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    一種低介電常數(shù)PI/3D COFS復(fù)合薄膜的制備方法技術(shù)

    技術(shù)編號(hào):44587079 閱讀:22 留言:0更新日期:2025-03-14 12:47
    本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N低介電常數(shù)PI/3D?COF<subgt;S</subgt;復(fù)合薄膜的制備方法,該低介電常數(shù)PI/3DCOF<subgt;S</subgt;復(fù)合薄膜的制備方法包括:將二胺單體與二酐單體合成PI基體樹脂;制備3D?COFs納米材料;該3D?COFs納米材料為材料內(nèi)部具有互穿孔通道的多孔晶體聚合物材料;將PI基體樹脂與3D?COFs納米材料合成制備PI/3D?COF<subgt;S</subgt;復(fù)合薄膜。本發(fā)明專利技術(shù)通過共混方法將含有孔洞結(jié)構(gòu)的3D?COFs納米材料作為有機(jī)填料引入到PI基體樹脂中,利用3D?COFs的互穿的微孔結(jié)構(gòu)將空氣引入到PI膜中,最終形成了含有微孔結(jié)構(gòu)的具有低介電常數(shù)的PI復(fù)合薄膜。得到的薄膜具有較低介電常數(shù)和介電損耗,可用于微電子領(lǐng)域。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本申請(qǐng)涉及薄膜,尤其涉及一種低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法。


    技術(shù)介紹

    1、近年來,隨著微電子工業(yè)、5g通信等的高速發(fā)展,對(duì)電子產(chǎn)品具備高集成、耐高頻、高速和高功率特性的要求越來越高,特別是集成電路器件的集成度的不斷提高和元件尺寸的不斷縮小、布線密度逐漸增加,導(dǎo)致線路中電容、電阻不斷增強(qiáng),電路元件或?qū)Ь€之間的非期望的相互影響明顯增加,進(jìn)而導(dǎo)致信號(hào)傳輸滯后、串?dāng)_和功耗增加;研究表明,介質(zhì)材料的介電常數(shù)(ε)與介質(zhì)損耗(tanδ)對(duì)信號(hào)的傳輸速度和傳輸損耗起主要控制作用,為此,制備高頻工況下具有低介電常數(shù)、低介電損耗性能的介電材料、以滿足高頻高速信號(hào)傳輸網(wǎng)絡(luò)領(lǐng)域?qū)K端電子器件的介電性能要求,已成為該領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。

    2、隨著高頻通信時(shí)代的到來,集成電路器件集成度不斷提高,元器件尺寸不斷減小,伴隨著的是電容和電阻的增大,這會(huì)增大集成電路的rc延遲和信號(hào)串?dāng)_。已知層間介質(zhì)材料的介電常數(shù)降低能夠減小集成電路的rc延遲和信號(hào)串?dāng)_等情況,因此有必要研發(fā)出介電常數(shù)<3的層間介質(zhì)材料。聚酰亞胺(pi)是一種具有優(yōu)異熱力學(xué)性能的特種工程塑料,常被用來作為柔性覆銅板的層間介質(zhì)材料。聚酰亞胺(pi)薄膜是一種很有用的材料,因?yàn)樗哂械徒殡姵?shù)、良好的耐高溫性、優(yōu)異的機(jī)械強(qiáng)度和化學(xué)穩(wěn)定性。但傳統(tǒng)的pi薄膜的介電常數(shù)較高不能滿足現(xiàn)代電子信息產(chǎn)品的高速發(fā)展,因此需要降低其介電常數(shù)和介電損耗來減少電路板線間和層間寄生電容引起的rc延遲、串?dāng)_、功耗。

    3、根據(jù)現(xiàn)有文獻(xiàn)和技術(shù),目前主要有以下方法可以降低pi膜的介電常數(shù):引入含氟基團(tuán),由于-c-f鍵具有優(yōu)異的極化特性和大空間位阻,可使pi分子鏈間的自由體積增大從而減小介電常數(shù),但含氟基團(tuán)的引入對(duì)pi膜力學(xué)性能有很大影響。引入大體積的側(cè)基,如脂環(huán)結(jié)構(gòu)可以增大pi分子鏈間的自由體積增大從而減小介電常數(shù),但這會(huì)增大pi膜的熱膨脹系數(shù)。所以,目前沒有較好的方案來解決在制備聚酰亞胺薄膜過程中,聚酰亞胺薄膜的介電常數(shù)過高的問題。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中制備聚酰亞胺薄膜的介電常數(shù)過高的問題。

    2、第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,所述方法包括:

    3、將二胺單體與二酐單體合成pi基體樹脂;所述二胺單體為芳香二胺,所述二酐單體為芳香族二酐;

    4、制備3d?cofs納米材料;所述3d?cofs納米材料為材料內(nèi)部具有互穿孔通道的多孔晶體聚合物材料;

    5、將所述pi基體樹脂與所述3d?cofs納米材料合成制備pi/3d?cofs復(fù)合薄膜。

    6、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述3d?cofs納米材料是由共價(jià)鍵連接形成的具有互穿孔通道的多孔有機(jī)聚合物晶體材料,所述3d?cofs納米材料連接方式為亞胺鍵連接或酰亞胺鍵連接。

    7、3d?cofs納米材料具有密度低、比表面積高、孔隙率高、有序及易于修飾的孔結(jié)構(gòu)、良好的熱/化學(xué)穩(wěn)定等特點(diǎn),是一種應(yīng)用前景十分廣闊的功能材料。

    8、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述3d?cofs納米材料與所述pi基體樹脂的負(fù)載量為1:1~4wt%。

