【技術實現步驟摘要】
本技術涉及核電，尤其涉及一種用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置。
技術介紹
1、如圖1所示，核級施耐德配電柜100，抽屜101位于配電盤前邊，而電纜倉102處于配電盤后邊。在日常維修過程中，如需要測量抽屜101二次出線側端子與電纜倉102端子的連接有效性，由于電纜倉102處于配電盤后邊，對線時難度較大。
技術實現思路
1、本技術要解決的技術問題在于，提供一種用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置。
2、本技術解決其技術問題所采用的技術方案是：構造一種用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，包括支架，所述支架包括底板，所述底板上設有若干通槽，所述底板寬度方向上的兩側設有第一側板和第二側板，所述第一側板和所述第二側板平行間隔設置；
3、所述第一側板上設有若干第一移動輪，所述第二側板上設有若干第二移動輪，所述第一側板的至少部分還設有若干端子排，所述端子排的一端連接有線纜，所述線纜遠離所述端子排的一端設有端子。
4、在一些實施例中，所述第一側板的部分設有第一導向板，所述第一導向板設于所述第一側板背離所述第二側板的一側上，所述第一導向板上設有第一通孔，所述第一移動輪的部分位于所述第一通孔內。
5、在一些實施例中，所述第二側板的部分設有第二導向板，所述第二導向板設于所述第二側板背離所述第一側板的一側上，所述第二導向板上設有第二通孔，所述第二移動輪的部分位于所述第二通孔內。
6、在一些實施例中，所述第一側板的部分還設有第
7、在一些實施例中，所述第二側板的部分還設有第二限位板，所述第二限位板設于所述第二側板背離所述第一側板的一側上，所述第二限位板與所述第二導向板平行設置，且所述第二限位板與所述第二導向板遠離所述第二側板的側緣平齊設置。
8、在一些實施例中，所述底板的長度方向的至少一側還設有連接板，所述連接板連接所述第一側板以及所述第二側板。
9、在一些實施例中，所述第一側板包括第一子側板和第二子側板，所述第二子側板的高度大于所述第一子側板的高度，所述端子排設于所述第二子側板上。
10、在一些實施例中，所述通槽的數量為兩個。
11、在一些實施例中，所述通槽為方形槽。
12、在一些實施例中，所述支架為金屬件。
13、實施本技術具有以下有益效果：該用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置可為現場缺陷處理提供便利，減少處理時間，提高響應速度。在抽出抽屜進行試驗時，方便觀察內部元器件動作情況同時方便操作抽屜內部元器件，減少處理時間，優化工作工期。此外，有益于配電柜內二次接線的通斷，發現異常及處理。此外，該用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置結構簡單、穩定性高、制造成本低。
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1.一種用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，包括支架(10)，所述支架(10)包括底板(11)，所述底板(11)上設有若干通槽(A)，所述底板(11)寬度方向上的兩側設有第一側板(12)和第二側板(13)，所述第一側板(12)和所述第二側板(13)平行間隔設置；
2.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第一側板(12)的部分設有第一導向板(14)，所述第一導向板(14)設于所述第一側板(12)背離所述第二側板(13)的一側上，所述第一導向板(14)上設有第一通孔，所述第一移動輪(20)的部分位于所述第一通孔內。
3.根據權利要求2所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第二側板(13)的部分設有第二導向板(15)，所述第二導向板(15)設于所述第二側板(13)背離所述第一側板(12)的一側上，所述第二導向板(15)上設有第二通孔，所述第二移動輪(30)的部分位于所述第二通孔內。
4.根據權利要求3所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于
5.根據權利要求4所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第二側板(13)的部分還設有第二限位板(17)，所述第二限位板(17)設于所述第二側板(13)背離所述第一側板(12)的一側上，所述第二限位板(17)與所述第二導向板(15)平行設置，且所述第二限位板(17)與所述第二導向板(15)遠離所述第二側板(13)的側緣平齊設置。
6.根據權利要求5所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述底板(11)的長度方向的至少一側還設有連接板(18)，所述連接板(18)連接所述第一側板(12)以及所述第二側板(13)。
7.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第一側板(12)包括第一子側板(12a)和第二子側板(12b)，所述第二子側板(12b)的高度大于所述第一子側板(12a)的高度，所述端子排(40)設于所述第二子側板(12b)上。
8.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述通槽(A)的數量為兩個。
9.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述通槽(A)為方形槽。
10.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述支架(10)為金屬件。
...【技術特征摘要】
1.一種用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，包括支架(10)，所述支架(10)包括底板(11)，所述底板(11)上設有若干通槽(a)，所述底板(11)寬度方向上的兩側設有第一側板(12)和第二側板(13)，所述第一側板(12)和所述第二側板(13)平行間隔設置；
2.根據權利要求1所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第一側板(12)的部分設有第一導向板(14)，所述第一導向板(14)設于所述第一側板(12)背離所述第二側板(13)的一側上，所述第一導向板(14)上設有第一通孔，所述第一移動輪(20)的部分位于所述第一通孔內。
3.根據權利要求2所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第二側板(13)的部分設有第二導向板(15)，所述第二導向板(15)設于所述第二側板(13)背離所述第一側板(12)的一側上，所述第二導向板(15)上設有第二通孔，所述第二移動輪(30)的部分位于所述第二通孔內。
4.根據權利要求3所述的用于引出核級配電盤控制回路的二次側試驗裝置，其特征在于，所述第一側板(12)的部分還設有第一限位板(16)，所述第一限位板(16)設于所述第一側板(12)背離所述第二側板(13)的一側上，所述第一限位板(16)與所述第一導向板(14)平行設置，且所述第一限位板(16)與所述第一導向板(14)遠離所述第一側板(1...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李俊龍，肖強，劉建林，王聰，岑國飛，
申請(專利權)人：廣西防城港核電有限公司，
類型：新型
國別省市：
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