一種待測板功能測試的信號發生卡制造技術

本技術公開了一種待測板功能測試的信號發生卡，包括兩組波形發生模塊、一組數模轉換模塊和兩組濾波運放系統，每組所述的波形發生模塊的輸入端由SPI通信控制，且每組所述的波形發生模塊的輸出端均與一組濾波運放系統的輸入端連接，所述濾波運放系統的輸出端連接檢測輸出端；所述數模轉換模塊的輸出端分別與每組所述的濾波運放系統的輸出端連接；本技術采用了I2C和SPI通信協議，實現了低頻和射頻模塊靈活的通信和切換，滿足所需產生低頻和射頻信號的需要，頻率范圍廣且穩定性高，通信協議總線性能強且密度高，提高了信號合成與處理的效率，從而大大簡化了設計，使設備體積小，布局集中、統一控制、節省資源。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及自動化測試相關，具體為一種待測板功能測試的信號發生卡。

技術介紹

1、在自動化測試領域，需要提供穩定寬頻域的信號源對服務器主板、大型交換機等dut進行功能測試，針對不同dut的功能和特性的差異，需要提供高低不同頻率的信號對dut進行測試，因此信號源需具備提供寬頻域信號的能力。現有的技術根據待測板的需要提供單一的低頻或高頻信號源，或獨立提供低頻或射頻信號源，沒有將低頻和射頻信號源集成在板卡上，控制相對獨立，在通信上需要更多的考慮，布局離散，浪費了大量的資源，因此亟待提出一種寬頻域的信號發生卡解決以上的問題。

技術實現思路

1、為解決現有技術存在沒有將低頻和射頻信號源集成在板卡上，控制相對獨立，在通信上需要更多的考慮，布局離散，浪費了大量的資源的缺陷，本技術提供一種待測板功能測試的信號發生卡。

2、為了解決上述技術問題，本技術提供了如下的技術方案：

3、本技術一種待測板功能測試的信號發生卡，包括兩組波形發生模塊、一組數模轉換模塊和兩組濾波運放系統，每組所述的波形發生模塊的輸入端由spi通信控制，且每組所述的波形發生模塊的輸出端均與一組濾波運放系統的輸入端連接，所述濾波運放系統的輸出端連接檢測輸出端；所述數模轉換模塊的輸入端由i2c通信控制，所述數模轉換模塊的輸出端分別與每組所述的濾波運放系統的輸出端連接。

4、作為本技術的一種優選技術方案，所述濾波運放系統包括第一濾波運放模塊、第二濾波運放模塊和第三濾波運放模塊，所述第一濾波運放模塊、第二濾波運放模塊的輸出端與第三濾波運放模塊的輸入端連接，且所述第三濾波運放模塊的輸出端連接檢測輸出端；所述第一濾波運放模塊的輸入端與一組波形發生模塊連接；所述第二濾波運放模塊的輸入端與數模轉換模塊的輸出端連接。

5、作為本技術的一種優選技術方案，所述第一濾波運放模塊和第三濾波運放模塊的型號均為ad8066arz，所述第二濾波運放模塊的型號均為ada4522-2arz。

6、作為本技術的一種優選技術方案，還包括射頻合成模塊、時鐘模塊、io拓展模塊、兩組緩沖器模塊、兩組衰減器模塊和兩組rf80射頻模塊；

7、所述射頻合成模塊的輸入端口sdi和sck分別與spi通信的mosi和sclk信號連接，所述時鐘模塊的輸入端口sda和scl分別與i2c通信的sda和scl信號連接，所述時鐘模塊的輸出端口outp和uotn分別與射頻合成模塊的oscinp和oscinm端口連接，所述io拓展模塊的sda和scl輸入端口分別與i2c通信的sda和scl信號連接，io拓展模塊的i/o1.0端口與緩沖器模塊的1oe端口連接，i/o1.1端口與緩沖器模塊的2oe端口連接，緩沖器模塊的i/o0.0端口與另外一組衰減器模塊的1oe端口連接，所述射頻合成模塊的輸出端與兩組衰減器模塊的輸入端連接，且所述衰減器模塊的輸出端口rfout分別與兩組rf80射頻模塊的1號端口連接。

