本發明專利技術公開了一種光固化3D打印機的檢測方法、裝置、設備及存儲介質，所述方法包括：設定一個用于測試的3D測試模型；根據3D測試模型，進行逐層光固化3D打印，并通過目標傳感器記錄每層光固化3D打印時的實際打印參數；通過三維光學掃描儀對打印完成的模型產品進行尺寸測量，得到各打印層的實際尺寸；計算各打印層的實際尺寸與理論尺寸之間的尺寸誤差，并計算實際打印參數與理論打印參數之間的參數誤差；基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3D打印機的打印質量檢測結果。本發明專利技術能夠準確評估和量化光固化3D打印機的打印精度和一致性，從而確定其整體打印質量水平。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及3d打印，尤其涉及一種光固化3d打印機的檢測方法、裝置、設備及存儲介質。
技術介紹
1、現代光固化3d打印技術已經能夠實現精細化和高精度的三維實體制造，尤其是在立體光固化成型(sla,stereolithography)領域中，打印機依靠精確控制的光源系統將液態光敏樹脂逐層固化以構建復雜的三維物體。為了確保打印質量，現有的光固化3d打印機不僅需要先進的硬件配置如精密的打印平臺、光路系統和控制單元，還需要嚴謹的質量檢測手段。
2、盡管現有的光固化3d打印機在技術上已經能夠實現高度自動化和參數監控，但在實際操作中如何有效建立一套全面、精準且易于實施的3d打印質量檢測體系，以便于準確評估和反饋打印機在連續打印過程中的穩定性和精度保持能力，仍然是該領域面臨的一個重要技術挑戰。特別是在復雜變化的層厚和橫截面積條件下，如何通過優化檢測模型設計和參數調整策略，進一步提高打印機對于各種打印條件的適應性以及最終產品的質量一致性，是一個亟待解決的關鍵技術問題。
技術實現思路
1、本專利技術實施例提供一種光固化3d打印機的檢測方法、裝置、設備及存儲介質，能夠準確評估和量化光固化3d打印機的打印精度和一致性，從而確定其整體打印質量水平。
2、本專利技術一實施例提供一種光固化3d打印機的檢測方法，包括：
3、設定一個用于測試的3d測試模型；所述3d測試模型的各打印層厚度相同，所述各打印層的的橫截面為正方形，且所述各打印層的橫截面積從上到下依次增大；
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p>4、根據3d測試模型，進行逐層光固化3d打印，并通過目標傳感器記錄每層光固化3d打印時的實際打印參數；實際打印參數包括實際曝光時間和實際曝光光強；5、通過三維光學掃描儀對打印完成的模型產品進行尺寸測量，得到各打印層的實際尺寸；實際尺寸包括實際厚度、實際長度和實際寬度；
6、計算各打印層的實際尺寸與理論尺寸之間的尺寸誤差，并計算實際打印參數與理論打印參數之間的參數誤差；
7、基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果。
8、作為上述方案的改進，所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果，包括：
9、根據各打印層的尺寸誤差和參數誤差并按照以下計算公式來計算各打印層的綜合誤差系數：en＝αd·|δdn|+αl·|δln|+αw·|δwn|+βt·δtn|+βi·|δin|，其中，αd，αl，αw，βt，βi分別表示各個尺寸誤差和各個參數誤差對應的且預設的權重系數，δdn為尺寸誤差中的厚度誤差，δln為尺寸誤差中的長度誤差，δwn為尺寸誤差中的寬度誤差，δtn為參數誤差中的曝光時間誤差，δin為參數誤差中的曝光光強誤差；
10、若所述打印層的相關誤差不滿足以下誤差合格條件，則該打印層的打印質量不符合要求；所述誤差合格條件包括：所述綜合誤差系數小于預設誤差系數閾值，且所述尺寸誤差和所述參數誤差兩者的各個誤差均小于預設的誤差閾值；
11、若所述打印層的相關誤差滿足所述誤差合格條件，則該打印層的打印質量符合要求。
12、作為上述方案的改進，在所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果之后，所述方法還包括：
13、收集各打印層的打印數據樣本；打印數據樣本包括：理論尺寸、尺寸誤差、理論打印參數和參數誤差；
14、利用多次收集的打印數據樣本進行用于糾正各個打印層的打印誤差的打印誤差糾正模型訓練，得到訓練好的打印誤差糾正模型；
15、在進行實際3d模型的打印過程中，將實際3d模型的各個打印層的理論尺寸和理論打印參數輸入至訓練好的打印誤差糾正模型中，得到修正后的理論尺寸和理論打印參數；
16、根據各個打印層的修正后的理論尺寸和理論打印參數，進行打印。
17、作為上述方案的改進，所述訓練好的打印誤差糾正模型，包括：
18、尺寸誤差es的預測模型：其中，es是維度為(3×1)的實際尺寸誤差向量；是維度為(3×3)的權重矩陣，用于從理論尺寸向量映射到尺寸誤差向量；stheo是維度為(3×1)的理論尺寸向量；是維度為(2×3)的權重矩陣，用于從理論打印參數向量映射到尺寸誤差向量；ptheo是維度為(2×1)的理論打印參數向量；bs是與尺寸誤差預測相關的偏置向量；
19、參數誤差ep的預測模型：其中，ep表示待打印層新的參數誤差預測向量，包含了預測的曝光時間和光源強度誤差；是維度為(2×3)的權重矩陣，用于從理論尺寸向量映射到參數誤差預測向量；是維度為(2×2)的權重矩陣，用于從理論打印參數向量映射到參數誤差預測向量；bp是與參數誤差預測相關的偏置向量；stheo是維度為(3×1)的理論尺寸向量；ptheo是維度為(2×1)的理論打印參數向量；
