【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及x射線測(cè)量的，具體涉及一種用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置。
技術(shù)介紹
1、在相關(guān)技術(shù)中，加速器中的x射線由高能電子打靶產(chǎn)生，x射線具有束流強(qiáng)度大和穩(wěn)定性較強(qiáng)的特點(diǎn)，x射線可用于小型動(dòng)物的臨床前放射生物學(xué)實(shí)驗(yàn)、皮膚淺表和術(shù)中的臨床放射治療。同時(shí)，可用于表面工業(yè)輻照，比如材料表面改性，物品表面細(xì)菌病毒蟲(chóng)害等的消殺，食品的輻照殺菌以及貨物車輛的安全檢查等方面。x射線對(duì)人們的生產(chǎn)生活具有重大意義，而x射線的能譜對(duì)于成像效果、作用物反應(yīng)及輻射防護(hù)劑量的計(jì)算起到?jīng)Q定作用。
2、x射線束流強(qiáng)度大的特點(diǎn)使得利用傳統(tǒng)探測(cè)器通過(guò)逐個(gè)測(cè)量單光子能量并計(jì)數(shù)的方法難以實(shí)現(xiàn)，這是因?yàn)閭鹘y(tǒng)譜儀分辨時(shí)間有限，強(qiáng)束流情形下，一個(gè)分辨時(shí)間內(nèi)會(huì)有大量光子入射靈敏體積，使得該分辨時(shí)間內(nèi)的靈敏體積的劑量不能反映單光子的能量。
3、目前常用的x射線測(cè)量方法包括衰減透射法、熒光法和康普頓散射法，以上方法中，衰減透射法和熒光法的能量分辨率有限且解譜難度較大，無(wú)法做到對(duì)加速器x射線能量的精準(zhǔn)測(cè)量，只有康普頓散射法具有較高的分辨率和可測(cè)能量范圍。但現(xiàn)有的康普頓散射法所用的設(shè)備較復(fù)雜、成本較高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)的目的在于提供一種用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，用以解決現(xiàn)有康普頓散射法中設(shè)備成本較高的問(wèn)題。
2、為此，本技術(shù)的實(shí)施例提出一種用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置。
3、根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，包括：箱體，所述箱體上設(shè)置有入射口；反應(yīng)靶，所述反應(yīng)靶設(shè)置在所述箱
4、根據(jù)本技術(shù)的檢測(cè)裝置，通過(guò)在反應(yīng)靶的后方設(shè)置環(huán)形電離室，環(huán)形電離室中具有多個(gè)環(huán)形腔室，其中，每一個(gè)環(huán)形腔室可能無(wú)法準(zhǔn)確探測(cè)特定立體角范圍內(nèi)的電子能量，但是可以得到各環(huán)形腔室信號(hào)之間的比值，根據(jù)公開(kāi)的反沖電子的能量與角度的分布關(guān)系表就可以反推出x射線的能量。本技術(shù)的檢測(cè)裝置其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本較低。
5、在一些實(shí)施例中，所述反應(yīng)靶的材質(zhì)為低原子數(shù)材料。
6、在一些實(shí)施例中，所述反應(yīng)靶的外周輪廓為圓板形。
7、在一些實(shí)施例中，所述發(fā)射組件發(fā)射的x射線的延長(zhǎng)線依次穿過(guò)所述反應(yīng)靶和所述環(huán)形電離室的中心。
8、在一些實(shí)施例中，所述用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置還包括距離檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述距離檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述箱體內(nèi)，所述距離檢測(cè)機(jī)構(gòu)用于檢測(cè)所述反應(yīng)靶與所述環(huán)形電離室之間的間距。
9、在一些實(shí)施例中，所述用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置還包括數(shù)據(jù)處理器，所述數(shù)據(jù)處理器與所述檢測(cè)組件相連，所述數(shù)據(jù)處理器用于接受每一個(gè)所述環(huán)形腔室中的電子能量的數(shù)值，并計(jì)算每一個(gè)所述環(huán)形腔室中的電子能量的比值。
10、在一些實(shí)施例中，所述環(huán)形件的材質(zhì)為導(dǎo)電材料，所述環(huán)形件與高壓電流相連。
11、在一些實(shí)施例中，所述用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置還包括高壓電流箱，所述高壓電流箱通過(guò)導(dǎo)線與所述環(huán)形件相連。
12、應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，而非限制本公開(kāi)。根據(jù)下面參考附圖對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明，本公開(kāi)的其它特征及方面將更清楚。
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1.一種用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于X射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括：
【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于x射線測(cè)量的檢測(cè)裝置，其特征在于，
5.根據(jù)權(quán)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王傳璟，裘家琪，王健，韓運(yùn)生，魏少華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：北京華清加高能電子科技有限公司，
類型：新型
國(guó)別省市：
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