【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及用于對渾濁介質內部進行成像的裝置的控制方法、用于對渾濁介質內 部進行成像的裝置以及計算機程序產品。
技術介紹
在本申請的技術方案下,術語渾濁介質應被理解為表示這樣的物質,該物質包括 具有高光散射系數的材料,諸如英脫利匹特(intralipid)溶液或生物組織。另外,光應被 理解為表示波長在400nm至1400nm范圍內的電磁輻射。術語“光學性質”涵蓋減小的散射 系數s和吸收系數Pa。而且“匹配的光學性質”應被理解為具有類似的減小的散射系 數s和類似的吸收系數Pa。近年來,開發了用于檢查渾濁介質(例如,女性乳房組織)的若干方法和裝置。特 別地,開發了用于檢測和分析乳腺癌的新裝置且改進了現有技術。乳腺癌是最常發的癌癥 類型之一在2002年,例如,在世界上超過110萬婦女被診斷患有乳腺癌且超過41萬婦女 死于乳腺癌。開發了通過使用光對渾濁介質內部進行成像的若干類型的裝置。這些裝置的 實例是乳房X線照相裝置和用于檢查人體或動物體的其它部分的裝置。用于對渾濁介質內 部進行成像的方法的突出實例是擴散光層析成像(DOT)。特別地,這種裝置試圖用于在體內 定位女性身體乳房一部分的乳腺組織的不均勻性。惡性腫瘤是這種不均勻性的一種實例。 這些裝置試圖在不均勻性仍較小時檢測這些不均勻性使得例如可在早期檢測到癌。這些裝 置的特定優點在于,患者無須暴露于利用電離輻射(例如,X射線)進行檢查的風險。W0 00/56206 A1公開了一種對渾濁介質內部進行成像的裝置,其使用光源來輻照 渾濁介質且使用光檢測器來測量通過渾濁介質傳輸的光的一部分。提供控制單元來基于測 量強度 ...
【技術保護點】
一種用于對渾濁介質內部進行成像的裝置的控制方法,所述裝置包括:接納部分(2),其用于接納待檢查的渾濁介質(1);至少一個光源(6),其光學地連接到所述接納部分(2)以輻照所述接納部分(2)的內部;以及至少一個檢測器(7),其光學地連接到所述接納部分(2)以檢測從所述接納部分(2)內部發出的光;所述至少一個光源(6)和所述至少一個檢測器(7)光學地連接到所述接納部分(2)使得在整個測量過程中形成多個不同的源-檢測器位置組合,該多個源-檢測器位置組合限定了穿過該接納部分(2)的不同光路徑;其中所述方法包括快速測量步驟,在快速測量步驟中生成對應于多個源-檢測器位置組合的僅一部分的減小的數據集合以提供關于所述接納部分(2)內部的快速信息。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】EP 2007-11-5 07119956.6;EP 2008-6-4 08157553.2一種用于對渾濁介質內部進行成像的裝置的控制方法,所述裝置包括接納部分(2),其用于接納待檢查的渾濁介質(1);至少一個光源(6),其光學地連接到所述接納部分(2)以輻照所述接納部分(2)的內部;以及至少一個檢測器(7),其光學地連接到所述接納部分(2)以檢測從所述接納部分(2)內部發出的光;所述至少一個光源(6)和所述至少一個檢測器(7)光學地連接到所述接納部分(2)使得在整個測量過程中形成多個不同的源-檢測器位置組合,該多個源-檢測器位置組合限定了穿過該接納部分(2)的不同光路徑;其中所述方法包括快速測量步驟,在快速測量步驟中生成對應于多個源-檢測器位置組合的僅一部分的減小的數據集合以提供關于所述接納部分(2)內部的快速信息。2.根據權利要求1所述的方法,其中,在所述快速測量步驟中,比較由所述至少一個檢 測器(7)所檢測的光的強度與預期強度,且基于這個比較來確定在所述接納部分(2)中是 否存在不希望的不均勻性(10,11)。3.根據權利要求2所述的方法,其中向所述用于對渾濁介質內部進行成像的裝置的操 作者提供所檢測的強度與所述預期強度之間比較的圖形表示。4.根據權利要求3所述的方法,其中提供所述圖形表示使得其表示不希望的不均勻性 存在于所述接納部分中的哪個位置。5.根據權利要求1所述的方法,其中執行所述快速測量步驟以確定位于所述渾濁介質 (1)中的造影劑的動態性質或者確定在所述接納部分(2)中是否存在不希望的不均勻性。6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法,其中在不同時間執行產生減小的數據集 合的多個快速測量步驟。7.一種用于對渾濁介質內部進行成像的裝置,所述裝置包括接納部分(2),其用于接納待檢查的渾濁介質(1);至少一個光源(6),其光學地連接到所述接納部分(2)以輻照所述接納部分(2)的內 部;以及至少一個檢測器(7),其光學地連接到所述接納部分(2)以檢測從所述接納部分(2)內 部發出的光;所述至少一個光源(6)與所述至少一個檢測器(7)光學地連接到所述接納部分(2)使 得在整個測量過程中形成多個不同的源_檢測器位置組合,這些不同的源_檢測器位置組 合限定了通過所述接納部分(2)的不同光路徑;其中所述裝置還包括控制單元(8),所述控制單元(8)適于控制所述裝置以使得在快速測量步驟中生成對應于多個源_檢測器位置組合的僅一部分的減小的數據集 合,以提供關于所述接納部分⑵內部的快速信息。8.根據權利要求7所述的裝置,其中所述接納部分(2)包括...
【專利技術屬性】
技術研發人員:LP巴克,BJ布倫德爾,R哈伯斯,MB范德馬克,
申請(專利權)人:皇家飛利浦電子股份有限公司,
類型:發明
國別省市:NL[荷蘭]
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