    9、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述二胺單體為4,4’-二氨基二苯醚、3,4’-二氨基二苯醚、對(duì)苯二胺、間苯二胺、4,4’-二氨基二苯甲烷、二氨基二苯甲酮、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯砜、1,3’-雙(3-氨基苯氧基)苯、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯甲酮、二氨基二苯基砜、4,4’-二氨基-二苯氧基-4’,4-二苯基異丙烷中的一種或任意兩種的混合物;

    10、所述二酐單體為均苯四甲酸二酐、3,3’,4,4’-聯(lián)苯四甲酸二酐、二苯酮甲酸二酐、雙酚a二酐、異構(gòu)二苯硫醚二酐中的一種或兩種混合物。

    11、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述pi基體樹脂為由芳香族二酐和芳香二胺縮聚得到的均苯型pi樹脂,或,芳香族二酐與芳香二胺縮聚得到的雙酚a型聚酰亞胺。

    12、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述3d?cofs納米材料的粒徑為4~100nm。

    13、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,將二胺單體與二酐單體合成pi基體樹脂包括:

    14、氮?dú)獗Wo(hù)和冰浴條件下將所述二胺單體溶于有機(jī)溶劑;

    15、向所述溶于二胺單體的有機(jī)溶劑中分批次加入二酐單體得到反應(yīng)液。

    16、在部分可能的實(shí)現(xiàn)方式中,將所述pi基體樹脂與所述3d?cofs納米材料合成制備pi/3d?cofs復(fù)合薄膜包括:

    17、將所述反應(yīng)液中加入3d?cofs納米材料,以及在氮?dú)獗Wo(hù)和冰浴條件下攪拌后得到聚酰胺酸混合液;

    18、將制備的所述聚酰胺酸混合液涂在基板上,真空干燥2h后,進(jìn)行階梯升溫干燥,即制得低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜。

    19、第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜,所述復(fù)合薄膜為第一方面所述的制備方法制備得到,

    20、所述pi/3d?cofs復(fù)合薄膜由于引入了多孔晶體材料3d?cofs而具有微孔結(jié)構(gòu),介電常數(shù)在2.6-3.0之間。

    21、由以上內(nèi)容可知,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,該低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法包括:將二胺單體與二酐單體合成pi基體樹脂;所述二胺單體為芳香二胺,所述二酐單體為芳香族二酐;制備3d?cofs納米材料;所述3dcofs納米材料為材料內(nèi)部具有互穿孔通道的多孔晶體聚合物材料;將所述pi基體樹脂與所述3d?cofs納米材料合成制備pi/3d?cofs復(fù)合薄膜。本專利技術(shù)通過簡(jiǎn)單的共混方法將含有孔洞結(jié)構(gòu)的3d?cofs納米材料作為有機(jī)填料引入到pi基體樹脂中,利用3d?cofs的互穿的微孔結(jié)構(gòu)將空氣引入到pi膜中,最終形成了含有微孔結(jié)構(gòu)的具有低介電常數(shù)的pi復(fù)合薄膜。得到的薄膜具有較低介電常數(shù)和介電損耗,可用于微電子領(lǐng)域。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述3D?COFs納米材料是由共價(jià)鍵連接形成的具有互穿孔通道的多孔有機(jī)聚合物晶體材料,所述3D?COFs納米材料連接方式為亞胺鍵連接或酰亞胺鍵連接。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述3D?COFs納米材料與所述PI基體樹脂的負(fù)載量為1:1~4wt%。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述二胺單體為4,4’-二氨基二苯醚、3,4’-二氨基二苯醚、對(duì)苯二胺、間苯二胺、4,4’-二氨基二苯甲烷、二氨基二苯甲酮、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯砜、1,3’-雙(3-氨基苯氧基)苯、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯甲酮、二氨基二苯基砜、4,4’-二氨基-二苯氧基-4’,4-二苯基異丙烷中的一種或任意兩種的混合物;

    5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述PI基體樹脂為由芳香族二酐和芳香二胺縮聚得到的均苯型PI樹脂,或,芳香族二酐與芳香二胺縮聚得到的雙酚A型聚酰亞胺。

    6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述3D?COFs納米材料的粒徑為4~1000nm。

    7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,將二胺單體與二酐單體合成PI基體樹脂包括:

    8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,將所述PI基體樹脂與所述3D?COFs納米材料合成制備PI/3D?COFS復(fù)合薄膜包括:

    9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述方法制備的PI/3D?COFS復(fù)合薄膜由于引入了多孔晶體材料3D?COFS而具有微孔結(jié)構(gòu),PI/3D?COFS復(fù)合薄膜的介電常數(shù)在2.6-3.0之間。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述3d?cofs納米材料是由共價(jià)鍵連接形成的具有互穿孔通道的多孔有機(jī)聚合物晶體材料,所述3d?cofs納米材料連接方式為亞胺鍵連接或酰亞胺鍵連接。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述3d?cofs納米材料與所述pi基體樹脂的負(fù)載量為1:1~4wt%。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低介電常數(shù)pi/3d?cofs復(fù)合薄膜的制備方法,其特征在于,所述二胺單體為4,4’-二氨基二苯醚、3,4’-二氨基二苯醚、對(duì)苯二胺、間苯二胺、4,4’-二氨基二苯甲烷、二氨基二苯甲酮、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯砜、1,3’-雙(3-氨基苯氧基)苯、4,4’-二(4-氨基苯氧基)二苯甲酮、二氨基二苯基砜、4,4’-二氨基-二苯氧基-4’,4-二苯基異丙烷中的一種或任意兩種的混合物;

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    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:李曉丹冉婭吳毅王磊孟詩云
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:重慶工商大學(xué)
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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