20、理論尺寸修正模型：scorr＝stheo-es；
21、理論打印參數修正模型：pcorr＝ptheo-ep；
22、其中，在實際應用過程中，輸入待打印層的理論尺寸和理論打印參數，通過上面訓練好的打印誤差糾正模型來計算出預測誤差并以此進行修正理論值的計算，從而得到修正后的理論尺寸和理論打印參數。
23、本專利技術另一實施例對應提供了一種光固化3d打印機的檢測裝置，包括：
24、設定模塊，用于設定一個用于測試的3d測試模型；所述3d測試模型的各打印層厚度相同，所述各打印層的的橫截面為正方形，且所述各打印層的橫截面積從上到下依次增大；
25、測試打印模塊，用于根據3d測試模型，進行逐層光固化3d打印，并通過目標傳感器記錄每層光固化3d打印時的實際打印參數；實際打印參數包括實際曝光時間和實際曝光光強；
26、測量模塊，用于通過三維光學掃描儀對打印完成的模型產品進行尺寸測量，得到各打印層的實際尺寸；實際尺寸包括實際厚度、實際長度和實際寬度；
27、計算模塊，用于計算各打印層的實際尺寸與理論尺寸之間的尺寸誤差，并計算實際打印參數與理論打印參數之間的參數誤差；
28、分析模塊，用于基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果。
29、作為上述方案的改進，所述分析模塊具體用于：
30、根據各打印層的尺寸誤差和參數誤差并按照以下計算公式來計算各打印層的綜合誤差系數：en＝αd·|δdn|+αl·|δln|+αw·|δwn|+βt·|δtn|+βi·|δin|，其中，αd，αl，αw，βt，βi分別表示各個尺寸誤差和各個參數誤差對應的且預設的權重系數，δdn為尺寸誤差中的厚度誤差，δln為尺寸誤差中的長度誤差，δωn為尺寸誤差中的寬度誤差，δtn為參數誤差中的曝光時間誤差，δin為參數誤差中的曝光光強誤差；
31、若所述打印層的相關誤差不滿足以下誤差合格條件，則該打印層的打印質量不符合要求；所述誤差合格條件本文檔來自技高網
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【技術保護點】
1.一種光固化3D打印機的檢測方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的光固化3D打印機的檢測方法，其特征在于，所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3D打印機的打印質量檢測結果，包括：
3.如權利要求1所述的光固化3D打印機的檢測方法，其特征在于，在所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3D打印機的打印質量檢測結果之后，所述方法還包括：
4.如權利要求3所述的光固化3D打印機的檢測方法，其特征在于，所述訓練好的打印誤差糾正模型，包括：
5.一種光固化3D打印機的檢測裝置，其特征在于，包括：
6.如權利要求5所述的光固化3D打印機的檢測裝置，其特征在于，所述分析模塊具體用于：
7.如權利要求5所述的光固化3D打印機的檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括：
8.如權利要求7所述的光固化3D打印機的檢測裝置，其特征在于，
9.一種光固化3D打印機的檢測設備，其特征在于，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至4中任意一項所述的光固化3D打印機的檢測方法。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的計算機程序，其中，在所述計算機程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在設備執行如權利要求1至4中任意一項所述的光固化3D打印機的檢測方法。
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【技術特征摘要】
1.一種光固化3d打印機的檢測方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的光固化3d打印機的檢測方法，其特征在于，所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果，包括：
3.如權利要求1所述的光固化3d打印機的檢測方法，其特征在于，在所述基于各打印層的尺寸誤差和參數誤差，得到光固化3d打印機的打印質量檢測結果之后，所述方法還包括：
4.如權利要求3所述的光固化3d打印機的檢測方法，其特征在于，所述訓練好的打印誤差糾正模型，包括：
5.一種光固化3d打印機的檢測裝置，其特征在于，包括：
6.如權利要求5所述的光固化3d打印機的檢測裝置，其特征在于，所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王九亮，洪英盛，曾梅煥，張勝哲，曾維棋，
申請(專利權)人：深圳市智能派科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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