【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本公開涉及機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源、電源裝置以及機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源所包含的電容器的劣化診斷方法。
技術(shù)介紹
1、在日本特開2013－50351號公報(專利文獻(xiàn)1)中，公開了在瞬低補(bǔ)償裝置等電源裝置中使用的雙電荷層電容器的劣化診斷裝置。
2、專利文獻(xiàn)1所公開的劣化診斷裝置具備：放電電路，將正弦波負(fù)載電路與已充電的雙電荷層電容器連接，賦予正弦波負(fù)載而使雙電荷層電容器放電；電流檢測電路，檢測流過放電電路的電流；電壓檢測電路，測定經(jīng)由放電電路放電中的雙電荷層電容器的電壓；以及運算部，使用電流檢測電路的檢測電流與電壓檢測電路的檢測電壓，計算雙電荷層電容器的阻抗。
3、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
4、專利文獻(xiàn)
5、專利文獻(xiàn)1：日本特開2013－50351號公報
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、專利技術(shù)要解決的課題
2、在上述劣化診斷裝置中，需要將具有正弦波負(fù)載電路的放電電路與雙電荷層電容器連接。另外，需要設(shè)置用于檢測流過放電電路的電流及放電中的雙電荷層電容器的電壓的傳感器以及對這些傳感器的檢測值進(jìn)行運算處理的運算器。因此，存在因?qū)⒘踊\斷裝置安裝于電源裝置而使電源裝置大型化的隱患。另外，存在因電源裝置大型化而成本也增加的隱患。
3、本公開是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提供一種能夠以小型化的結(jié)構(gòu)來診斷電容器的劣化狀態(tài)的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源、電源裝置以及劣化診斷方法。
4、用來解決課題的手段
5、本公開的一方式的驅(qū)動電源向機(jī)械開關(guān)供給
6、本公開的一方式的劣化診斷方法是向機(jī)械開關(guān)供給驅(qū)動電流的驅(qū)動電源所包含的電容器的劣化診斷方法。機(jī)械開關(guān)包括機(jī)械觸點以及接受驅(qū)動電流的供給而使機(jī)械觸點開閉的線圈。驅(qū)動電源包括電容器和連接在電容器與線圈之間的開關(guān)，構(gòu)成為為了使機(jī)械開關(guān)接通或斷開而暫時接通開關(guān)，由此從電容器向所述線圈供給所述驅(qū)動電流。劣化診斷方法具備：在開關(guān)的斷開期間對電容器進(jìn)行充電的步驟；檢測電容器的充電電流及電壓的步驟；以及根據(jù)充電電流及電壓來診斷電容器的劣化狀態(tài)的步驟。
7、專利技術(shù)效果
8、根據(jù)本公開，能夠利用安裝于機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源的電容器的充電電路，根據(jù)電容器的充電電流及電壓來診斷電容器的劣化狀態(tài)。因此，不需要安裝專用的劣化診斷裝置，能夠以小型化的結(jié)構(gòu)來診斷電容器的劣化狀態(tài)。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點】
1.一種機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，向機(jī)械開關(guān)供給驅(qū)動電流，其中，
2.如權(quán)利要求1所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
3.如權(quán)利要求1或2所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
4.如權(quán)利要求1所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
5.一種電源裝置，具備：
6.一種劣化診斷方法，是對機(jī)械開關(guān)供給驅(qū)動電流的驅(qū)動電源所包含的電容器的劣化診斷方法，其中，
7.如權(quán)利要求6所述的劣化診斷方法，其中，
8.如權(quán)利要求6或7所述的劣化診斷方法，其中，
9.如權(quán)利要求6所述的劣化診斷方法，其中，
【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
1.一種機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，向機(jī)械開關(guān)供給驅(qū)動電流，其中，
2.如權(quán)利要求1所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
3.如權(quán)利要求1或2所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
4.如權(quán)利要求1所述的機(jī)械開關(guān)的驅(qū)動電源，其中，
5.一種電源裝置，具...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：高見達(dá)也，大西啟祐，張曉琛，
申請(專利權(quán))人：株式會社TMEIC，
類型：發(fā)明
國別省市：
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