【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及量子計算機領域，尤其是涉及一種量子比特弛豫時間的確定方法及裝置。
技術介紹
1、量子比特的弛豫時間是量子比特重要的性能表征指標，量子芯片測試的過程中一般通過ramsey實驗來測量量子比特的弛豫時間，現有的測量方案是直接通過擬合函數對實驗數據進行擬合，該方案以固定采樣周期為單位擬合點，容易錯漏掉周期內的最優點，而且現有的擬合方案是一次性擬合，無法精準的確定擬合函數模型的擬合參數，從而導致擬合精度差，無法精確的測量量子比特的弛豫時間。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于提供一種高精度的量子比特弛豫時間測量方案。
2、為了實現上述目的，本專利技術一方面提供一種量子比特弛豫時間的確定方法，包括：
3、獲取ramsey實驗數據的數據集；
4、確定所述數據集中實驗數據的周期并根據所述周期確定滑動窗口的大小；
5、利用三角周期函數模型對所述數據集內每個滑動窗口內的子實驗數據進行擬合得到每個所述子實驗數據的第一標準差；
6、提取第一標準差小于或等于第一預設值的所有子實驗數據得到訓練集；
7、利用周期性衰減函數模型對所述訓練集擬合得到量子比特弛豫時間，其中，所述量子比特弛豫時間與周期性衰減函數模型的衰減周期相關。
8、可選的，確定所述數據集中實驗數據的周期并根據所述周期確定滑動窗口的大小，包括：
9、獲取所述數據集中每個實驗數據的橫坐標值和縱坐標值；
10、根據相鄰實驗數據的
11、根據所述實驗數據的走勢確定實驗數據的周期；
12、根據所述周期確定滑動窗口的大小。
13、可選的：所述第一預設值小于或等于0.5。
14、可選的：其中所述滑動窗口的大小大于或等于所述實驗數據的最大周期。
15、可選的，利用周期性衰減函數模型對所述訓練集擬合得到量子比特弛豫時間，包括：
16、將所述訓練集中的實驗數據作為輸入數據對周期性衰減函數模型進行訓練；
17、利用訓練后的周期性衰減函數模型對每個周期內的實驗數據進行擬合得到每個實驗數據的第二標準差；
18、根據第二標準差與第二預設值的大小判斷周期性衰減函數模型是否完成訓練；
19、利用完成訓練的周期性衰減函數模型確定量子比特弛豫時間。
20、可選的，所述第二預設值小于或等于0.5。
21、可選的，所述三角周期函數模型是：正弦三角函數或余弦三角函數。
22、可選的，所述余弦三角函數模型如下：
23、y1＝a2?cos(ωx+φ)+b2
24、式中，a2、b2為擬合參數，ω為振蕩角頻率，φ為相位，x為實驗數據的橫坐標值，y為實驗數據的縱坐標值。
25、可選的，所述周期性衰減函數模型為周期性指數衰減函數。
26、可選的，所述周期性指數衰減函數為：
27、
28、或
29、
30、式中，a1、a2、b1、b2為擬合參數，t2為弛豫時間，ω為振蕩角頻率，φ為相位，x、x1為訓練集中的實驗數據的兩個相鄰坐標點的橫坐標，y訓練集中的實驗數據的兩個相鄰坐標點一個坐標點的縱坐標。
31、基于同樣的專利技術構思，本專利技術還提供一種量子比特弛豫時間的確定裝置，包括：
32、獲取單元，用于獲取ramsey實驗數據的數據集；
33、確定單元，用于確定所述數據集中實驗數據的周期并根據所述周期確定滑動窗口的大小；
34、第一擬合單元，利用三角周期函數模型對所述數據集內每個滑動窗口內的子實驗數據進行擬合得到每個所述子實驗數據的第一標準差；
35、提取單元，用于提取第一標準差小于或等于第一預設值的所有子實驗數據得到訓練集；
36、第二擬合單元，用于利用周期性衰減函數模型對所述訓練集擬合得到量子比特弛豫時間，其中，所述量子比特弛豫時間與周期性衰減函數模型的衰減周期相關。
37、基于同樣的專利技術構思，本專利技術還提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上述任意一種技術方案記載的一種量子比特弛豫時間的確定方法的步驟。
38、本專利技術相對于現有技術的有益效果是：該方案以滑動窗口為單位利用三角周期函數模型對實驗數據進行擬合，可以精準找到每個周期內的擬合點，再提取出符合要求的實驗數據，最終得到精確的訓練集，再通過訓練集訓練周期性衰減函數模型，就可以得到高精度的第周期性衰減函數模型，最后通過高精度的周期性衰減函數模型就能夠得到高精度的量子比特弛豫時間。
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1.一種量子比特弛豫時間的確定方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，確定所述數據集中實驗數據的周期并根據所述周期確定滑動窗口的大小，包括：
3.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于：所述第一預設值小于或等于0.5。
4.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于：其中所述滑動窗口的大小大于或等于所述實驗數據的最大周期。
5.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，利用周期性衰減函數模型對所述訓練集擬合得到量子比特弛豫時間，包括：
6.根據權利要求5所述的確定方法，其特征在于，所述第二預設值小于或等于0.5。
7.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，所述三角周期函數模型是：正弦三角函數或余弦三角函數。
8.根據權利要求7所述的確定方法，其特征在于，所述余弦三角函數模型如下：
9.根據權利要求1或7所述的確定方法，其特征在于，所述周期性衰減函數模型為周期性指數衰減函數。
10.根據權利要求9所述的確定方法，其特征在于，所述周期性指數衰
11.一種量子比特弛豫時間的確定裝置，其特征在于，包括：
12.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至10任一項所述的一種量子比特弛豫時間的確定方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種量子比特弛豫時間的確定方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，確定所述數據集中實驗數據的周期并根據所述周期確定滑動窗口的大小，包括：
3.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于：所述第一預設值小于或等于0.5。
4.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于：其中所述滑動窗口的大小大于或等于所述實驗數據的最大周期。
5.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，利用周期性衰減函數模型對所述訓練集擬合得到量子比特弛豫時間，包括：
6.根據權利要求5所述的確定方法，其特征在于，所述第二預設值小于或等于0.5。
7.根據權利...
【專利技術屬性】
技術研發人員：請求不公布姓名，孔偉成，
申請(專利權)人：本源量子計算科技合肥股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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