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    一種驅(qū)動基板電路檢測裝置及方法制造方法及圖紙

    技術(shù)編號:44302712 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-02-18 20:20
    本申請涉及一種驅(qū)動基板電路檢測裝置及方法,所述裝置包括中空板體,所述中空板體包括相對的第一側(cè)和第二側(cè),所述第一側(cè)與所述第二側(cè)合圍形成中空區(qū)域,所述第一側(cè)設(shè)置導(dǎo)電層;顯示檢測層,所述顯示檢測層位于所述中空區(qū)域內(nèi),所述顯示檢測層包括懸浮液,以及摻雜在所述懸浮液中電性相同的帶電粒子;所述帶電粒子靠近所述第一側(cè)時,在所述懸浮液的表面以從所述第一側(cè)顯現(xiàn);所述帶電粒子靠近所述第二側(cè)時,在所述懸浮液與所述表面相對的底面且從所述第一側(cè)不顯現(xiàn)。檢測簡單快捷、效率高,且檢測的準(zhǔn)確度也高,也減少了資源浪費,檢測裝置還可多次重復(fù)使用,節(jié)約了檢測成本。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本申請涉及l(fā)ed顯示領(lǐng)域,尤其涉及一種驅(qū)動基板電路檢測裝置及方法


    技術(shù)介紹

    1、在顯示面板的制作過程中,需在驅(qū)動基板上鍵合led芯片,驅(qū)動基板上設(shè)有驅(qū)動led芯片發(fā)光的驅(qū)動電路,驅(qū)動電路包括與led芯片鍵合的多個電極。目前,驅(qū)動基板上電路的檢測是在驅(qū)動基板上鍵合好led芯片后,驅(qū)動led芯片發(fā)光,根據(jù)led芯片的發(fā)光情況來確定驅(qū)動基板的電路有無異常。檢測的效率低、成本高,且檢測易受到鍵合工藝及l(fā)ed芯片質(zhì)量的影響,檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度較低。

    2、因此,如何提高驅(qū)動基板電路檢測的準(zhǔn)確度是亟需解決的問題。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、鑒于上述相關(guān)技術(shù)的不足,本申請的目的在于提供一種驅(qū)動基板電路檢測裝置及方法,旨在解決驅(qū)動基板電路檢測的準(zhǔn)確度較低的問題。

    2、一種驅(qū)動基板電路檢測裝置,包括:

    3、中空板體,所述中空板體包括相對的第一側(cè)和第二側(cè),所述第一側(cè)與所述第二側(cè)合圍形成中空區(qū)域,所述第一側(cè)設(shè)置導(dǎo)電層;

    4、顯示檢測層,所述顯示檢測層位于所述中空區(qū)域內(nèi),所述顯示檢測層包括懸浮液,以及摻雜在所述懸浮液中電性相同的帶電粒子;

    5、所述帶電粒子靠近所述第一側(cè)時,在所述懸浮液的表面以從所述第一側(cè)顯現(xiàn),所述帶電粒子靠近所述第二側(cè)時,在所述懸浮液與所述表面相對的底面且從所述第一側(cè)不顯現(xiàn)。

    6、上述驅(qū)動基板電路檢測裝置中,顯示檢測層中的帶電粒子可以在電場的作用下移動,檢測時,將該檢測裝置置于驅(qū)動基板上,驅(qū)動基板靠近中空板體的第一側(cè)。對導(dǎo)電層施加第一電壓,對驅(qū)動基板上的電極施加第二電壓,第二電壓大于第一電壓,且第一電壓、第二電壓的電性相同,第一電壓與第二電壓之間可產(chǎn)生電場。在電路正常,即各電極均正常通電時,處于與電極對應(yīng)的各電場中的帶電粒子會均在懸浮液表面從第一側(cè)顯現(xiàn),或者與電極對應(yīng)的各電場中的帶電粒子會均在懸浮液底面從第一側(cè)不顯現(xiàn),此時從第一側(cè)可觀察到顯現(xiàn)的帶電粒子形成的圖案呈規(guī)則排列。在電路不正常,存在不正常通電的電極時,不正常通電的電極與導(dǎo)電層之間的電場會發(fā)生變化,使得位于不正常通電的電極與導(dǎo)電層之間的帶電粒子,相比于其它正常電極的電場中帶電粒子呈反向移動,應(yīng)該顯現(xiàn)的部分沒有帶電粒子顯現(xiàn),或不應(yīng)該顯現(xiàn)的部分顯現(xiàn)了帶電粒子,此時從第一側(cè)可觀察到顯現(xiàn)的帶電粒子形成的圖案呈不規(guī)則排列,即可判定電路不正常。將檢測裝置置于驅(qū)動基板上,再施加電壓即可進行檢測,檢測簡單快捷、效率高。且在鍵合led芯片之前便可對驅(qū)動基板進行檢測,檢測結(jié)果不會受到鍵合工藝及l(fā)ed芯片質(zhì)量的影響,檢測的準(zhǔn)確度高,可有效剔除異常的驅(qū)動基板,避免了在異常驅(qū)動基板上鍵合led芯片的情況,減少了資源浪費。并且,該檢測裝置可多次重復(fù)使用,節(jié)約了檢測成本。