8、作為本技術的一種優選技術方案，所述時鐘模塊為時鐘振蕩器電路，型號lmk61e2-siar，所述射頻合成模塊為型號lmx2592。

9、作為本技術的一種優選技術方案，所述緩沖器模塊為sn74sn74ahct244型號。

10、作為本技術的一種優選技術方案，所述i/o拓展模塊為cat9555型號，所述衰減器模塊為maad-011021型號。

11、本技術的有益效果是：

12、該種待測板功能測試的信號發生卡采用了i2c和spi通信協議，實現了低頻和射頻模塊靈活的通信和切換，滿足所需產生低頻和射頻信號的需要，頻率范圍廣且穩定性高，通信協議總線性能強且密度高，提高了信號合成與處理的效率，從而大大簡化了設計，使設備體積小，布局集中、統一控制、節省資源。

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【技術保護點】

1.一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，包括兩組波形發生模塊(1)、一組數模轉換模塊(2)和兩組濾波運放系統(3)，每組所述的波形發生模塊(1)的輸入端由SPI通信控制，且每組所述的波形發生模塊(1)的輸出端均與一組濾波運放系統(3)的輸入端連接，所述濾波運放系統(3)的輸出端連接檢測輸出端；所述數模轉換模塊(2)的輸入端由I2C通信控制，所述數模轉換模塊(2)的輸出端分別與每組所述的濾波運放系統(3)的輸出端連接。

2.根據權利要求1所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述濾波運放系統(3)包括第一濾波運放模塊(301)、第二濾波運放模塊(302)和第三濾波運放模塊(303)，所述第一濾波運放模塊(301)、第二濾波運放模塊(302)的輸出端與第三濾波運放模塊(303)的輸入端連接，且所述第三濾波運放模塊(303)的輸出端連接檢測輸出端；所述第一濾波運放模塊(301)的輸入端與一組波形發生模塊(1)連接；所述第二濾波運放模塊(302)的輸入端與數模轉換模塊(2)的輸出端連接。

3.根據權利要求2所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述第一濾波運放模塊(301)和第三濾波運放模塊(303)的型號均為AD8066ARZ，所述第二濾波運放模塊(302)的型號均為ADA4522-2ARZ。

4.根據權利要求1所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，還包括射頻合成模塊(4)、時鐘模塊(5)、IO拓展模塊(6)、兩組緩沖器模塊(7)、兩組衰減器模塊(8)和兩組RF80射頻模塊(9)；

5.根據權利要求4所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述時鐘模塊(5)為時鐘振蕩器電路，型號LMK61E2-SIAR，所述射頻合成模塊(4)為型號LMX2592。

6.根據權利要求4所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述緩沖器模塊(7)為SN74SN74AHCT244型號。

7.根據權利要求4所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述I/O拓展模塊(6)為CAT9555型號，所述衰減器模塊(8)為MAAD-011021型號。

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【技術特征摘要】

1.一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，包括兩組波形發生模塊(1)、一組數模轉換模塊(2)和兩組濾波運放系統(3)，每組所述的波形發生模塊(1)的輸入端由spi通信控制，且每組所述的波形發生模塊(1)的輸出端均與一組濾波運放系統(3)的輸入端連接，所述濾波運放系統(3)的輸出端連接檢測輸出端；所述數模轉換模塊(2)的輸入端由i2c通信控制，所述數模轉換模塊(2)的輸出端分別與每組所述的濾波運放系統(3)的輸出端連接。

2.根據權利要求1所述的一種待測板功能測試的信號發生卡，其特征在于，所述濾波運放系統(3)包括第一濾波運放模塊(301)、第二濾波運放模塊(302)和第三濾波運放模塊(303)，所述第一濾波運放模塊(301)、第二濾波運放模塊(302)的輸出端與第三濾波運放模塊(303)的輸入端連接，且所述第三濾波運放模塊(303)的輸出端連接檢測輸出端；所述第一濾波運放模塊(301)的輸入端與一組波形發生模塊(1)連接；所述第二濾波運放模塊(302)的輸入端與數模轉換模塊(2)的輸出端連接。

3.根...

【專利技術屬性】
技術研發人員：梅燃燃，袁敏康，袁承范，孫德滔，楊丹，吳洪升，梅浩，楊進林，蔡西旭，羅海波，
申請(專利權)人：深圳市微特精密科技股份有限公司，
類型：新型
國別省市：