【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電路系統(tǒng)領(lǐng)域，具體涉及一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置及方法。
技術(shù)介紹
1、在電力系統(tǒng)中，繼電保護(hù)裝置往往充當(dāng)系統(tǒng)控制“大腦”的角色，其運(yùn)行的安全可靠是保證系統(tǒng)正常的關(guān)鍵因素。通常繼電保護(hù)裝置是由大量二次板卡組成，板卡在出廠時(shí)需要進(jìn)行嚴(yán)格的篩選測(cè)試，以防止因生產(chǎn)工藝或人為因素而導(dǎo)致的運(yùn)行不可靠的問題。一方面由于繼電保護(hù)裝置配置的板卡數(shù)量較多，板卡功能也各不相同，因此在出廠測(cè)試時(shí)需要針對(duì)不同功能的板卡開展定制化的測(cè)試；另一方面，為保證出廠篩選的可靠性，被試品需要在高低溫的環(huán)境中進(jìn)行長時(shí)間的測(cè)試，并且需要專門測(cè)試人員對(duì)被測(cè)板卡的狀態(tài)信息進(jìn)行實(shí)時(shí)的記錄，因此繼電保護(hù)二次板卡的出廠測(cè)試存在試驗(yàn)項(xiàng)目多、測(cè)試周期長的情況?，F(xiàn)階段，采用傳統(tǒng)的人工篩選的形式，存在效率低、誤通過率高和人力成本高的缺點(diǎn)。
2、因此需要一套能夠?qū)Χ伟蹇ㄟM(jìn)行自動(dòng)篩選的測(cè)試方法，以滿足繼電保護(hù)裝置的出廠需求。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決現(xiàn)有技術(shù)中采用人工方式進(jìn)行二次板卡篩選導(dǎo)致效率低以及誤通過率高等問題，本專利技術(shù)提出了一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置及方法。
2、第一方面，提供一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置，包括：
3、電源轉(zhuǎn)換模塊，所述電源轉(zhuǎn)換模塊與板卡測(cè)試模塊連接，用于基于所述板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡的基本信息輸出對(duì)應(yīng)的輸出電壓；
4、板卡測(cè)試模塊，所述板卡測(cè)試模塊還與后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊連接，用于將所述輸出電壓傳輸至所述板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡，并將所述輸出電
5、后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊，用于對(duì)所述板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡測(cè)試狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，并基于接收到的所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)生成板卡測(cè)試報(bào)告。
6、優(yōu)選地，所述待測(cè)二次板卡，包括：
7、電源板，所述電源板上端與所述電源轉(zhuǎn)換模塊連接并通過所述電源板下端以及背板給接口板以及核心板供電；
8、背板，用于實(shí)現(xiàn)輸出電壓的分配以及接口板與核心板之間的數(shù)據(jù)交互；
9、接口板，用于將所述電源板和/或接口板對(duì)應(yīng)的板卡測(cè)試狀態(tài)數(shù)據(jù)通過所述背板發(fā)送至核心板；
10、核心板，用于打包所述接口板發(fā)送的板卡測(cè)試狀態(tài)數(shù)據(jù)，并通過高速光口將所述板卡測(cè)試狀態(tài)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊。
11、優(yōu)選地，所述電源轉(zhuǎn)換模塊，包括：
12、多路電壓輸出電路，所述多路電壓輸出電路一端均與所述電源轉(zhuǎn)換模塊連接，另一端分別與所述板卡測(cè)試模塊中每個(gè)待測(cè)二次板卡對(duì)應(yīng)的電源板連接，用于向所述板卡測(cè)試模塊中不同待測(cè)二次板卡的輸出電壓的傳輸。
13、第二方面，本專利技術(shù)提供一種二次板卡批量篩選測(cè)試方法，包括：
14、獲取板卡測(cè)試模塊中待測(cè)二次板卡的基本信息，基于所述待測(cè)二次板卡的基本信息確定板卡測(cè)試需求；
15、通過電源轉(zhuǎn)換模塊基于所述板卡測(cè)試需求配置所述待測(cè)二次板卡的輸出電壓；
16、通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊基于所述板卡測(cè)試需求以及所述輸出電壓配置所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)，并采集所述待測(cè)二次板卡基于所述測(cè)試配置狀態(tài)生成的板卡測(cè)試數(shù)據(jù)，基于所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)生成板卡測(cè)試報(bào)告。
17、優(yōu)選地，所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)，包括下述的一種或多種：
18、所述待測(cè)二次板卡的光口狀態(tài)、光口數(shù)據(jù)通信、背板總線通信狀態(tài)、實(shí)時(shí)供電電壓、電源板卡狀態(tài)信息或板卡溫度大小。
19、優(yōu)選地，所述通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊基于所述板卡測(cè)試需求以及所述輸出電壓配置所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)，包括：
20、通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊基于所述板卡測(cè)試需求以及所述輸出電壓確定所述待測(cè)二次板卡的板卡配置信息；
21、基于所述板卡配置信息對(duì)所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)進(jìn)行配置；
22、其中，所述板卡配置信息包括板卡數(shù)量以及板卡種類。