    7、基于同樣的專利技術(shù)構(gòu)思,本申請還提供一種驅(qū)動基板電路檢測方法,包括:

    8、將如上所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置置于待檢測的驅(qū)動基板上,所述驅(qū)動基板靠近所述中空板體的所述第二側(cè);

    9、對所述導(dǎo)電層施加第一電壓,并對所述驅(qū)動基板上的各電極施加第二電壓,所述帶電粒子在所述第一電壓、所述第二電壓產(chǎn)生的電場作用下移動,所述第一電壓與所述第二電壓的電性相同,且所述第二電壓大于所述第一電壓;

    10、根據(jù)移動至所述懸浮液的表面以從所述第一側(cè)顯現(xiàn)的帶電粒子的顯示結(jié)果確定出檢測結(jié)果。

    11、上述驅(qū)動基板電路檢測方法,根據(jù)移動至懸浮液的表面從第一側(cè)顯現(xiàn)的帶電粒子的顯示結(jié)果便可確定出檢測結(jié)果。在電路不正常,存在不正常通電的電極時,不正常通電的電極與導(dǎo)電層之間的電場會發(fā)生變化,使得位于不正常通電的電極與導(dǎo)電層之間的帶電粒子,相比于其它正常電極的電場中帶電粒子呈反向移動,應(yīng)該顯現(xiàn)的部分沒有帶電粒子顯現(xiàn),或不應(yīng)該顯現(xiàn)的部分顯現(xiàn)了帶電粒子,此時從第一側(cè)可觀察到顯現(xiàn)的帶電粒子形成的圖案呈不規(guī)則排列,即可判定電路不正常。將檢測裝置置于驅(qū)動基板上,再施加電壓即可進行檢測,檢測簡單快捷、效率高。且在鍵合led芯片之前便可對驅(qū)動基板進行檢測,檢測結(jié)果不會受到鍵合工藝及l(fā)ed芯片質(zhì)量的影響,檢測的準(zhǔn)確度高,可有效剔除異常的驅(qū)動基板,避免了在異常驅(qū)動基板上鍵合led芯片的情況,減少了資源浪費。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護點】

    1.一種驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述中空板體包括位于所述第一側(cè)的呈透明設(shè)置的第一基板,以及位于所述第二側(cè)的第二基板,所述第一基板與所述第二基板封裝在一起以合圍形成所述中空區(qū)域。

    3.如權(quán)利要求2所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電層為透明設(shè)置且整層設(shè)于所述第一基板遠離所述第二基板的一面。

    4.如權(quán)利要求1-3任一項所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述顯示檢測層包括多個獨立的隔離腔室,所述懸浮液、所述帶電粒子設(shè)于所述隔離腔室內(nèi)。

    5.如權(quán)利要求4所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述隔離腔室的形狀為圓球形狀。

    6.如權(quán)利要求1-3任一項所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述帶電粒子包括熒光粒子,所述懸浮液包括遮光液體。

    7.一種驅(qū)動基板電路檢測方法,其特征在于,包括:

    8.如權(quán)利要求7所述的驅(qū)動基板電路檢測方法,其特征在于,所述第一電壓、所述第二電壓的電性,與所述帶電粒子的電性相反,所述對所述導(dǎo)電層施加第一電壓之后,并對所述驅(qū)動基板上的各電極施加第二電壓之前,包括:

    9.如權(quán)利要求7所述的驅(qū)動基板電路檢測方法,其特征在于,所述第一電壓、所述第二電壓的電性,與所述帶電粒子的電性相同,所述對所述導(dǎo)電層施加第一電壓之后,并對所述驅(qū)動基板上的各電極施加第二電壓之前,包括:

    10.如權(quán)利要求7-9任一項所述的驅(qū)動基板電路檢測方法,其特征在于,所述帶電粒子為熒光粒子,所述懸浮液為遮光液體;所述根據(jù)移動至所述懸浮液的表面以從所述第一側(cè)顯現(xiàn)的帶電粒子的顯示結(jié)果確定出檢測結(jié)果包括:

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述中空板體包括位于所述第一側(cè)的呈透明設(shè)置的第一基板,以及位于所述第二側(cè)的第二基板,所述第一基板與所述第二基板封裝在一起以合圍形成所述中空區(qū)域。

    3.如權(quán)利要求2所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電層為透明設(shè)置且整層設(shè)于所述第一基板遠離所述第二基板的一面。

    4.如權(quán)利要求1-3任一項所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述顯示檢測層包括多個獨立的隔離腔室,所述懸浮液、所述帶電粒子設(shè)于所述隔離腔室內(nèi)。

    5.如權(quán)利要求4所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述隔離腔室的形狀為圓球形狀。

    6.如權(quán)利要求1-3任一項所述的驅(qū)動基板電路檢測裝置,其特征在于,所述帶電...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:靳春明林建宏
    申請(專利權(quán))人:重慶康佳光電科技有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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