之 間的間隙會影響軸角光電編碼器的精度，導致現有技術中鏡架掃描精度低的問題。為實現上述目的，本技術提供如下技術方案一種眼鏡架掃描機，包括第一一維移動平臺、設置在所述第一一維移動平臺上的轉動平臺、設置在所述轉動平臺上的第二一維移動平臺和設置在所述第二一維移動平臺上 的長度測量機構，所述長度測量機構包括步進電機、探針及步進電機控制器，其中，所述探針設置在所述第二一維移動平臺上；所述步進電機控制器控制步進電機工作從而帶動第二一維移動平臺移動，并在所 述探針從鏡架或鏡架托片的幾何中心移動至鏡架或鏡架托片邊緣時控制步進電機停止； 所述長度測量機構還包括容柵傳感器和長度測量模塊；所述容柵傳感器的定柵固定在所述第二一維移動平臺的底座上，動柵設置在所述 第二一維移動平臺上，用于感應所述第二一維移動平臺的移動距離；所述長度測量模塊用于根據接收到的所述容柵傳感器的數據，得到鏡架或鏡架托 片的幾何中心至鏡架或鏡架托片邊緣的距離；所述第二一維移動平臺與第二一維移動平臺底座之間在移動方向上通過彈性部 件相連。優選的，所述彈性部件包括彈簧。優選的，所述探針的側部設置有平衡重錘；所述平衡重錘的重量不大于所述探針的重量。優選的，所述第一一維移動平臺上設置有限位開關，用于確保所述第一一維移動 平臺每次從同一初始位置開始移動。優選的，所述轉動平臺上設置有限位開關，用于確保所述轉動平臺每次從同一初 始位置開始轉動。優選的，所述第二一維移動平臺上設置有限位開關，用于確保所述第二一維移動 平臺每次從同一初始位置開始移動。優選的，所述長度測量模塊為ARM單片機。經由上述的技術方案可知，與現有技術相比，本技術提供了一種眼鏡架掃描 機，采用容柵傳感器結合彈性部件對鏡架或鏡架托片的幾何中心到鏡架或鏡架托片的邊緣 的距離進行測量，取代了齒條帶動齒輪將直線運動轉化為圓周運動、結合軸角光電編碼器 測量位移的方式。由于容柵傳感器可以直接感應直線方向上的位移導致的電容量變化，所 以本技術實施例提高了眼鏡架掃描機的掃描精度。附圖說明為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例 或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅 是本技術的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還 可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。圖1為現有技術中長度測量機構結構圖；圖2為本技術實施例所述眼鏡架掃描機結構圖；圖3為本技術實施例所述長度測量機構結構圖。具體實施方式下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的 實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下 所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。參見圖2，為本技術實施例所述眼鏡架掃描機結構圖。如圖2所示，所述眼鏡 架掃描機包括第一一維移動平臺10、設置在所述第一一維移動平臺上的轉動平臺20、設置在所 述轉動平臺上的第二一維移動平臺30和設置在所述第二一維移動平臺上的長度測量機構 40。其中，第一一維移動平臺10位于眼鏡架掃描機的下部，第一一維移動平臺10的移 動可以帶動，直接或間接設置在第一一維移動平臺10上的轉動平臺20、第二一維移動平臺 30和長度測量機構40移動。通常，眼鏡架掃描機的上部用來放置鏡架或鏡架托片。鏡架或 鏡架托片平放在眼鏡架掃描機上，第一一維移動平臺10可以在水平方向上左右移動，以帶 動設置在第一一維移動平臺10上的裝置，移動到左或右的鏡架或鏡架托片所在的位置。轉動平臺20可以水平旋轉。當第一一維移動平臺10帶動設置在其上的裝置，移 動到鏡架或鏡架托片所在的位置后，轉動平臺20旋轉，帶動第二一維移動平臺30旋轉，以 測量360°各個方向上，鏡架或鏡架托片的幾何中心到鏡架或鏡架托片的邊緣的距離。轉動平臺20每次旋轉到指定位置后，第二一維移動平臺30可以在水平方向上前 后移動。第二一維移動平臺30的移動，將帶動設置在其上的長度測量機構40進行測量。參見圖3，為本技術實施例所述設置在第二一維移動平臺上的長度測量機構 結構圖。如圖3所示，所述長度測量機構40包括步進電機401、探針402及步進電機控制 器(圖中未示出)，其中，所述探針402設置在所述第二一維移動平臺30上；所述步進電機控制器控制步進電機401工作從而帶動第二一維移動平臺30移動， 并在所述探針402從鏡架或鏡架托片的幾何中心移動至鏡架或鏡架托片邊緣時控制步進 電機401停止。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
１．一種眼鏡架掃描機，包括第一一維移動平臺、設置在所述第一一維移動平臺上的轉動平臺、設置在所述轉動平臺上的第二一維移動平臺和設置在所述第二一維移動平臺上的長度測量機構，所述長度測量機構包括步進電機、探針及步進電機控制器，其中，所述探針設置在所述第二一維移動平臺上；所述步進電機控制器控制步進電機工作從而帶動第二一維移動平臺移動，并在所述探針從鏡架或鏡架托片的幾何中心移動至鏡架或鏡架托片邊緣時控制步進電機停止；其特征在于：所述長度測量機構還包括容柵傳感器和長度測量模塊；所述容柵傳感器的定柵固定在所述第二一維移動平臺的底座上，動柵設置在所述第二一維移動平臺上，用于感應所述第二一維移動平臺的移動距離；所述長度測量模塊用于根據接收到的所述容柵傳感器的數據，得到鏡架或鏡架托片的幾何中心至鏡架或鏡架托片邊緣的距離；所述第二一維移動平臺與第二一維移動平臺底座之間在移動方向上通過彈性部件相連。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：姜冠祥，鄭照平，張建偉，童滿良，劉德國，胡赤兵，陳允強，
申請(專利權)人：上海雄博精密儀器股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：31