23、優(yōu)選地，所述基于所述板卡配置信息對(duì)所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)進(jìn)行配置之后，還包括：
24、檢測(cè)所述待測(cè)二次板卡的光纖是否連接；
25、若否，則重新連接所述待測(cè)二次板卡的光纖；
26、若是，則結(jié)束。
27、優(yōu)選地，所述采集所述待測(cè)二次板卡基于所述測(cè)試配置狀態(tài)生成的板卡測(cè)試數(shù)據(jù)之后，還包括：
28、判斷所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)測(cè)試告警條件；
29、當(dāng)確定所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)滿足預(yù)設(shè)測(cè)試告警條件時(shí)，生成板卡測(cè)試告警通知。
30、再一方面，本申請(qǐng)還提供了一種電子設(shè)備，包括：至少一個(gè)處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器和處理器通過總線相連；
31、所述存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序；
32、當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如上述所述的一種二次板卡批量篩選測(cè)試方法。
33、再一方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如上述所述的一種二次板卡批量篩選測(cè)試方法。
34、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)的有益效果為：
35、本專利技術(shù)提供了一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置及方法，該裝置包括與電源轉(zhuǎn)換模塊連接的板卡測(cè)試模塊以及與該板卡測(cè)試模塊連接的后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊，通過該電源轉(zhuǎn)換模塊基于板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡的基本信息輸出對(duì)應(yīng)的輸出電壓，再通過該板卡測(cè)試模塊將輸出電壓傳輸至板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡，進(jìn)而將該輸出電壓通過待測(cè)二次板卡后生成的板卡測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送至后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊，通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊對(duì)板卡測(cè)試模塊中的待測(cè)二次板卡測(cè)試狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，并基于接收到的板卡測(cè)試數(shù)據(jù)生成板卡測(cè)試報(bào)告。通過本專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)針對(duì)二次板卡的批量性測(cè)試篩選，并實(shí)現(xiàn)對(duì)二次板卡狀態(tài)信息的準(zhǔn)確識(shí)別，縮短二次板卡篩選時(shí)間的同時(shí)保證篩選測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述待測(cè)二次板卡，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電源轉(zhuǎn)換模塊，包括：
4.一種二次板卡批量篩選測(cè)試方法，其特征在于，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)，包括下述的一種或多種：
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊基于所述板卡測(cè)試需求以及所述輸出電壓配置所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述板卡配置信息對(duì)所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)進(jìn)行配置之后，還包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述采集所述待測(cè)二次板卡基于所述測(cè)試配置狀態(tài)生成的板卡測(cè)試數(shù)據(jù)之后，還包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：至少一個(gè)處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器和處理器通過總線相連；
10.一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，其上存有執(zhí)行程序，所述執(zhí)行程序被執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種二次板卡批量篩選測(cè)試裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述待測(cè)二次板卡，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電源轉(zhuǎn)換模塊，包括：
4.一種二次板卡批量篩選測(cè)試方法，其特征在于，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述板卡測(cè)試數(shù)據(jù)，包括下述的一種或多種：
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述通過后臺(tái)監(jiān)測(cè)模塊基于所述板卡測(cè)試需求以及所述輸出電壓配置所述待測(cè)二次板卡的測(cè)試配置狀態(tài)，包括...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李啟晨，李甲飛，楊岳峰，楊立，王宇紅，陳東，張麗坤，程春和，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中電普瑞電力工程有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。